전자기파 장해 측정 장치 및 전자기파 장해 측정 방법

    公开(公告)号:KR101903516B1

    公开(公告)日:2018-11-22

    申请号:KR1020120146840

    申请日:2012-12-14

    Inventor: 여순일

    CPC classification number: G01R31/002 G01R29/0814 G01R29/0835 G01R31/001

    Abstract: 본발명은전자기파장해측정장치에관한것이다. 보다자세히는, 본발명은탄소나노튜브에대한전자기파장해측정장치에관한것이다. 본발명에의한전자기파장해측정장치는제어부, 상기제어부의주파수제어신호에응답하여제 1 전자기파를생성하는전자기파생성부, 상기제 1 전자기파를피측정장치에제공하는전자기파인가부, 제어부의측정제어신호에응답하여, 상기제 1 전자기파에응답하여상기피측정장치로부터방출된제 2 전자기파를측정하는측정부및 상기제어부의소거제어신호에응답하여상기피측정장치의잔류전자기파를소거하는전자기파소거부를포함하며, 상기제어부는상기측정부의측정결과를기초로상기피측정장치의전자기파장해를계산한다. 본발명에의한전자기파장해측정장치는잔류전자기파에의한오차를보상하여높은정확도로전자기파장해를측정할수 있다.

    전자기파 장해 측정 장치 및 전자기파 장해 측정 방법
    2.
    发明公开
    전자기파 장해 측정 장치 및 전자기파 장해 측정 방법 审中-实审
    电磁干扰测量装置和电磁干扰测量方法

    公开(公告)号:KR1020140077733A

    公开(公告)日:2014-06-24

    申请号:KR1020120146840

    申请日:2012-12-14

    Inventor: 여순일

    CPC classification number: G01R31/002 G01R29/0814 G01R29/0835 G01R31/001

    Abstract: The present invention relates to a device for measuring electromagnetic interference and, more specifically, to a device for measuring electromagnetic interference for a carbon nanotube. The device for measuring electromagnetic interference according to the present invention comprises: a control unit, an electromagnetic generating unit to generate a first electromagnetic wave in response to a frequency control signal of the control unit; an electromagnetic applying unit to provide a device to be measured with the first electromagnetic wave; a measuring unit to measure a second electromagnetic wave emitted from the device to be measured in response to the first electromagnetic wave; and an electromagnetic removing unit to remove a remaining electromagnetic wave of the device to be measured in response to a removal control signal of the control unit, wherein the control unit calculates electromagnetic interference of the device to be measured based on the measuring result of the measuring unit. The device for measuring electromagnetic interference according to the present invention can measure the electromagnetic interference having high accuracy by compensating for an error due to the remaining electromagnetic wave.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于测量电磁干扰的装置,更具体地说,涉及用于测量碳纳米管的电磁干扰的装置。 根据本发明的用于测量电磁干扰的装置包括:控制单元,响应于控制单元的频率控制信号产生第一电磁波的电磁产生单元; 电磁施加单元,用于提供用第一电磁波测量的装置; 测量单元,用于响应于所述第一电磁波测量从所述待测量装置发射的第二电磁波; 以及电磁去除单元,用于响应于所述控制单元的去除控制信号去除所述被测量装置的剩余电磁波,其中,所述控制单元基于所述测量结果来计算所述被测量装置的电磁干扰 单元。 根据本发明的用于测量电磁干扰的装置可以通过补偿由于剩余电磁波引起的误差来测量具有高精度的电磁干扰。

    동적 전압 스케일링을 적용한 고효율 프로세서
    3.
    发明公开
    동적 전압 스케일링을 적용한 고효율 프로세서 有权
    使用动态电压调节的高能效处理器

    公开(公告)号:KR1020070061086A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:KR1020060043744

