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公开(公告)号：CN101542304A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780042661.9
申请日：2007-11-09
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/36 , G01R31/2851
Abstract: 本发明提供一种测量电路，用于对被测试装置施加直流电压，测量所述被测试装置的直流电流。其包括：主放大部，其根据输入电压生成上述直流电压，施加给上述被测试装置；串联电阻，串联设置在上述主放大部的输出端和上述被测试装置的输入端之间；钳位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值；上述钳位电路，具有：第1极限电压输出部，接收上述主放大部输出的上述直流电压，相对上述直流电压，输出具有与上述直流电流的极限值对应的电压差的第1极限电压；第1钳位单元，根据上述第1极限电压和上述串联电阻两端中的压降，限制上述主放大部输出的上述直流电流。
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公开(公告)号：CN100485403C
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200480024340.2
申请日：2004-09-10
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 佐藤浩
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/3191
Abstract: 一种测试装置，具有测试模块、主信号供给部，及从信号供给部。测试模块供给至电子元件。主信号供给部依照被给予的时序信号的相位而生成第一时序信号，并将其供给到测试模块。从信号供给部接收自主信号供给部而来的时序信号，生成第二时序信号并供给到测试模块，此第二时序信号用以控制测试模块提供给电子元件的测试图案。从信号供给部具有相位调整电路，其通过延迟自主信号供给部接收的时序信号，使主信号供给部输出第一时序信号的时序，与从信号供给部输出第二时序信号的时序约略相同。
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公开(公告)号：CN100480719C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200480010037.7
申请日：2004-03-24
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 藤崎健一
IPC: G01R31/3181 , G11C29/00
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56 , G11C2029/5606
Abstract: 一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号的图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号的逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号的不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效数据值，作为1组数据依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效数据值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效数据值进行储存的第2储存部。
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公开(公告)号：CN100476446C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200480023439.0
申请日：2004-09-08
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R31/2893
Abstract: 一种半导体测试系统，包括：向待测元件提供测试信号以进行测试的半导体测试装置、使半导体测试装置与待测元件电连接的评价电路板，以及传送待测元件使其与评价电路板电连接的传送装置。传送装置具有内含评价电路板的框体及传送臂，其可传送待测元件以将其推压至评价电路板，并隔着待测元件将评价电路板推压向框体内面，从而将评价电路板的待测元件压附位置的背面推压至框体上；以及基板补强结构，设置于前述框体与评价电路板之间；其中，传送臂使评价电路板隔着此基板补强结构被推压至框体的内面。
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公开(公告)号：CN100458458C
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：CN200480026139.8
申请日：2004-09-10
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 上林弘典
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31716 , G01R31/3191
Abstract: 一种测试装置及测试方法，用于测试电子元件的测试装置。测试装置包括：多个信号提供部，根据所输入的输入信号，输出用于测试电子元件的输出信号；循环电路，使输出信号进行循环，并作为输入信号输入到用于输出各个输出信号的信号提供部；计数器部，在各个信号提供部，对从输入信号被输入开始到循环信号被输入为止的周期进行测定；以及控制部，用于控制信号提供部将输出信号进行输出的时序，以使计数器部所测定的各个信号提供部的周期大致相同。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100445761C
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200480007212.7
申请日：2004-03-16
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 矢口刚史
IPC: G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31908
Abstract: 一种测试电气元件的测试装置，包括：多个信号输入-输出单元，其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和/或输出测试信号；一个通道选择存储器，其存储指示每个信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息；一个设置条件存储器，其存储关于信号输入-输出单元的设置条件；以及一个控制构件；当接收到设置指令以设置信号输入-输出单元的设置条件时；其根据设置指令检索并向信号输入-输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息，其中当至少一个信号输入-输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时，则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入-输出单元。
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公开(公告)号：CN100440644C
公开(公告)日：2008-12-03
申请号：CN200480021007.6
申请日：2004-07-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 崎山伸
CPC classification number: G01R1/0466 , H01R12/714
Abstract: 一种插座，其与具有多个球形接触器的BGA单元电气连接，此插座在与BGA单元相对向的表面并与多个球形接触器相对应的位置上设置有罩壳，其具有多个直径大于球形接触器直径的通孔。多个接触脚设置于多个通孔内，并与相对应的球形接触器的侧部相接触。多个接触脚的设置最好是使得设置在相邻的通孔中之各个接触脚，其延伸方向互相相反。
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公开(公告)号：CN101268378A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200680034645.0
申请日：2006-08-03
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31725 , G01R31/31726
Abstract: 藉由经由PXI_LOCAL以提供数个控制信号，以在诸如PXI之类的标准化底盘中获得精确的定时控制。在每一最小公倍数(Least Common Multiple，LCM)边沿，最小公倍数信号使得所有时钟具有一致的时钟边沿。开始序列使得测试系统中的所有PXI扩展卡在相同的时间开始。MATCH线使得引脚卡模块检查预期的DUT输出，以及根据DUT输出检查以决定是继续执行其局部测试程序，还是环回并重复局部测试程序的一部份。测试结束(End Of Test，EOT)线使得如果引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则任何一个引脚卡模块立即结束运行于其它引脚卡模块中的局部测试程序。
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公开(公告)号：CN100419613C
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN01800051.7
申请日：2001-01-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 桥本好弘
IPC: G05F1/56
CPC classification number: H03H7/06
Abstract: 一种定电压电源电路，其包括定电压施加电路、第一电感器件与第一旁路电容。定电压施加电路具有运算放大器，用以对一负载施加输出电压，以及反馈电路，用以将输出电压反馈到运算放大器。第一电感器件设置于定电压施加电路与负载之间。第一旁路电容的一端耦接于第一电感器件与负载之间，另一端则耦接至定电压器件。
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公开(公告)号：CN101233704A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680027622.7
申请日：2006-07-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/6932
Abstract: 本发明提供一种光信号接收装置，用于接收光信号，输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括：接收光信号，输出对应光信号强度的光电流的受光元件；将与数码数据的现周期对应的光电流，进行周期内的规定期间积分的现周期积分器；将与现周期的前周期对应的光电流，在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器；根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分，输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
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