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公开(公告)号：KR101155140B1
公开(公告)日：2012-06-11
申请号：KR1020100111679
申请日：2010-11-10
IPC: H01S3/10
Abstract: 본 발명은 레이저를 사용하여 소재를 가공하는 레이저 리프트 오프장비에 관한 것으로, 보다 상세하게는 레이저 리프트 오프 장비의 레이저빔의 출력을 조절하는 레이저 감쇠기 및 상기 레이저 감쇠기 및 셔터를 포함하는 레이저 조사장치에 관하여 개시한다.
본 발명은 레이저 발진부로부터 방출되는 레이저빔의 경로상에 배치되며, 광경로의 길이 또는 입사각에 따라 투과량의 변화를 가져오는 투광성 평판패널과 상기 투광성 평판패널의 일단에 결합하여, 상기 투광성 평판패널의 각도를 조절하여 레이저빔의 입사각을 조절하는 회전부와 입사각에 따른 레이저빔의 투과량 데이터를 저장하고, 설정된 감쇠량에 따라 상기 회전부의 각도를 제어하는 제어부와 상기 투광성 평판패널 및 상기 회전부를 수납하며, 레이저빔이 통과할 수 있는 입구와 출구를 구비한 하우징을 포함하여, 상기 평판패널의 각도를 조절함으로써 레이저 발진부로부터 방출되는 레이저빔의 감쇠량을 제어하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 감쇠기를 제공한다.-
公开(公告)号：KR1020120016931A
公开(公告)日：2012-02-27
申请号：KR1020100079469
申请日：2010-08-17
Applicant: (주)큐엠씨
IPC: H01L21/68
Abstract: PURPOSE: An apparatus and a method for processing a substrate are provided to improve a processing efficiency by reducing a time requiring for processing a substrate by processing a target area in a detected substrate. CONSTITUTION: An align unit(20) aligns a substrate to determine the position thereof. The align unit comprises a plurality of support members supporting the both sides of the substrate and also includes a transport unit. The transport unit transfers the support members to be close to each other or separated from each other. A support member(211) pressing the both sides of the substrate is formed in the support member. A detecting unit(30) detects the location of a target region of the substrate. A processing unit processes the target region which is detected by the detection unit.
Abstract translation: 目的：提供一种用于处理衬底的装置和方法，以通过减少通过处理检测到的衬底中的目标区域来处理衬底的时间来提高处理效率。 构成：对准单元（20）对准衬底以确定其位置。 对准单元包括支撑基板的两侧的多个支撑构件，并且还包括输送单元。 传送单元将支撑构件彼此靠近或相互分离。 在支撑构件上形成有压靠基板两侧的支撑构件（211）。 检测单元（30）检测基板的目标区域的位置。 处理单元处理由检测单元检测到的目标区域。
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公开(公告)号：KR101091027B1
公开(公告)日：2011-12-09
申请号：KR1020110067924
申请日：2011-07-08
Applicant: (주)큐엠씨
Inventor： 최한섭
IPC: H01L33/46
CPC classification number: H01L33/0095 , H01L33/0075 , H01L33/32 , H01L33/46 , H01L2933/0025
Abstract: PURPOSE: A method for manufacturing a light emitting diode and an apparatus thereof are provided to preventing brightness from being lowered while improving the luminous efficiency of a light emitting diode by reflecting light which is generated from the inner light emitting layer of a light emitting diode and faces to a lower part, to the top part through a reflective film. CONSTITUTION: A substrate(110) is prepared in the upper part of a reflective film(100). The reflective film includes a metal layer and a DBR(Distributed Bragg Reflector) layer. The DBR(distributed bragg reflection) layer is formed by alternatively laminating a high refractive index layer and a low refractive index layer. The thickness of the low refractive index layer and the high refractive index layer is set to a thickness in which light in a specific wavelength band is maximally reflected. A function element layer(120) is prepared in the upper part of the substrate.