    申请日:2006-05-16

    Abstract: A high energy efficiency processor applying DVS is provided to maximize energy efficiency represented as 'performance/total power consumption' by using a simple structure, support a parallel processing architecture by using a plurality of processors, and realize a parallel processor including the plurality of processing elements performing parallel processing. A function unit block(200) performs operation according to an instruction received from an instruction register(110). Each parallel unit block(400) communicates data with an external device. An instruction interpreter(120) interprets the received instruction, and determines an operation mode of the function and parallel unit block required for executing the interpreted instruction. A function unit block operator(300) applies a different voltage level from the operation mode of the function unit block. A parallel unit block operator(500) applies the different voltage level from the operation mode of the parallel unit block. The function unit block includes more than two function units and more than two function unit operators for applying the different voltage level by control of the instruction interpreter.

    Abstract translation: 提供应用DVS的高能效处理器,通过使用简单的结构来最大限度地提高表现为“性能/总功耗”的能量效率,通过使用多个处理器支持并行处理架构,并实现包括多个处理的并行处理器 执行并行处理的元素。 功能单元块(200)根据从指令寄存器(110)接收的指令进行操作。 每个并行单元块(400)与外部设备通信数据。 指令解释器(120)解释接收到的指令,并且确定执行解释指令所需的功能和并行单元块的操作模式。 功能单元块操作器(300)从功能单元块的操作模式施加不同的电压电平。 并行单位块运算符(500)从并行单位块的运行模式应用不同的电压电平。 功能单元块包括多于两个功能单元和多于两个功能单元操作器,用于通过指令解释器的控制来应用不同的电压电平。

    재구성 데이터 메모리 관리 방법 및 장치
    4.
    发明公开
    재구성 데이터 메모리 관리 방법 및 장치 失效
    管理重构数据存储器的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020050054600A

    公开(公告)日:2005-06-10

    申请号:KR1020030087991

    申请日:2003-12-05

    CPC classification number: H04L67/025

    Abstract: 재구성형 SoC(System On a Chip) 구현시, 목적시스템 내부에서 재구성에만 사용되는 메모리의 공간을 없애고 이를 별도의 서버에 설치해 둔 뒤 재구성의 필요에 따라 구성용 데이터를 인터넷(유선 혹은 무선)을 통해 불러와 SoC의 내외부에 있는 메모리를 구성용으로 사용하게 하는 것을 그 특징으로 한다. 아울러 SoC 내외부의 메모리에 있는 데이터 중 재구성 후에도 보존되어야 할 데이터를 서버에 이전하여, 비워진 SoC 내외부의 메모리를 구성용 메모리로 사용 후 보존되어야 할 데이터를 복원시키는 방법을 제안한다.

    무선 충전을 위한 무선 충전 제어 장치 및 그를 이용한휴대용 무선 충전 시스템
    5.
    发明公开
    무선 충전을 위한 무선 충전 제어 장치 및 그를 이용한휴대용 무선 충전 시스템 无效
    无线充电控制器和便携式无线充电器

    公开(公告)号:KR1020020083332A

    公开(公告)日:2002-11-02

    申请号:KR1020010022860

    申请日:2001-04-27

    Abstract: PURPOSE: Provided are a wireless charging controller which can accept an aerial radio wave and convert the radio wave into voltage energy capable of charging, and a portable, wireless charger using the same. CONSTITUTION: The controller comprises a wireless, frequency receiving unit(41) for accepting a radio wave and selectively transmitting a radio wave having best sensitivity while monitoring a state of radio wave in order to prevent the discontinuance of charging due to disconnection of radio wave during charging; a frequency tuner(42) for tuning a radio wave transmitted from the frequency receiving unit in order to increase the utilization; a radio wave capturing unit(43) for transmitting the radio wave tuned by the frequency tuner to voltage converting unit; a voltage converter unit(44) for receiving a radio wave from the radio wave capturing unit and converting the radio wave into voltage energy capable of charging; and a booster unit(45) for boosting the voltage energy converted by the converter unit to voltage capable of charging a battery.

