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公开(公告)号：KR102238755B1
公开(公告)日：2021-04-12
申请号：KR1020170086652A
申请日：2017-07-07
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/02 , H01L21/225 , H01L21/324
CPC classification number: H01L21/02378 , H01L21/02225 , H01L21/2253 , H01L21/324
Abstract: 본 발명은 전력 반도체 소자의 제조방법에 관한 것으로, 기판의 상부에 이온주입 영역 및 이온주입 영역의 적어도 일부를 둘러싸는 가드링 영역을 형성하는 것, 기판 상에 이온주입 영역 및 가드링 영역을 덮는 제1 절연막을 형성하는 것, 제1 절연막을 열처리하는 것 및 제1 절연막 상에 제1 절연막 보다 두꺼운 제2 절연막을 형성하는 것을 포함하되, 기판은 실리콘 카바이드를 포함하고, 열처리는 질소(N) 원소를 포함하는 가스를 이용하여 수행되는 전력 반도체 소자의 제조방법이 제공된다.
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公开(公告)号：KR100572853B1
公开(公告)日：2006-04-24
申请号：KR1020030097048
申请日：2003-12-26
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L31/10
CPC classification number: H01L31/02161 , H01L31/02019 , H01L31/022408
Abstract: 본 발명은 반도체 위에 계면전하 또는 포획전하를 가지는 투광성의 비전도성 물질을 증착하여, 반도체 표면을 공핍시키고, 이 공핍영역을 빛의 감지영역으로 사용하는 광센서를 제작함으로서, 자외선 및 푸른색 영역 파장의 빛에 대한 감지 능력을 향상시키고, 가시광 및 적외선 영역의 광을 여과할 수 있으며, 일반적인 실리콘 CMOS 공정과도 양립할수 있는 광센서를 제작하는 것이다.
광센서, 포획전하, 계면전하, 공핍영역-
公开(公告)号：KR1020050065888A
公开(公告)日：2005-06-30
申请号：KR1020030097048
申请日：2003-12-26
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L31/10
CPC classification number: H01L31/02161 , H01L31/02019 , H01L31/022408
Abstract: 본 발명은 반도체 위에 계면전하 또는 포획전하를 가지는 투광성의 비전도성 물질을 증착하여, 반도체 표면을 공핍시키고, 이 공핍영역을 빛의 감지영역으로 사용하는 광센서를 제작함으로서, 자외선 및 푸른색 영역 파장의 빛에 대한 감지 능력을 향상시키고, 가시광 및 적외선 영역의 광을 여과할 수 있으며, 일반적인 실리콘 CMOS 공정과도 양립할수 있는 광센서를 제작하는 것이다.
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公开(公告)号：KR1020060060202A
公开(公告)日：2006-06-05
申请号：KR1020040099118
申请日：2004-11-30
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/7802 , H01L21/02068 , H01L21/2253 , H01L21/67075 , H01L29/66719 , H01L29/66818
Abstract: 본 발명은 고집적도의 VDMOS(Vertical Diffused Metal Oxide Semiconductor) 트랜지스터를 2번의 포토 마스크 작업으로 제작할 수 있는 단순화된 제조방법에 관한 것이다. 본 발명은 더욱 개량된 자기 정렬 공정을 이용하고, 금속 증착시 발생하는 스텝 커버리지를 이용하여 컨택홀 및 메탈의 마스킹 작업을 생략함으로써 2번의 마스킹 작업만으로 고집적도의 VDMOS를 제작하는 방법을 제공한다.
트랜지스터, 제조 방법, VDMOS, 자기 정렬, 스텝 커버리지-
公开(公告)号：KR1020060043957A
公开(公告)日：2006-05-16
申请号：KR1020040091710
申请日：2004-11-11
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/60
Abstract: 본 발명은 반도체 소자의 골드 범프 제조방법에 관한 것으로, 기판 상부의 소정 영역에 금속 패드를 형성한 후 상기 금속 패드의 소정 영역이 노출되도록 전체 상부에 보호층을 형성하는 단계와, 노출된 상기 금속 패드 및 상기 보호층의 상부에 소정 두께의 확산 방지층, 접착층 및 포토 레지스트층을 순차적으로 형성하는 단계와, 상기 확산 방지층의 소정 영역이 노출되도록 상기 포토 레지스트층 및 상기 접착층을 순차적으로 제거한 후 상기 결과물의 전체 상부에 씨드 금속층을 형성하는 단계와, 상기 씨드 금속층의 상부에 소정 두께의 골드 범프를 형성한 후 상기 포토 레지스트층의 일부가 노출되도록 상대적으로 두께가 얇은 부분에 형성된 골드 범프와 상기 씨드 금속층을 제거하는 단계와, 상기 접착층이 노출되도록 상기 금속 패드의 상측에 형성된 골드 범프 이외에 형성된 골드 범프, 상기 씨드 금속층 및 상기 포토 레지스트층을 제거한 후 노출된 상기 접착층과 상기 확산 방지층을 순차적으로 제거하는 단계를 포함함으로써, 포토 레지스트층의 들뜸 현상을 억제시킬 수 있으며, 노광 및 현상 과정에서 현상용액에 의한 씨드 금속층의 부식현상으로 범프의 전단강도가 약화되는 문제점을 억제할 수 있는 효과가 있다.
