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公开(公告)号：KR1020080001376A
公开(公告)日：2008-01-03
申请号：KR1020060059791
申请日：2006-06-29
Applicant: 한국기계연구원
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R1/06733 , G01R31/2601
Abstract: A bellows type vertical micro-contact probe is provided to suppress concentration of stress by using a structure having a shape of bellows. A micro-contact probe is used for performing an electrical test for a semiconductor chip. The micro-contact probe has a shape of bellows not to generate concentration of stress in a compressing process. The micro-contact probe is formed by connecting micro-contact probes having a plurality of shapes of bellows in parallel to each other. A tip is protruded from an end of the micro-contact probe. The tip of the micro-contact probe comes in contact with an electrode pad of the semiconductor chip. The tip is oriented to one side instead of a center of the end of the micro-contact probe.
Abstract translation: 提供了一种波纹管式立式微接触探针，通过使用具有波纹管形状的结构来抑制应力集中。 微接触探针用于对半导体芯片进行电气测试。 微接触探针具有在压缩过程中不产生应力集中的波纹管的形状。 微接触探针通过将具有多个形状的波纹管的微接触探针彼此平行地连接而形成。 尖端从微接触探针的一端突出。 微接触探针的尖端与半导体芯片的电极焊盘接触。 尖端被定向到一侧而不是微接触探针的端部的中心。
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公开(公告)号：KR1020070081357A
公开(公告)日：2007-08-16
申请号：KR1020060013253
申请日：2006-02-10
Applicant: 한국기계연구원
IPC: G01B7/16
Abstract: A capacitance type displacement gauge and a method for measuring the deformation of a specimen using the same are provided to give an effect of measuring the deformation of the specimen with the linearity of improved measurement in real time. A capacitance type displacement gauge(1) includes a frame(10), first and second grips(20,30) to support both ends of the specimen, and an electrode unit(60) to generate a capacitance change corresponding to the deformation of the specimen. The frame is consisted of a bottom frame unit(12), a middle frame unit(14), and a top frame unit(16). The electrode unit and the first grip are positioned at the bottom frame unit. The middle frame unit performs an installation and separation of the specimen. The second grip is fixed to the top frame unit. A first electrode(62) is positioned at an inside cavity by integrated with the first grip and the second grip moved up and down by an actuator(40). The electrode unit further includes a second electrode(64) and a third electrode(66). The second electrode and the third electrode are faced to the first electrode with a predetermined distance at an inner surface of the bottom frame unit.
Abstract translation: 提供电容型位移计和用于测量使用其的试样的变形的方法，以实现以实时改进的测量的线性度测量样品的变形的效果。 电容型位移计（1）包括框架（10），支撑样本的两端的第一和第二手柄（20,30）以及电极单元（60），以产生对应于 标本。 框架由底部框架单元（12），中间框架单元（14）和顶部框架单元（16）构成。 电极单元和第一把手位于底部框架单元。 中间框架单元执行样品的安装和分离。 第二把手固定在顶部机架上。 第一电极（62）通过与第一手柄一体地定位在内腔中，并且第二手柄通过致动器（40）上下移动。 电极单元还包括第二电极（64）和第三电极（66）。 第二电极和第三电极在底部框架单元的内表面处面对具有预定距离的第一电极。
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公开(公告)号：KR101930068B1
公开(公告)日：2018-12-17
申请号：KR1020170043193
申请日：2017-04-03
Applicant: 한국기계연구원
Abstract: 본 발명에 따른 표적 입자 검출용 멤브레인 필터는 서로 평행한 두 대향면을 갖는 투명 기재; 및 투명 기재의 두 대향면을 관통하며 축경되는 관통형 채널;을 포함하며, 관통형 채널의 두 개구 각각의 중심을 가로지르는 멤브레인 필터의 단면인 기준단면상, 하기 조건 1을 만족하거나, 또는 하기 조건 2를 만족한다.