Abstract translation: 目的：提供一种制造发光二极管的方法及其装置，用于通过反射从发光二极管的内部发光层产生的光而提高发光二极管的发光效率，防止亮度降低;以及 面向下部，通过反射膜到顶部。 构成：在反射膜（100）的上部准备基板（110）。 反射膜包括金属层和DBR（分布式布拉格反射器）层。 通过交替地层叠高折射率层和低折射率层来形成DBR（分布式布拉格反射）层。 低折射率层和高折射率层的厚度被设定为特定波长带中的光被最大程度地反射的厚度。 在基板的上部制备功能元件层（120）。
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公开(公告)号：KR101083273B1
公开(公告)日：2011-11-14
申请号：KR1020100013254
申请日：2010-02-12
CPC classification number: G01R31/2887
Abstract: 본발명은회전장치, 회전구동방법, 및회전시스템에관한것으로, 더욱상세하게는대상물을지지하는회전부재를병진운동과함께회전운동시키는회전장치, 회전구동방법, 및회전시스템에관한것이다. 본발명은회전축을중심으로반경방향으로연장된지지프레임, 및상기지지프레임에설치되며대상물을유지시키는안착부재를포함하는회전부재와, 상기회전부재에연결된전동(傳動)부재와, 상기전동부재와연결된구동부를포함하는회전장치에있어서, 상기전동부재는, 상기구동부의회전운동을상기회전부재의단속(斷續)적인회전및 병진운동으로변환시키는것을특징으로하는회전장치를제공한다.
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公开(公告)号：KR101008846B1
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：KR1020100059448
申请日：2010-06-23
Applicant: (주)큐엠씨
Abstract: PURPOSE: An inspection apparatus for electronic devices is provided to accurately measure the optical properties of an electronic device by receiving the light emitted from the electronic device without loss. CONSTITUTION: An inspection apparatus for electronic devices comprises an optical detector(500), a support frame(200), a deformation module(400), a moving module(300), and a sensor(600). The optical detector measures the optical properties of a light emitting device. The support frame is located to face the optical detector and fixes an expansion and contraction film(40) in which the light emitting device is installed. The deformation module transforms the expansion and contraction film. The moving module transfers the support frame so that the light emitting device is located directly under the optical detector. The sensor measures the measured position of the light emitting device or the interval between the light emitting device and the optical detector.
Abstract translation: 目的：提供一种用于电子设备的检查装置，通过接收从电子设备发射的光而不损失地精确地测量电子设备的光学特性。 构成：用于电子设备的检查装置包括光学检测器（500），支撑框架（200），变形模块（400），移动模块（300）和传感器（600）。 光学检测器测量发光器件的光学特性。 支撑框架被定位成面对光学检测器并且固定其中安装有发光器件的扩张和收缩膜（40）。 变形模块可以改变膨胀和收缩薄膜。 移动模块传送支撑框架，使得发光装置位于光学检测器正下方。 传感器测量发光器件的测量位置或发光器件与光学检测器之间的间隔。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100684537B1
公开(公告)日：2007-02-20
申请号：KR1020050072694
申请日：2005-08-09
Applicant: (주)큐엠씨
IPC: H01L33/12
Abstract: 본 발명은 발광다이오드에 관한 것이다. 본 발명에 따른 발광다이오드는 도전성 기판 상에 형성된 본딩 금속층과 상기 본딩 금속층 상에 형성된 반사층과 상기 반사층 상에 형성된 발광 구조물을 포함한다. 상기 반사층 내에는 스트레스를 흡수할 수 있는 스트레스 흡수체가 형성되어 있다. 본 발명에 의하면, 반사층 내에 형성된 스트레스 흡수체에 의해서 반사층과 발광구조물이 받는 스트레스의 차이가 최소로 된다
발광다이오드, 발광구조물, 반사층, 스트레스 흡수체Abstract translation: 本发明涉及一种发光二极管。 根据本发明的发光二极管包括形成在导电衬底上的接合金属层，形成在接合金属层上的反射层以及形成在反射层上的发光结构。 在反射层中，形成能够吸收应力的应力吸收体。 根据本发明，形成在反射层中的应力吸收结构使反射层和发光结构之间的应力差最小化
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公开(公告)号：KR100653746B1
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：KR1020050058121
申请日：2005-06-30
Applicant: (주)큐엠씨
IPC: G02F1/13
Abstract: An apparatus for inspecting a display panel is provided to align a work table on which a inspected object is mounted with accuracy by locating two rotary center structures at both ends of a movable table on which the work table is located. An apparatus(100) for inspecting a display panel includes first and second supports, an X-axis moving unit(132), and an alignment unit(120). The first and second supports are located under a movable table(122) and support the movable table such that the movable table is horizontally rotated. The first and second supports are arranged distant from each other. The X-axis moving unit supports the first and second supports and is horizontally moved on an X-axis by an X-axis driver. The alignment unit includes a Y-axis moving unit(124) that supports the X-axis moving unit and is moved on a Y-axis by a Y-axis driver.
