Abstract:
본 발명은, 팁이 마련된 SPM 캔틸레버를 스캐너가 변위시키고, 위치 감응 검출기가 상기 SPM 캔틸레버에서 반사된 레이저광을 이용해 상기 SPM 캔틸레버의 변위량을 측정하도록 구성된 채 나노 구조물의 측정 및 조작에 이용되는 주사 탐침 현미경에 관한 것으로서, 종래의 SPM 장비에 쉽게 호환이 가능하면서(compatible) 손쉽게 그리고 정밀하게 SPM 캔틸레버의 강성 보정을 가능케 하는 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 이를 위해, 본 발명에 주사 탐침 현미경의 보정장치는, 적어도 일 방향의 강성이 미리 결정되어지되, 상기 강성이 상기 SPM 캔틸레버에 의한 하중에 의해 일 방향으로 변위될 수 있도록 정해지는 보정용 구조물과, 상기 SPM 캔틸레버에 반사된 레이저광을 이용해 상기 SPM 캔틸레버의 변위량을 측정하는 위치 감응 검출기와, 자체의 변위량와 SPM 캔틸레버의 변위량 간의 차에 의해 상기 보정용 구조물의 변위량을 결정해주는 스캐너를 포함한다. SPM, 캔틸레버, 팁, 보정, 강성, 위치 감응 검출기, 스캐너
Abstract:
본 발명은 재료 물성 측정 기술에서 모재(substrate)의 영향없이 압입시험기를 이용하여 박막 자체의 물성을 측정하는 방법에 관한 것으로서, 모재 위에 박막을 증착시키는 단계와, 상기 모재의 일부분을 원형 또는 사각형 형상으로 제거하는 단계와, 상기 박막에 압입 시험을 수행하여 변위와 하중을 정밀하게 측정하는 단계와, 상기 측정된 변위와 하중 데이터를 이론식에 적용하여 박막의 물성을 도출하는 단계를 포함하여 구성되므로, 박막을 이용하는 반도체 공정, 바이오 산업, 나노 공정, 공작 기계 제조 등에 손쉬운 박막의 물성 측정 방법을 제공하며, 박막 공정을 기반으로 하는 각종 제품의 설계, 신뢰성 평가 및 제품의 질 향상에 도움을 주는 압입시험기를 이용한 박막의 물성측정 방법을 제공하는 효과가 있다. 압입, 모재, 박막(thin film, membrane), 물성, 측정, 하중,
Abstract:
본 발명은 박막 제조 공정 기술에 필수적인 박막측정방법에 관한 것으로, 복잡한 시편 준비 과정을 거치지 않더라도 압입시험만으로 박막의 두께를 측정하는 방법을 제공하기 위한 것이다. 본 발명은, 절단공정과 같은 복잡한 시편 준비 과정을 거치지 않고, 압입시험을 포함하는 일련의 측정 및 결과 분석 단계를 수행함으로서 달성되어지는데, 첫째, 모재위에 박막이 올려진 형상으로 이루어진 샘플(Sample)에 압입 시험을 수행하는 단계와; 압입 시험중에 박막의 두께 방향으로 발생하는 변위와 하중을 정밀하게 측정하는 단계와; 측정된 변위값과 하중값을 통해 단순화된 모델식과 측정식들을 적용하여 박막의 두께를 판단하는 단계로 수행하게 된다. 압입시험, 박막, 두께측정, 나노, 박막제조,
Abstract:
본 발명은 나노 압입 시험 기능을 갖는 원자력 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)의 캔틸레버에 관한 것으로서, 나노 압입 시험 시 수평 방향 운동의 보상과 압입 깊이 산출 등의 문제를 해결하여 정확한 물성 측정이 가능한 AFM 캔틸레버를 제공하는 것을 목적으로 한다. 이러한 목적을 달성하기 위한 일 축 방향으로 압입 시험 기능을 갖는 본 발명의 AFM 캔틸레버는 고정 스테이지에 장착된 일단부와, AFM 팁이 장착된 타단부를 포함하고, 상기 일단부 및 타단부가 위치하는 상기 일 축을 포함하는 어느 한 평면에 대해 대칭인 중공 프레임 형상을 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A thickness and diameter measurement apparatus is provided to achieve improved productivity by continuously and accurately measuring thickness and diameter of a dicing blade. CONSTITUTION: A thickness and diameter measurement apparatus comprises a rotation unit for fixing and rotating a dicing blade(15); a measurement unit support(2) disposed in the vicinity of the rotation unit; capacitance type sensors(19-1,19-2) and laser beam sensors(18-1,18-2) mounted to a transfer unit(11) which is arranged to be movable in forward and rearward directions, to the measurement unit support, wherein the capacitance type sensors and the laser beam sensors detect thickness and diameter of the dicing blade mounted to the rotation unit; a transfer unit mounted to the measurement unit support, and which transfers the capacitance type sensors and the laser beam sensors to the dicing blade; a unit for detecting measurement position and stand-by position of capacitance type sensors and the laser beam sensors; and a carbon brush(17) for forming a current flowing from the capacitance type sensors to the ground.