반도체 소자, 골드 범프, 금속 패드, 확산 방지층, 접착층, 씨드 금속층-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100578763B1
公开(公告)日：2006-05-12
申请号：KR1020040081397
申请日：2004-10-12
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/336
CPC classification number: H01L21/28587
Abstract: 본 발명은 티형 게이트의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자빔과 광 리소그라피 공정을 이용하여 한 종류의 감광막에서 두 종류의 형상을 형성하고, 소정 두께의 차단막을 형상반전용 상층 감광막과 하층 감광막 사이에 위치되도록 게재함으로써, 화합물 반도체 소자의 제작공정을 용이하게 할 수 있을 뿐만 아니라 제조수율의 향상 및 공정단계의 간략화에 의한 제작비용 절감 효과를 기대할 수 있는 효과가 있다.
화합물 반도체 소자, 티형 게이트, 감광막, 리소그라피-
公开(公告)号：KR100606288B1
公开(公告)日：2006-07-31
申请号：KR1020040099118
申请日：2004-11-30
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/28
Abstract: 본 발명은 고집적도의 VDMOS(Vertical Diffused Metal Oxide Semiconductor) 트랜지스터를 2번의 포토 마스크 작업으로 제작할 수 있는 단순화된 제조방법에 관한 것이다. 본 발명은 더욱 개량된 자기 정렬 공정을 이용하고, 금속 증착시 발생하는 스텝 커버리지를 이용하여 컨택홀 및 메탈의 마스킹 작업을 생략함으로써 2번의 마스킹 작업만으로 고집적도의 VDMOS를 제작하는 방법을 제공한다.
트랜지스터, 제조 방법, VDMOS, 자기 정렬, 스텝 커버리지-
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公开(公告)号：KR100518952B1
公开(公告)日：2005-10-06
申请号：KR1020030097264
申请日：2003-12-26
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L29/737
Abstract: 본 발명은 자기정렬된 에미터/베이스 구조를 가지는 실리콘-게르마늄(SiGe) 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조 방법에 관한 것이다. 베이스 상부에 고농도의 이온이 도핑된 다결정 혹은 비정질 실리콘막으로 익스트린식 베이스 역할을 하는 베이스 전극을 형성한다. 다결정 혹은 비정질 실리콘막은 증착시 두께 조절이 용이하여 익스트린식 베이스의 저항값을 충분히 감소시킬 수 있다. 익스트린식 베이스의 두께는 인트린식 베이스의 두께에 영향을 미치지 않기 때문에 인트린식 베이스는 얇게 형성하고, 익스트린식 베이스는 두껍게 형성하여 소자의 전기적 특성을 극대화시킬 수 있다.
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公开(公告)号：KR100651626B1
公开(公告)日：2006-12-01
申请号：KR1020050105262
申请日：2005-11-04
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L23/48 , H01L23/492
Abstract: A method for fabricating a bump of a semiconductor device is provided to prevent a seed metal layer from being corroded by a developing solution so that the sheer strength of a bump is prevented from being decreased, by forming a diffusion blocking layer and a seed metal layer after an exposure and development process is performed. A metal pad is formed in at least a predetermined region on a substrate(S302). A passivation layer is formed on the substrate, exposing at least a partial region of the metal pad(S303). A photoresist layer is formed on the metal pad and the passivation layer(S304). A diffusion blocking layer is formed on the metal pad and the photoresist layer(S306). A seed metal layer is formed on the diffusion blocking layer(S307). A bump is formed on the seed metal layer(S308). The photoresist layer formed under the seed metal layer is eliminated(S310). The diffusion blocking layer remaining on the sidewall of the bump is removed(S311).
Abstract translation: 提供一种用于制造半导体器件的凸块的方法，以防止种子金属层被显影溶液腐蚀，从而通过形成扩散阻挡层和种子金属层来防止凸块的剪切强度降低 在曝光和开发过程之后进行。 在衬底上的至少预定区域中形成金属焊盘（S302）。 钝化层形成在衬底上，暴露金属焊盘的至少一部分区域（S303）。 在金属焊盘和钝化层上形成光致抗蚀剂层（S304）。 在金属焊盘和光致抗蚀剂层上形成扩散阻挡层（S306）。 种子金属层形成在扩散阻挡层上（S307）。 在种子金属层上形成凸块（S308）。 在种子金属层下形成的光致抗蚀剂层被去除（S310）。 保留在凸块侧壁上的扩散阻挡层被去除（S311）。
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