    Abstract translation: 目的:提供一种无线充电控制器,可以接受空中无线电波,并将无线电波转换为能够充电的电压能量,以及使用该收音机的便携式无线充电器。 构成:控制器包括一个无线频率接收单元(41),用于接收无线电波并选择性地发送具有最佳灵敏度的无线电波,同时监视无线电波的状态,以防止由于无线电波的断开而中止充电 充电; 频率调谐器(42),用于调谐从频率接收单元发送的无线电波,以便增加利用率; 无线电波捕获单元,用于将由频率调谐器调谐的无线电波发送到电压转换单元; 电压转换器单元(44),用于从无线电波捕获单元接收无线电波,并将无线电波转换为能够充电的电压能量; 以及用于将由转换器单元转换的电压能量升压到能够对电池充电的升压单元(45)。

    로컬 통신제어 칩
    6.
    发明授权
    로컬 통신제어 칩 失效
    本地通讯控制芯片

    公开(公告)号:KR100152706B1

    公开(公告)日:1998-11-02

    申请号:KR1019950052689

    申请日:1995-12-20

    Abstract: 본 발명은 로컬 통신제어 칩에 관한 것으로서, PPM방식의 입력 데이터를 디지털 로직으로 변환하는 프로토콜 디코더와, 출력에 해당하는 신호를 받아서 이들의 폴링 애지에 맞추어 해당 번지와 센서값을 직렬 데이터의 형태로 바꾸어 시스템 중앙처리장치로 보내어 주는 제2래치부와, 시스템 중앙처리장치에서 지정한 번지와 해당번지가 일치하였을 때 시스템 중앙처리장치에서 보내어 준 값들을 출력시키는 출력버퍼로 구성되어 있다.
    아울러 이들을 구현하기 위한 제어 카운터와 acount신호와 adstate신호에 의하여 결정이 되는 중앙처리장치로 보내는 신호의 일종인 av(x:1)병렬신호를 만들어주는 카운터로 구성되어 로칼 통신을 수행하고자 하는 시스템을 구성할 수가 있다.

    다이나믹 램 셀의 제조방법
    8.
    发明授权
    다이나믹 램 셀의 제조방법 失效
    动态Ram单元的制造方法

    公开(公告)号:KR1019970000224B1

    公开(公告)日:1997-01-06

    申请号:KR1019930016119

    申请日:1993-08-19

    Abstract: forming a P well layer(2) and an N well layer(3) on a P substrate(1) to define a gate region of a CMOS; depositing a nitride film(9) and an oxide film(10) to isolate the CMOS after defining a base region(7) and a collector region(8) of a VBT in the N well layer(3); etching a silicon of the collector region; forming a VBT base by etching the silicon on the base region(7); forming an emitter region(13) and a pillar-isolation oxide film(14); defining a base word line; planarizing an oxide film(16) by an etch-back; etching the polysilicon(15); forming a polysilicon oxide film(17) by oxidizing the polysilicon(15) except the base region(7); removing a nitride film(18) on the CMOS region and on the collector region; defining a storage region(22); and defining a plate region(24) by depositing a polysilicon after depositing a dielectric material(23).

    Abstract translation: 在P基板(1)上形成P阱层(2)和N阱层(3)以限定CMOS的栅极区域; 在限定N阱层(3)中的VBT的基极区域(7)和集电极区域(8)之后,沉积氮化物膜(9)和氧化膜(10)以隔离CMOS; 蚀刻集电区域的硅; 通过蚀刻基底区域(7)上的硅来形成VBT基底; 形成发射极区(13)和柱隔离氧化膜(14); 定义基本字线; 通过回蚀将氧化膜(16)平坦化; 蚀刻多晶硅(15); 通过氧化除了所述基极区域(7)之外的多晶硅(15),形成多晶硅氧化膜(17)。 去除所述CMOS区域和所述集电极区域上的氮化物膜(18); 限定存储区域(22); 以及通过在沉积介电材料(23)之后沉积多晶硅来限定板区(24)。

