Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauteils angegeben, wobei in einem Verfahrensschritt A) ein Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (2) mit einer darauf angeordneten Halbleiterschichtenfolge (10) erfolgt, welche zur Emission von Licht geeignet ist, wobei die Halbleiterschichtenfolge (10) zumindest einen Trenngraben (3) umfasst, welcher sich zumindest teilweise durch die Halbleiterschichtenfolge (10) von einer dem Aufwachssubstrat (2) abgewandten Seite (10a) der Halbleiterschichtenfolge (10) in Richtung des Aufwachssubstrats (2) erstreckt. In einem Verfahrensschritt B) erfolgt ein Anordnen einer Lackstruktur (4) im Trenngraben (3). In einem Verfahrensschritt C) erfolgt ein Anordnen eines Vergusses (6) auf der dem Aufwachssubstrat (2) abgewandten Seite (10a) der Halbleiterschichtenfolge (10), so dass der Verguss (6) mit zumindest einem Teil der Lackstruktur (4) seitlich in Kontakt ist.
Abstract:
Ein optoelektronisches Bauelement (100) umfasst eine Halbleiterschichtenfolge (1) mit einer aktiven Schicht (10), wobei die aktive Schicht (10) dazu eingerichtet ist, im bestimmungsgemäßen Betrieb elektromagnetische Strahlung zu erzeugen oder zu absorbieren. Weiter umfasst das Bauelement (100) eine erste Kontaktstruktur (11) und eine zweite Kontaktstruktur (12), über die die Halbleiterschichtenfolge (1) im bestimmungsgemäßen Betrieb elektrisch kontaktierbar ist. Im Betrieb sind die Kontaktstrukturen (11, 12) mit einer Spannung beaufschlagt, wobei sich eine betriebsbedingte Spannungsdifferenz ΔU bet zwischen den Kontaktstrukturen (11, 12) ausbildet. Bei Erhöhung der Spannungsdifferenz tritt ein erster Überschlag in oder an dem Bauelement (100) zwischen den beiden Kontaktstrukturen (11, 12) auf. Eine bei dem ersten Überschlag entstehende Funkenstrecke (3) zwischen den Kontaktstrukturen (11, 12) verläuft dabei überwiegend durch ein Umgebungsmedium in Form von Gas oder Vakuum und/oder durch einen Verguss. Der erste Überschlag tritt frühestens bei einer Spannungsdifferenz von 2∙ΔU bet auf.
Abstract:
Es wird ein Halbleiterchip (10) zum Schutz vor elektrostatischen Entladungen angegeben, mit einem Halbleiterkörper (1) mit einer ersten Hauptoberfläche (12) und einer der ersten Hauptoberfläche (12) gegenüber liegend angeordneten zweiten Hauptoberfläche (13), wobei der Halbleiterkörper (1) einen p-dotierten Teilbereich (2), der einen Teil der ersten Hauptoberfläche (12) bildet, und einen n-dotierten Teilbereich (3), der einen Teil der zweiten Hauptoberfläche (13) bildet, aufweist, und einem metallischen Kontaktelement (7), das von der ersten Hauptoberfläche (12) zur zweiten Hauptoberfläche (13) reicht und das von einem der Teilbereiche (2, 3) elektrisch getrennt ist. Weiterhin werden ein optoelektronisches Bauelement mit einem Halbleiterchip sowie ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterchips angegeben.
Abstract:
Es wird ein Schichtenstapel (20) für einen Halbleiterchip (21) angegeben, der Schichtenstapel (20) umfassend eine Halbleiterschicht (22) mit einem ersten Bereich (23), einem zweiten Bereich (24) und einem aktiven Bereich (25) zwischen dem ersten Bereich (23) und dem zweiten Bereich (24), mindestens eine Zwischenschicht (26), die die Halbleiterschicht (22) stellenweise bedeckt, und eine Seitenkante (27) der Halbleiterschicht (22), wobei sich die Seitenkante (27) quer oder senkrecht zu einer Haupterstreckungsebene des Schichtenstapels (20) erstreckt, wobei der erste Bereich (23) mit einem ersten Dotierstoff dotiert ist und der zweite Bereich (24) mit einem zweiten Dotierstoff dotiert ist, der erste Bereich (23) einen Kontaktbereich (28) aufweist, die Zwischenschicht (26) über dem Kontaktbereich (28) eine sich in einer Stapelrichtung (z) erstreckende Ausnehmung (29) aufweist, wobei die Stapelrichtung (z) senkrecht zur Haupterstreckungsebene des Schichtenstapels (20) verläuft, und der Schichtenstapel (20) eine Deckschicht (30) aufweist, welche mindestens ein Metall aufweist, wobei die Deckschicht (30) den Kontaktbereich (28), die Seitenkante (27), die Zwischenschicht (26) und Seitenwände in der Ausnehmung (29) der Zwischenschicht (26) zumindest stellenweise bedeckt. Außerdem wird ein Verfahren zur Herstellung eines Schichtenstapels (20) für einen Halbleiterchip (21) angegeben.
