오염 입자 검사를 위한 차동 영상 이미징 장치 및 측정 방법
    72.
    发明公开
    오염 입자 검사를 위한 차동 영상 이미징 장치 및 측정 방법 审中-实审
    用于污染颗粒检测的差分图像成像装置和方法

    公开(公告)号:KR1020170121491A

    公开(公告)日:2017-11-02

    申请号:KR1020160049965

    申请日:2016-04-25

    Abstract: 본발명은암시야조명현미경시스템및 암시야조명현미경의동작방법을제공한다. 본발명의일 실시예에따른암시야현미경은광학박막에의한산란광을관측한다. 상기암시야현미경의동작방법은상기광학박막에제1 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제1 조명영상을제공하는단계; 상기광학박막에상기제1 조명광과동일한광경로를통하여제2 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제2 조명영상을제공하는단계; 및상기제1 조명영상과상기제2 조명영상의차이로구성된차동영상을제공하는단계를포함한다. 상기제1 조명광은상기광학박막에대하여투과광을증가시키는조건으로선택되고, 상기제2 조명광은상기광학박막에대하여반사광을증가시키는조건으로선택된다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种暗视场照明显微镜系统和一种操作暗视场照明显微镜的方法。 根据本发明实施例的暗视野显微镜通过光学薄膜观察散射光。 该方法包括:用第一照明光照射该光学薄膜并且收集来自该光学薄膜的散射光以提供第一照明图像; 用第二照明光通过与第一照明光相同的光路照射光学薄膜,并且收集来自光学薄膜的散射光以提供第二照明图像; 并且提供由第一照明图像和第二照明图像之间的差异组成的差异视频。 选择第一照明光作为增加相对于光学薄膜的透射光的条件,并且选择第二照明光作为用于增加相对于光学薄膜的反射光的条件。

    질량분석기 전극 오염물 제거를 위한 레이저 클리닝 장치 및 방법
    73.
    发明授权
    질량분석기 전극 오염물 제거를 위한 레이저 클리닝 장치 및 방법 有权
    用于消除质谱仪中污染物的激光清洁装置和方法

    公开(公告)号:KR101764122B1

    公开(公告)日:2017-08-02

    申请号:KR1020160023694

    申请日:2016-02-26

    CPC classification number: B08B1/02 B08B7/00 H01S3/00

    Abstract: 본발명의레이저세정질량분석장치및 그세정방법에관한것이다. 이레이저세정질량분석장치는 2차원스캐닝을하는이송스테이지; 상기이송스테이지에장착된반사광학부품; 상기반사광학부품에레이저클리닝빔을조사하는레이저광원; 및그 중심에중심개구부및 상기레이저클리닝빔이진행하는레이저빔 접근개구부를구비하고상기반사광학부품에서반사된레이저클리닝빔에의하여조사되는이온추출전극격판를포함한다. 상기레이저클리닝빔은오염된이온추출전극격판에형성된레이저빔 접근개구부를통과하여상기반사광학부품에제공되고, 상기반사된레이저클리닝빔은상기이온추출전극격판를조사하여세정한다.

    Abstract translation: 激光清洁质谱仪及其清洁方法本发明涉 该激光清洁质谱仪包括用于二维扫描的转印台; 安装在传输台上的反射光学部件; 用激光清洁光束照射反射光学部件的激光光源; 具有中心开口和激光束进入开口,以激光束行进到清洁mitgeu中心和包括离子引出电极gyeokpanreul照射由激光束从清洁反射光学元件反射。 清洁激光束穿过形成在受污染的离子提取电极板被设置在所述反射光学元件的激光束进入开口,反射激光束的清洁通过照射离子引出电极gyeokpanreul清洗。

    중금속 시료 포집이 동시 가능한 미세먼지 자동 측정 장치
    74.
    发明公开
    중금속 시료 포집이 동시 가능한 미세먼지 자동 측정 장치 有权
    用于自动测量颗粒物和同时采样重金属的装置

    公开(公告)号:KR1020160103766A

    公开(公告)日:2016-09-02

    申请号:KR1020150026554

    申请日:2015-02-25

    Abstract: 본발명은베타선을이용하여공기중의미세먼지의농도를자동으로측정함과동시에중금속등의성분분석을위한시료채취도할 수있는중금속시료포집이동시가능한미세먼지자동측정장치에관한것으로, 상류측에미세먼지가포함된일정유량의공기가유입되는유입구가구비되고하류측에미세먼지가제거된공기가배출되는배출구가구비되어공기가유동하는유로가형성된몸체; 상기유로내에구비되어유동하는공기에포함된미세먼지가포집되는포집여지; 상기유로내의상기포집여지상측에소정거리이격되어구비되며, 상기포집여지를향해베타선을조사하는베타선조사부; 및상기유로내의상기포집여지하측에구비되며, 상기포집여지를투과한베타선을검출하는베타선검출부;를포함하여이루어진다.