    전자기파 저감 장치 및 그것의 전자기파 저감 방법
    9.
    发明公开
    전자기파 저감 장치 및 그것의 전자기파 저감 방법 审中-实审
    用于降低其选择波的选择性减波装置和方法

    公开(公告)号:KR1020150087650A

    公开(公告)日:2015-07-30

    申请号:KR1020140007845

    申请日:2014-01-22

    Inventor: 여순일

    CPC classification number: H05K9/0071 H02J50/00 H02J50/70

    Abstract: 본발명은열전소자의전자기파를저감하는전자기파저감장치에관한것이다. 본발명의전자기파저감장치는열전소자에연결되어전자기파를감지하는전자기파감지부, 감지된전자기파가미리설정된기준임계값을초과하는지를판단하는전자기파환산부, 전자기파저감제어신호에응답하여전자기파를저감하는전자기파저감회로부, 및판단결과에따라전자기파저감제어신호를발생시키는회로동작제어부를포함한다.

    Abstract translation: 本发明涉及减少热电元件的电磁波的电磁波降低装置。 电磁波降低装置包括:电磁感测单元,与热电元件连接以便感测电磁波; 电磁转换单元,其确定所感测的电磁波是否超过预设的参考临界值; 电磁降低电路单元,其响应电磁降低控制信号以减小电磁波; 以及电路操作控制单元,其根据确定结果生成电磁减小控制信号。

    반도체 칩의 EMC 측정용 지그 및 이를 이용한 반도체 칩의 EMC 측정 방법
    10.
    发明公开
    반도체 칩의 EMC 측정용 지그 및 이를 이용한 반도체 칩의 EMC 측정 방법 无效
    用于测量半导体芯片的EMC的方法和使用该半导体芯片测量半导体芯片的EMC的方法

    公开(公告)号:KR1020130087150A

    公开(公告)日:2013-08-06

    申请号:KR1020120008210

    申请日:2012-01-27

    Inventor: 여순일

    CPC classification number: G01R1/04 G01R1/0408 G01R27/28 G01R31/002

    Abstract: PURPOSE: A jig for measuring the electro-magnetic compatibility (EMC) of a semiconductor chip and an EMC measuring method using the same are provided to measure the EMC of the semiconductor chip in various operating environments. CONSTITUTION: A jig for measuring the EMC of a semiconductor chip includes a memory unit (203) of the jig. A memory unit of the jig includes a normal data storage unit (301), an EMC data storage unit (303), a measuring data storage unit (305), and a data selective output unit (307). The normal data storage unit stores necessary information for the normal function test of a semiconductor chip. The EMC data storage unit stores the EMC information of components within a system according to various operating situations of the system in a data base (DB). The data selective output unit provides the information stored in the EMC data storage unit or the normal data storage unit to a chip mount unit. [Reference numerals] (201) Chip mount unit; (301) Normal data storage unit; (303) EMC data storage unit; (305) Measuring data storage unit; (AA) Data selective output unit; (BB) Memory unit

    Abstract translation: 目的:提供用于测量半导体芯片的电磁兼容性(EMC)的夹具和使用其的EMC测量方法来测量半导体芯片在各种操作环境中的EMC。 构成:用于测量半导体芯片的EMC的夹具包括夹具的存储单元(203)。 夹具的存储单元包括正常数据存储单元(301),EMC数据存储单元(303),测量数据存储单元(305)和数据选择输出单元(307)。 正常数据存储单元存储用于半导体芯片的正常功能测试的必要信息。 EMC数据存储单元根据系统在数据库(DB)中的各种操作情况将组件的EMC信息存储在系统内。 数据选择输出单元将存储在EMC数据存储单元或普通数据存储单元中的信息提供给芯片安装单元。 (附图标记)(201)芯片安装单元; (301)正常数据存储单元; (303)EMC数据存储单元; (305)测量数据存储单元; (AA)数据选择输出单元; (BB)存储单元

Patent Agency Ranking