Abstract:
상변화 메모리 장치는 상변화 메모리 엘리먼트(3) 및 선택 스위치(4)에 의해 형성된다. 기준 셀(2a)은 기준 셀의 상변화 메모리 엘리먼트(3) 및 기준 셀의 선택 스위치(4)에 의해 형성되며, 판독될 메모리 셀들의 그룹(7)과 연관된다. 메모리 셀들의 그룹의 전기량은 기준 셀의 유사한 전기량과 비교되어, 메모리 셀들의 특성에서의 임의의 드리프트가 보상된다.
Abstract:
Semiconductor device (1; 38, 48) formed by a first conductive strip (10) of semiconductor material; a control gate region (7; 35; 55) of semiconductor material, facing a channel portion (5c) of the first conductive strip,-and an insulation region (6; 32; 52) arranged between the first conductive strip and the control gate region. The first conductive strip (10) includes a conduction line (5) having a first conductivity type and a control line (4) having a second conductivity type, arranged adjacent and in electrical contact with each other, and the conduction line (5) forms the channel portion (5c), a first conduction portion (5a) and a second conduction portion (5b) arranged on opposite sides of the channel portion.
Abstract:
음향 센서(11)는, 반도체 기판의 윗면에 진동막(22) 및 고정막(23)이 형성되고, 진동막(22)에서의 진동 전극(22a)과 고정막(23)에서의 고정 전극(23a) 사이의 정전용량의 변화에 의해 음파를 검출한다. 고정막(23)에는, 음파를 외부로부터 진동막(22)에 도달시키기 위해 복수의 음공부(32)가 형성되어 있고, 고정 전극(23a)은, 연부(40)의 경계가 음공부(32)와 교차하지 않도록 형성되어 있다.
Abstract:
본 발명은 적어도 하나의 차동 트랜지스터 셀을 포함하는 타입의 트랜스컨덕턴스 증폭기의 디제너러티브 구동 트랜지스터(MD1)의 구동 전압값(Vtgc1)의 조정으로, 상기 트랜스컨덕턴스 증폭기의 선형 이득 변화를 획득하기 위한 구동 방법에 관한 것으로, 상기 구동 방법은, 상기 트랜스컨덕턴스 증폭기의 상기 차동 트랜지스터 셀의 복제물인 복제 차동 셀(11)의 출력 전류 신호를 발생시키는 단계, 여기서 상기 출력 전류 신호는 상기 구동 전압값(Vtgc1)이 변함에 따라 상기 복제 차동 셀(11)의 트랜스컨덕턴스값과 선형 관계를 갖고; 차동 입력 전압과 선형 관계를 갖는 기준 전류 신호를 발생시키는 단계; 그리고 상기 구동 전압값(Vtgc1)을 조정하기 위해 상기 출력 전류 신호와 상기 기준 전류 신호를 비교하고, 상기 전류 신호들의 평형상태까지 상기 복제 차동 셀(11)의 상기 트랜스컨덕턴스값을 수정하는 단계를 포함한다.
Abstract:
A phase change memory device for the multi-bit storage is provided to control the total resistance of device and to achieve the improvement of the read rate and legibility. The phase change memory device comprises the memory region and heater element(2) of the chalcogenic material. The memory area has the phase change part(5). The phase change part contacts with electrical and thermal element. The first current path is formed between the rest(4) and the heater element of the memory element. The phase change part has the different resistivity. The parallel electricity route(11) is formed between the rest and the heater element of the memory element.
Abstract:
In an integrated pressure sensor (15) with a high full-scale value, a monolithic body (16) of semiconductor material has a first and a second main surface (16a and 16b), opposite and separated by a substantially uniform distance (w). The monolithic body (16) has a bulk region (17), having a sensitive portion (23) next to the first main surface (16a), upon which pressure (P) acts. A first piezoresistive detection element (18) is integrated in the sensitive portion (23) and has a variable resistance as a function of the pressure (P). The bulk region (17) is a solid and compact region and has a thickness substantially equal to the distance (w).
Abstract:
A method and apparatus for programming a phase change memory cell (2) is disclosed. A phase change memory cell (2) includes a memory element (10) of a phase change material having a first state ("11"), in which the phase change material is crystalline and has a minimum resistance level, a second state ("00") in which the phase change material is amorphous and has a maximum resistance level, and a plurality of intermediate states with resistance levels there between. The method includes using programming pulses to program the phase change memory cell (2) in either the set, reset, or one of the intermediate states. To program in the intermediate states, a programming pulse creates a crystalline percolation path having an average diameter (D) through amorphous phase change material and a second programming pulse modifies the diameter (D) of the crystalline percolation path to program the phase change memory cell to the proper current level. ® KIPO & WIPO 2008
Abstract:
OLED (유기 발광 다이오드) 수동 매트릭스 디스플레이(26)는 디스플레이 부분(10)과 구동 부분(28)을 포함한다. 디스플레이 부분(10)은 정보를 디스플레이하기 위한 OLED들(13)의 매트릭스를 포함한다. 구동 부분(28)은 모니터 회로(32) 및 전압 조정 회로(34)를 포함한다. 전압 조정 회로(34)는 기준 전압 (VREF)에 기초해 공급 전압 (VH)을 생성하는 파워 업 부분(36)을 구비한다. 모드들을 전환하라는 지시에 응하여, 전압 조정 회로(34)는, OLED들(13)에서 읽어들인 최대 전압 강하에 기초해 공급 전압 (VH)이 생성되는 동작 모드로 전환한다.