    Abstract translation: 本发明涉及能够同时收集重金属样品的细粉尘自动测量装置。 细尘自动测量装置可以通过使用β射线自动测量空气中细粉尘的浓度,同时提取样品用于分析重金属等成分。 细灰尘自动测量装置包括:主体,其包括设置在其上侧的入口,以输送包括细粉尘的特定流量的空气,包括设置在其下侧的出口,以排出从其去除的具有细粉尘的空气,以及 包括用于流动空气的流动路径; 收集过滤片,设置在流路中,收集流入空气中的细粉尘; β射线照射单元,其设置在所述流路中的所述收集滤光片的上侧,以特定距离分离,并且向所述收集滤光片照射β射线; 并且β射线检测单元将集合滤纸的下侧设置在流路中,并且检测穿透收集滤纸的β射线。

    원격검출용 주파수 및 강도 변조 레이저 흡수 분광장치 및 방법
    75.
    发明授权
    원격검출용 주파수 및 강도 변조 레이저 흡수 분광장치 및 방법 有权
    频率和强度调制激光吸收光谱仪和远程气体检测方法

    公开(公告)号:KR101642473B1

    公开(公告)日:2016-07-25

    申请号:KR1020150002678

    申请日:2015-01-08

    CPC classification number: G01J3/42 G01N21/17 G01N21/39 G01N21/53

    Abstract: 본발명은광주파수/강도변조레이저흡수분광장치및 광주파수/강도변조레이저흡수분광방법을제공한다. 이광주파수/강도변조레이저흡수분광장치는측정대상에프로브빔을제공하고소정의주파수대역에서변조주파수(f)로상기프로브빔의광주파수를변조하고상기변조주파수(f)로상기프로브빔의강도를변조하는레이저광원부; 상기측정대상에서반사, 투과, 또는산란된프로브빔을전기신호로변환하는광감지부; 및상기광감지부의출력신호인레이저흡수신호를처리하여상기변조주파수(f)의 1차고주파성분(M) 및상기변조주파수(f)의 2차고조파성분(M)을추출하고상기변조주파수(f)의 1차고조파성분(M)과상기변조주파수의 2차고조파성분(M)의비(M/M)를이용하여상기측정대상에의한상기프로브빔의흡수도를산출하는처리부를포함한다.

    간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템
    76.
    发明授权
    간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템 有权
    相干结构照明成像方法和相关结构照明显微镜系统

    公开(公告)号:KR101479249B1

    公开(公告)日:2015-01-05

    申请号:KR1020130135555

    申请日:2013-11-08

    Abstract: 본 발명은 간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템을 제공한다. 이 간섭성 구조조명 이미징 방법은 육각형 격자 패턴에 의하여 형성된 육각형 격자 진폭 구조조명을 측정 대상에 차례로 조사하는 단계; 상기 육각형 격자 진폭 구조조명들에 의하여 주파수 하향 변환된 원시 이미지들을 차례로 측정하는 단계; 및 상기 원시 이미지들을 처리하여 재구성된 물체 이미지를 산출하는 단계를 포함한다.

    Abstract translation: 本发明提供一种相干结构照明成像方法和一种相干结构的照明显微镜系统。 相干结构照明成像方法包括以下步骤:将由六角形格子图案形成的六边形晶格振幅结构照明顺序地扫描到被测物体上; 测量原始图像通过六边形晶格振幅结构照明下变频; 以及计算通过处理原始图像重新配置的对象图像。

    광 위상 변조 검출 장치 및 그 방법
    77.
    发明授权
    광 위상 변조 검출 장치 및 그 방법 有权
    光相位调制检测装置及其方法

    公开(公告)号:KR101401283B1

    公开(公告)日:2014-05-29

    申请号:KR1020120111575

    申请日:2012-10-09

    Abstract: 본 발명은 광 위상 변조 검출 장치 및 광 위상 변조 검출 방법을 제공한다. 이 장치는 변조 주파수로 세기 변조된 펌프광을 시료에 제공하는 펌프 광원부, 탐색광을 시료에 제공하는 탐색 광원부, 탐색광을 분기하여 샘플 경로를 통하여 상기 시료에 제1 탐색광을 제공하고, 탬색광을 분기하여 기준 경로를 통하여 시료를 거치지 않는 제2 탐색광을 제공하고, 샘플 경로를 거친 제1 탐색광과 기준 경로를 거친 제2 탐색광을 합산하여 합산 탐색광을 제공하는 간섭 광경로 제공부, 샘플 경로와 기준 경로 중에서 하나에 45도 선형 편광을 제공하고, 샘플 경로와 기준 경로 중에서 다른 하나에 원형 편광을 제공하고 편광 제공부, 및 합산 탐색광에서 제1 방향으로 선형 편광된 제1 간섭광과 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 선형 편광된 제2 간섭광으로 각각 분리하는 편광 빔 분리기를 포함한다. 펌프광은 시료에 굴절률 변화를 제공하고, 굴절률 변화는 제1 탐색광에 변조 위상을 제공한다.

