Abstract:
본 발명은, AlGaN/GaN 이종 접합 박막 구조를 갖는 반도체 소자에 있어서, 게이트 전극에 인가되는 게이트 전압에 따라 광 여기 전류가 증가 또는 감소하는 광 검출기를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 기판; 상기 기판의 상부에 존재하는 AlyGa1-yN 채널층; 및 상기 채널층의 상부에 존재하는 n형 AlxGa1-xN 배리어층을 포함하며, 상기 n형 AlxGa1-xN 배리어층의 상부에는 게이트 전극, 소스 전극 및 드레인 전극이 형성되어 있으며, 상기 게이트 전극은 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극 사이에 배치되어 있고, 상기 x 및 y는 0≤y
Abstract:
The present invention relates to a semi-polar or non-polar nitride-based light emitting device. The semi-polar or non-polar nitride-based light emitting device comprises: a substrate which is either a nitride semiconductor having a semi-polar surface or a non-polar surface as a crystal surface, or a sapphire substrate having an R-surface or an M-surface as a crystal surface; a first nitride semiconductor layer which is grown on the substrate; a second nitride semiconductor layer which is grown on the first nitride semiconductor layer; a transparent electrode layer which is formed on the second nitride semiconductor layer and is composed of semi-polar or non-polar zinc oxide. The transparent electrode layer is composed of crystalline semi-polar or non-polar zinc oxide which is formed by atomic layer deposition performed at or below 400°C or crystalline semi-polar or non-polar zinc oxide which is formed by sputtering deposition, chemical vapor deposition, or a chemical wet method.
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본 발명은 고품질 질화물 반도체 박막 및 그의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 고품질 질화물 반도체 박막의 제조방법은 (a) 기판 상에 제1 온도로 제1 질화물 반도체층을 형성하는 단계; (b) 상기 제1 질화물 반도체층 상에 제2 온도로 저온 결함감소층을 형성하는 단계; 및 (c) 상기 저온 결함감소층 상에 제3 온도로 제2 질화물 반도체층을 형성하는 단계;를 포함하고, 상기 제2 온도는 제1 및 제3 온도보다 낮은 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 고품질 질화물 반도체 박막 및 그의 제조 방법은 고온에서 형성되는 제1 및 제2 질화물 반도체층 사이에 저온 결함감소층을 형성함으로써, 기판과 질화물 반도체 결정 사이의 격자 정수 차, 열팽창 계수 차로 인해 결정의 성장방향으로 전달되는 결함, 즉, 관통전위를 차단하게 되어, 박막의 표면의 결정성, 광학적 특성 및 표면 프로파일 특성도 향상시킬 수 있다는 장점을 갖는다.
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PURPOSE: A high efficiency light emitting diode is provided to improve a multiple quantum well structure, to minimize the overflow of electrons, and to prevent efficiency reduction due to the increase of current density. CONSTITUTION: An active area(31) is positioned between an n-type nitride semiconductor layer(25) and a p-type nitride semiconductor layer(35). The active area includes a multiple quantum well structure having well layers(30,31a) and barriers(31b). A first well adjacent to the n-type nitride semiconductor layer includes a sub well layer(30a) and a sub barrier(30b). The thickness of the sub well layer is thinner than the thickness of the sub barrier. The band gap of the sub well layer is narrower than the bank gap of a final well layer adjacent to the p-type semiconductor layer.
Abstract:
본 발명은 반극성 또는 비극성 질화물계 발광 소자에 관한 것이다. 상기 반극성 또는 비극성 질화물계 발광 소자는, 반극성면 또는 비극성면을 결정면으로 하는 질화물계 기판 또는 R-면이나 M-면을 결정면으로 하는 사파이어 기판; 상기 기판위에 성장되어 형성된 제1 질화물 반도체층; 상기 제1 질화물 반도체층위에 성장되어 형성된 제2 질화물 반도체층; 상기 제2 질화물 반도체층 위에 형성되고 반극성 또는 비극성의 산화 아연으로 이루어진 투명 전극층;을 구비한다. 상기 투명 전극층은 400℃ 이하의 저온에서 수행된 원자층 증착(Atomic layer deposition)에 의해 형성된 결정질의 비극성 또는 반극성의 산화 아연으로 이루어지거나, 스퍼터링 증착이나 화학적 기상 증착 또는 화학적 습식법에 의해 형성된 결정질의 비극성 또는 반극성 산화 아연으로 이루어진다.