조건 1 및 조건 2에서, 는 기준단면에서, 두 개구 중 상대적으로 작은 개구인 제1개구의 가장자리에 대응하는 두 점(point)인 제1개구점에서 제2개구점으로의 방향을 갖는 단위 벡터이며, 은 기준단면에서, 제1개구점으로부터 연장되며 관통형 채널의 채널면에 대응하는 선인 제1채널선의 제1개구점에서의 단위 접선벡터이며, 는 기준단면에서, 제2개구점으로부터 연장되며 관통형 채널의 채널면에 대응하는 선인 제2채널선의 제2개구점에서의 단위 접선벡터이다.-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101926059B1
公开(公告)日：2018-12-06
申请号：KR1020170104231
申请日：2017-08-17
Applicant: 한국기계연구원
Abstract: 스마트 기기용 자유 회전식 현미경은 대물 렌즈부, 접안 렌즈부, 대물 스테이지, 접안 스테이지, 중공형 회전 결합부, 및 거치대를 포함한다. 대물 스테이지는 대물 렌즈부를 지지하며 제1 미러를 포함한다. 접안 스테이지는 접안 렌즈부를 지지하며 제2 미러를 포함한다. 중공형 회전 결합부는 대물 스테이지와 접안 스테이지에 연결 설치되어 대물 스테이지와 접안 스테이지를 회전 가능하게 상호 결합시키며, 대물 스테이지의 위치 고정을 위한 스토퍼를 포함한다. 거치대는 스마트 기기의 카메라가 접안 렌즈부와 마주하도록 접안 스테이지 상에 스마트 기기를 지지한다.
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公开(公告)号：KR20180001678A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：KR20160079890
申请日：2016-06-27
Applicant: 한국기계연구원
IPC: B01L3/00
CPC classification number: B01L3/502707 , B01L2200/10 , B01L2300/0819 , B01L2300/0848 , B01L2300/123
Abstract: 본발명은미세채널소자에관한것으로서, 본발명에따른미세채널소자는요부와철부가형성된제 1 기판, 요부와철부를마감하여미세채널을형성하는제 2 기판및 요부와철부를마감하도록제 1 기판과제 2 기판이접촉한상태에서, 제 1 기판과제 2 기판의외측면과접촉하여가압시킴으로써제 1 기판과제 2 기판을결합시키는가압부를포함하는것을특징으로한다.
Abstract translation: 本发明涉及一种微流道器件，根据本发明，第一到第二基板的端部和凹部以及用于由所述第一基板，凹部和凸部凹部和铁所形成的端部形成微通道凸部的微细流路装置 由任务2在基底衬底在接触hansangtae，压成与第一基板2任务基板令人惊讶的方面接触的特征在于包括一个压力接合所述第二基板的第一基板的任务。
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公开(公告)号：KR101776536B1
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：KR1020160157077
申请日：2016-11-24
Applicant: 한국기계연구원
IPC: G01N15/14 , G01N33/483
CPC classification number: G01N15/1463 , G01N33/4833
Abstract: 본발명은표적세포계수용튜브및 이를이용한표적세포계수방법에관한것으로, 튜브내에서밀도차에따라표적세포가배열되도록하여표적세포를직접계수가가능함으로써, 소형현미경등과같은간단한장비를이용한영상을통해표적세포를검출및 계수할수 있고, 이에따라간단한촬상만으로도표적세포에대한분석이가능하여손쉬운표적세포검출결과의공유및 희귀표적세포분석의저가격화등을가능하게할 수있는표적세포계수용튜브및 이를이용한표적세포계수방법이제공된다.
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公开(公告)号：KR101723341B1
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：KR1020160080113
申请日：2016-06-27
Applicant: 한국기계연구원
Abstract: 본발명은미세입자회수방법및 미세입자회수장치에관한것으로서, 본발명에따른미세입자회수방법은미세채널이형성된여과구조체에포집되어있는미세입자에대한구속력을완화또는제거시키기위하여여과구조체에물리적인힘을가하여미세채널을변형시키는단계; 및구속력이완화또는제거된미세입자를회수하는단계를포함할수가있다.
Abstract translation: 在本发明的微粒回收方法中，为了减轻或消除微细流路过滤结构中捕集的微粒的结合力，本发明涉及微粒回收方法和微粒回收装置， 施加力使微通道变形; 并恢复其结合力已被放松或除去的微粒。
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