    광 위상 변조 검출 장치 및 그 방법
    78.
    发明公开
    광 위상 변조 검출 장치 및 그 방법 有权
    光学相位调制检测装置及其方法

    公开(公告)号:KR1020140045628A

    公开(公告)日:2014-04-17

    申请号:KR1020120111575

    申请日:2012-10-09

    Abstract: The present invention relates to an optical phase modulation detection apparatus and a method therefor. The apparatus includes: a pump light source part supplying pump light, the intensity of which is modulated to a modulated frequency, to a sample; a search light source part supplying search light to the sample; an interference light path supply part branching the search light to supply first search light to the sample through a sample path, branching the search light to supply second search light not passed through the sample through a reference path, and mixing the first search light passed through the sample path and the second search light passed through the reference path to supply mixed search light; a polarized light supply part supplying linear polarized light of 45° to one of the sample path and the reference path and supplying circular polarized light to the other; and a polarized light beam separator separating the mixed search light into first interference light linearly polarized in a first direction and second interference light linearly polarized in a second direction vertical to the first direction. The pump light provides the variation of the reflective index for the sample, and the variation of the reflective index provides the modulated phase for the first search light. [Reference numerals] (190) Specimen

    Abstract translation: 本发明涉及光相位调制检测装置及其方法。 该装置包括:泵浦光源部分,将其强度被调制到调制频率的泵浦光提供给样品; 搜索光源部分,向样本提供搜索光; 干涉光路供给部,其分支所述搜索光,以通过采样路径向所述样本提供第一搜索光,分支所述搜索光以提供未通过所述样本的第二搜索光通过参考路径,并且混合通过的所述第一搜索光 所述采样路径和所述第二搜索光通过所述参考路径以提供混合搜索光; 偏振光供给部,其向所述采样路径和所述基准路径之一提供45°的线偏振光,并将圆偏振光提供给另一方; 以及偏振光束分离器,将混合搜索光分离成在第一方向上线偏振的第一干涉光和在与第一方向垂直的第二方向上线偏振的第二干涉光。 泵浦光提供样品的反射指数的变化,并且反射指数的变化为第一搜索光提供调制相位。 (附图标记)(190)试样

    광학 장치
    79.
    发明授权
    광학 장치 有权
    光学器件

    公开(公告)号:KR101261271B1

    公开(公告)日:2013-05-07

    申请号:KR1020100103233

    申请日:2010-10-22

    Abstract: 본발명은광학장치를제공한다. 이광학장치는스캐닝하는평행빔을제공하는스캐닝부, 평행빔이공통상면(intermediate image plane; IIP)에초점궤적들을형성하도록제공하는어댑터렌즈모듈(ALM), 및초점궤적들을샘플에집속하여샘플상면에전달하고샘플에삽입가능한프로브렌즈모듈(Probe Lens Module;PLM)을포함한다.

    Abstract translation: 本发明提供一种光学装置。 Yigwanghak装置是用于提供扫描平行光束是常见的上表面上的准直光束的扫描单元(中间图像平面; IIP)提供,以在焦点轨迹适配器透镜模块(ALM),并且聚焦在样品上的样品上表面的焦点轨迹 并且可以插入样品中的探针透镜模块(PLM)。

    광학 장치
    80.
    发明公开
    광학 장치 有权
    光学装置

    公开(公告)号:KR1020120041863A

    公开(公告)日:2012-05-03

    申请号:KR1020100103233

    申请日:2010-10-22

    Abstract: PURPOSE: An optical device is provided to take a photograph of an inner cross section of a three dimensional image without cutting cells and to observe not only the cells having micrometer diameters but also biological tissues in the millimeter range at a spatial resolution of about 300 nanometers. CONSTITUTION: An optical device comprises a scanning part(130), an adapter lens module(160), and a probe lens module(PLM)(170). The scanning part provides collimated beam scanning. The adapter lens module is provided so that the collimated beam forms focal orbits on an IIP(Intermediate Image Plane). The probe lens module focuses the focal orbits on a sample(190), thereby being transferring to the upper part of the sample. The probe lens module is able to be inserted into the sample.

    Abstract translation: 目的:提供一种光学装置,用于拍摄三维图像的内部横截面而不切割细胞,并且不仅观察到具有微米直径的细胞,还观察到在约300纳米的空间分辨率的毫米范围内的生物组织 。 构成:光学装置包括扫描部分(130),适配器透镜模块(160)和探针透镜模块(PLM)(170)。 扫描部分提供准直光束扫描。 提供适配器透镜模块,使得准直光束在IIP(中间图像平面)上形成焦点轨道。 探针透镜模块将焦点轨道聚焦在样品(190)上,从而转移到样品的上部。 探头镜头模块能够插入样品。

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