Abstract:
Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement (100) angegeben, umfassend einen Halbleiterkörper (1), der eine Halbleiterschichtenfolge (2) aufweist, einen Träger (10), der einen Kunststoff aufweist und eine erste Durchkontaktierung (11) und eine zweite Durchkontaktierung (12) aufweist, eine p-Kontaktschicht (6) und eine n-Kontaktschicht (8, 8A), welche zumindest bereichsweise zwischen dem Träger (10) und dem Halbleiterkörper (1) angeordnet sind, eine metallische Verstärkungsschicht (14), welche zumindest bereichsweise zwischen der n-Kontaktschicht (8, 8A) und dem Träger (10) angeordnet ist, wobei die metallische Verstärkungsschicht (14) mindestens 5 pm dick ist, und mindestens eine p-Kontaktdurchführung (7), welche zwischen der ersten Durchkontaktierung (11) und der p-Kontaktschicht (6) angeordnet ist, wobei die p-Kontaktdurchführung (7) mindestens 5 pm dick ist und in lateraler Richtung zumindest bereichsweise von der Verstärkungsschicht (14) umgeben ist. Ferner wird ein vorteilhaftes Verfahren zur Herstellung eines derartigen optoelektronischen Halbleiterbauelements (100) angegeben.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) angegeben, umfassend - eine Halbleiterschichtenfolge (2), die einen p-Typ Halbleiterbereich (3), einen n-Typ Halbleiterbereich (5) und eine zwischen dem p-Typ Halbleiterbereich (3) und dem n-Typ Halbleiterbereich (5) angeordnete aktive Schicht (4) aufweist, - eine dielektrische Passivierungsschicht (7), welche zumindest teilweise auf eine Seitenflanke (6) der Halbleiterschichtenfolge (2) aufgebracht ist und an der Seitenflanke (6) an die aktive Schicht (4) angrenzt, und - eine Stabilisierungsschicht (8), die an die dielektrische Passivierungsschicht (7) angrenzt und im Bereich des n-Typ Halbleiterbereichs (5) an die Seitenflanke (6) der Halbleiterschichtenfolge (2) angrenzt, wobei die Stabilisierungsschicht (8) ein Metall oder ein transparentes leitfähiges Oxid aufweist.
Abstract:
Optoelektronischer Halbleiterchip (100) mit einer Strahlungshauptseite (101), umfassend eine Halbleiterschichtenfolge (2), die zur Emission von Strahlung eingerichtet ist, und einen strukturierten Träger (1), der an der Strahlungshauptseite (101) abgewandten Seite des Halbleiterchips (100) angeordnet ist, wobei eine p-dotierte Halbleiterschicht (23) der Halbleiterschichtenfolge (2) mittels einer ersten Anschlussschicht (3) elektrisch kontaktiert ist und eine n-dotierte Halbleiterschicht (21) der Halbleiterschichtenfolge (2) mittels einer zweiten Anschlussschicht (4) elektrisch kontaktiert ist, und wobei die erste Anschlussschicht (3) mittels einer ersten Kontaktschicht (5) elektrisch kontaktiert ist und die zweite Anschlussschicht (4) mittels einer zweiten Kontaktschicht (6) elektrisch kontaktiert ist, wobei die erste Kontaktschicht (5) und die zweite Kontaktschicht (6) den strukturierten Träger (1) vollständig durchdringen und die erste Kontaktschicht (5) lateral beabstandet zur zweiten Kontaktschicht (6) angeordnet ist, und wobei der strukturierte Träger (1) ein stabilisierendes Material umfasst, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die einen Fotolack, ein anorganisch-organisches Hybridmaterial, ein spin-on Material, ein mittels Siebdruckverfahren aufgebrachtes Isolationsmaterial, und ein dielektrisches Material umfasst.
Abstract:
Es wird ein Leuchtdiodenchip angegeben, umfassend - einen Halbleiterkörper (1), der einen ersten (1A) und einen zweiten Bereich (1B) aufweist; - eine aktive Zone (2) innerhalb des Halbleiterkörpers (1), die im Betrieb des Leuchtdiodenchips (100) elektromagnetische Strahlung durch eine Strahlungsauskoppelfläche (11) emittiert, die zumindest stellenweise durch eine erste Hauptfläche (111) des Halbleiterkörpers (1) gebildet ist; - zumindest einen Graben (3) in dem Halbleiterkörper (1), wobei im Bereich des Grabens Teile des Halbleiterkörpers (1) entfernt sind, wobei - der zumindest eine Graben (3) zumindest bis zur aktiven Zone (2) reicht, - der zumindest eine Graben (3) den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt, und - der zweite Bereich (1B) den zumindest einen Graben (3) und den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip angegeben, mit - einem Träger (3), - einer reflektierenden Schicht (1), die ein zur Migration neigendes Metall enthält, wobei die reflektierende Schicht (1) auf dem Träger (3) angeordnet ist, - einem Halbleiterkörper (2), der an der dem Träger (3) abgewandten Seite der reflektierenden Schicht (1) angeordnet ist und die reflektierende Schicht (1) an einer Seitenfläche (1a) der reflektierenden Schicht (1) überragt, und - einer Migrationssperre (4), welche die Seitenfläche (1a) der reflektierenden Schicht (1) überdeckt, wobei die Migrationssperre (4) ein Metall enthält.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip angegeben, mit - einer ersten Kontaktstelle (1) und einer zweiten Kontaktstelle (2), - einer reflektierenden Schicht (3), die direkt elektrisch leitend an die zweite Kontaktstelle angeschlossen ist, wobei - die reflektierende Schicht ein zur Migration neigendes Metall enthält und - die reflektierende Schicht derart angeordnet ist, dass sich für das Metall ein Migrationspfad (4) zwischen der zweiten und der ersten Kontaktstelle ausbilden kann, wobei - am Halbleiterchip ein Mittel (6) vorgesehen ist, das im Betrieb des Halbleiterchips ein elektrisches Feld ausbildet, das der Migration des Metalls entgegenwirkt.