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公开(公告)号:TWI466174B
公开(公告)日:2014-12-21
申请号:TW095103699
申请日:2006-02-03
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 波爾 麥特喜愛斯 , BAUER, MATTHIAS , 威克斯 基斯 多倫 , WEEKS, KEITH DORAN , 托馬西尼 皮爾瑞 , TOMASINI, PIERRE , 寇帝 奈爾 , CODY, NYLES
IPC: H01L21/205 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7848 , C23C16/04 , C23C16/22 , C23C16/24 , C23C16/32 , C23C16/325 , C23C16/45512 , C30B25/02 , C30B29/06 , H01L21/02381 , H01L21/02529 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/0262 , H01L21/02636 , H01L21/02639 , H01L21/32056 , H01L21/3215 , H01L29/165 , H01L29/66628 , H01L29/66636 , H01L29/7834
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公开(公告)号:TWI445836B
公开(公告)日:2014-07-21
申请号:TW096141034
申请日:2007-10-31
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 艾爾斯 凱 艾瑞克 , ELERS, KAI-ERIK
IPC: C23C16/455 , H01L21/283
CPC classification number: C23C16/45525 , C23C16/4554 , C23C16/50 , H01L21/28088 , H01L29/4966 , H01L29/517
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83.
公开(公告)号:TWI445117B
公开(公告)日:2014-07-11
申请号:TW097143524
申请日:2008-11-11
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 波爾 麥特喜愛斯 , BAUER, MATTHIAS
IPC: H01L21/67 , C23C16/54 , H01L21/205
CPC classification number: C23C16/04 , C23C16/24 , C23C16/45514 , C23C16/45523 , C30B25/02 , C30B33/12 , C30B35/00
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公开(公告)号:TWI439680B
公开(公告)日:2014-06-01
申请号:TW097118365
申请日:2008-05-19
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 雅可布斯 勞恩 , JACOBS, LOREN , 海爾賓 邁克 , HALPIN, MIKE
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公开(公告)号:TWI424084B
公开(公告)日:2014-01-21
申请号:TW096102030
申请日:2007-01-19
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 普羅文撤 提莫西J. , PROVENCHER, TIMOTHY J. , 希克森 克魯閣B. , HICKSON, CRAIG B.
IPC: C23C16/455 , C30B25/14 , C30B25/10
CPC classification number: C23C16/45544 , C23C16/45536 , C23C16/45561 , C23C16/45565 , F16K27/003 , F16K51/02 , Y10T137/87684
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公开(公告)号:TWI417949B
公开(公告)日:2013-12-01
申请号:TW095130234
申请日:2006-08-17
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 小帕格里亞羅 羅伯特H. , PAGLIARO, JR., ROBERT H.
CPC classification number: H01L21/02052 , Y10S438/906
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87.用於在處理腔室中處理基板之方法、用於處理基板之方法及裝置、用於製備用於在處理腔室中沈積之基板的方法以及半導體結構 审中-公开
Simplified title: 用于在处理腔室中处理基板之方法、用于处理基板之方法及设备、用于制备用于在处理腔室中沉积之基板的方法以及半导体结构公开(公告)号:TW201327637A
公开(公告)日:2013-07-01
申请号:TW101148792
申请日:2012-12-20
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 寇帝 奈爾W , CODY, NYLES W. , 湯瑪斯 蕭恩 , THOMAS, SHAWN , 托馬西尼 皮爾瑞 , TOMASINI, PIERRE
IPC: H01L21/205 , H01L21/306
CPC classification number: H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02661
Abstract: 用於在現場沈積之前進行低溫清潔一半導體表面之方法具有高產量及消耗非常少之熱預算。GeH4在該表面上沈積Ge且將任何表面氣轉換為GeOx。諸如Cl2或HCl之一蝕刻劑移除Ge及任何GeOx且之後係磊晶沈積。可因至該基板中之擴散而在該基板上剩下Ge濃度之一尖峰。可在比習知烘焙步驟更低之溫度下循序現場地進行所有三個步驟。
Abstract in simplified Chinese: 用于在现场沉积之前进行低温清洁一半导体表面之方法具有高产量及消耗非常少之热预算。GeH4在该表面上沉积Ge且将任何表面气转换为GeOx。诸如Cl2或HCl之一蚀刻剂移除Ge及任何GeOx且之后系磊晶沉积。可因至该基板中之扩散而在该基板上剩下Ge浓度之一尖峰。可在比习知烘焙步骤更低之温度下循序现场地进行所有三个步骤。
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公开(公告)号:TWI394862B
公开(公告)日:2013-05-01
申请号:TW093112463
申请日:2004-05-04
Applicant: ASM美國股份有限公司 , ASM AMERICA, INC.