Abstract translation: 提供一种用于检查显示面板的设备，通过将两个旋转中心结构定位在工作台所在的可移动台的两端处，以高精度对齐安装有被检查物体的工作台。 用于检查显示面板的装置（100）包括第一和第二支撑件，X轴移动单元（132）和对齐单元（120）。 第一支撑件和第二支撑件位于可动台（122）的下方并支撑可动台，使得可动台水平地旋转。 第一支撑件和第二支撑件彼此远离地布置。 X轴移动单元支撑第一支撑件和第二支撑件并且通过X轴驱动器在X轴上水平移动。 对准单元包括Y轴移动单元（124），该Y轴移动单元支撑X轴移动单元并且通过Y轴驱动器在Y轴上移动。
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公开(公告)号：KR100588459B1
公开(公告)日：2006-06-12
申请号：KR1020060025140
申请日：2006-03-20
Inventor： 유병소
IPC: H01S3/10 , B23K26/064
Abstract: 본 발명은 레이저 빔 전달 시스템을 제공한다. 이 전달 시스템은 레이저 장치에서 생성된 원시 레이저 빔을 발산하기 위한 구형 오목 렌즈, 발산된 레이저 빔에 대하여 제 1 방향 성분에 대한 발산각 교정을 수행하여 집광 렌즈의 개구수를 조절하기 위한 제 1 애너모픽 볼록 렌즈, 발산된 레이저 빔의 제 1 방향 성분과 직교하는 제 2 방향 성분에 대한 발산각 교정을 수행하여 초점 빔 스팟의 길이를 조절하는 제 2 애너모픽 볼록 렌즈 및 제 1 및 제 2 애너모픽 볼록 렌즈에서 각각 교정된 레이저 빔을 집광하기 위한 집광 렌즈로 구성된다. 이에 따라, 광학적 구성 요소를 교체하지 않으면서 레이저 가공에 필요한 빔 전달 시스템의 인자들을 변화시킴으로써, 다양한 물질 가공에 적용될 수 있는 레이저 빔 전달 시스템을 제공할 수 있다.
레이저, 빔, 전달, 애너모픽, 개구수Abstract translation: 本发明提供一种激光束传送系统。 该递送系统包括用于调节球面凹透镜的第一变形，也可以是聚焦透镜，以执行相对于所述第一方向分量的每个校准发散到所发射的激光束，以散发由激光装置产生的原始激光束的数值孔径 正透镜，以执行在所述第一方向分量的每个校准发散和发射的激光束的在第二变形投影透镜正交的第二方向分量和所述第一和第二变形投影透镜以调整焦点束斑的长度 还有一个聚光透镜，用于冷凝分别校准过的激光束。 因此，可以提供一种激光束传送系统，其可以通过改变激光加工所需的光束传送系统的因素而不用更换光学部件来应用于各种材料加工。
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公开(公告)号：KR1020210009395A
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：KR1020210003784
申请日：2021-01-12
Applicant: (주)큐엠씨
Inventor： 유병소
Abstract: 본발명은마이크로발광다이오드모듈을리페어하는시스템과방법에관한것으로, 보다상세하게는불량마이크로발광다이오드칩을레이저빔으로제거한후 리페어용마이크로발광다이오드칩으로대체하는마이크로발광다이오드모듈을리페어하는시스템과방법에관한것이다. 본발명의일 실시예는복수의마이크로발광다이오드(Light Emitting Diode, LED) 칩이회로기판상에실장된마이크로발광다이오드모듈에서타겟마이크로발광다이오드칩을제거하는장치로, 상기마이크로발광다이오드모듈이안착되는스테이지; 및상기스테이지에안착된마이크로발광다이오드모듈에레이저빔을조사하는레이저조사유닛;을포함한다. 상기레이저조사유닛은, 상기회로기판상에실장된복수개의마이크로발광다이오드칩 중타겟마이크로발광다이오드칩에레이저빔을조사하여상기타겟마이크로발광다이오드칩을제거한다.
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公开(公告)号：KR102139571B1
公开(公告)日：2020-07-29
申请号：KR1020180028856
申请日：2018-03-12
Applicant: (주)큐엠씨
Inventor： 유병소
IPC: H01L21/67 , H01L21/677 , H01L21/68
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