Inventor: 馬伊夫 維基 , VERGHESE, MOHITH , 艾立克J. 雪洛 , SHERO, ERIC J.
IPC: C23C16/54
CPC classification number: B82Y30/00 , C23C16/403 , C23C16/4404 , C23C16/45525 , C23C22/68 , C30B25/14 , H01J37/32477
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89.具有可調式化學計量的三元金屬合金 TERNARY METAL ALLOYS WITH TUNABLE STOICHIOMETRIES 审中-公开
Simplified title: 具有可调式化学计量的三元金属合金 TERNARY METAL ALLOYS WITH TUNABLE STOICHIOMETRIES公开(公告)号:TW201220367A
公开(公告)日:2012-05-16
申请号:TW100138473
申请日:2011-10-24
Applicant: ASM美國股份有限公司
CPC classification number: H01J37/32009 , C23C16/36 , C23C16/45542
Abstract: 提供形成三元金屬合金的方法與設備。在一些實施例中,將基板暴露於有機金屬鉭前驅物(包括氮和碳及氫電漿)的交替脈衝之下,藉以沈積碳氮化鉭薄膜。藉由調整電漿參數(特別是電漿强度),膜之化學計量由富含碳變為富含氮。如此,可由相同的前驅物形成具不同特性的膜。例如,可使用相同前驅物在相同模組中沈積n型及p型材料。
Abstract in simplified Chinese: 提供形成三元金属合金的方法与设备。在一些实施例中,将基板暴露于有机金属钽前驱物(包括氮和碳及氢等离子)的交替脉冲之下,借以沉积碳氮化钽薄膜。借由调整等离子参数(特别是等离子强度),膜之化学计量由富含碳变为富含氮。如此,可由相同的前驱物形成具不同特性的膜。例如,可使用相同前驱物在相同模块中沉积n型及p型材料。
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90.在基板上成長薄膜的方法及其裝置 METHOD AND APPARATUS FOR GROWING A THIN FILM ONTO A SUBSTRATE 审中-公开
Simplified title: 在基板上成长薄膜的方法及其设备 METHOD AND APPARATUS FOR GROWING A THIN FILM ONTO A SUBSTRATE公开(公告)号:TW201042074A
公开(公告)日:2010-12-01
申请号:TW099112155
申请日:2010-04-19
Applicant: ASM美國股份有限公司
IPC: C23C
CPC classification number: C23C16/45527 , C23C16/45544 , C23C16/45561
Abstract: 本發明提供了一種在基板上成長薄膜的裝置以及方法,其包括根據ALD方法將基板放入反應室中以及將基板與多個氣相反應物進行表面反應。非完全閉合閥被放入到ALD系統的反應物饋入管道以及背部吸氣管道中。操作非完全閉合閥,從而在ALD過程的清洗或者脈衝循環期間,打開一個閥以及關閉另一個閥。
Abstract in simplified Chinese: 本发明提供了一种在基板上成长薄膜的设备以及方法,其包括根据ALD方法将基板放入反应室中以及将基板与多个气相反应物进行表面反应。非完全闭合阀被放入到ALD系统的反应物馈入管道以及背部吸气管道中。操作非完全闭合阀,从而在ALD过程的清洗或者脉冲循环期间,打开一个阀以及关闭另一个阀。
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