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公开(公告)号：WO2010024629A2
公开(公告)日：2010-03-04
申请号：PCT/KR2009/004852
申请日：2009-08-28
IPC: H01L31/042
CPC classification number: H01L31/035218 , H01L31/18
Abstract: 본 발명은 넓은 파장 대역의 광 흡수가 가능하며, 높은 전자-정공 쌍 분리 효율을 가져 높은 광전 변환 효율을 갖는 반도체 기반 태양광 소자 및 그 제조방법을 제공하는 것이며, 상세하게 본 발명에 따른 태양광 소자의 제조방법은 a) p형 또는 n형 반도체 기판 상부에, 상기 반도체 기판과 동일 형의 불순물이 도핑된 매질 내부에 반도체 양자점이 형성된 반도체 양자점 박막을 형성하는 단계; b) 부분 에칭을 통하여 상기 반도체 양자점 박막을 관통하는 기공 어레이를 형성하는 단계; c) 상기 기공 어레이가 형성된 반도체 양자점 박막에 상기 반도체 기판과 상보적 불순물이 도핑된 반도체를 증착하는 단계; d) 상기 상보적 불순물이 도핑된 반도체 상에 투명전도막 및 상부전극을 순차적으로 형성하고, 상기 반도체 기판 하부에 하부전극을 형성하는 단계;를 포함하여 수행되는 특징이 있다.
Abstract translation:
本发明使得能够在宽的波长带的光的吸收，和高电子是提供一种基于半导体的太阳能电池，并具有高光电转换效率带来空穴对分离效率的制造方法中， 具体地，根据本发明的一个）的p型或n型半导体衬底中的光电器件的制造方法中，形成了半导体量子点形成于其中的薄膜半导体量子点具有相同的掺杂类型介质中的半导体衬底的杂质 。 b）通过局部蚀刻形成穿过半导体量子点薄膜的孔阵列; c）在其上形成孔阵列的半导体量子点薄膜中，在半导体衬底上沉积掺杂有互补杂质的半导体; 和d）在掺杂有互补杂质的半导体上依次形成透明导电膜和上电极，并在半导体衬底下方形成下电极。
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公开(公告)号：KR101717120B1
公开(公告)日：2017-03-27
申请号：KR1020150005723
申请日：2015-01-13
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G12B5/00
Abstract: 본발명은상면에서로폭방향으로일정간격이격되게형성되는한 쌍의함입홈(110) 및상기한 쌍의함입홈(110) 사이에수용홈(120)이형성되는베이스프레임(100); 상기함입홈(110)에함입되는가이드레일(200); 상기가이드레일(200)을따라길이방향으로슬라이딩가능하게설치되는가이드덮개(300);상기가이드덮개(300)의상면에결합되는이송테이블(400); 및상기수용홈(120)에설치되어상기이송테이블(400)을길이방향으로이송시키는이송유니트(500);를포함하는것을특징으로하는리니어스테이지(1000)에관한것이다.
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公开(公告)号：KR101360891B1
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：KR1020120039524
申请日：2012-04-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N15/02 , G01N15/14 , G01N23/225 , H01J37/26
Abstract: 본 발명에 의한 입자측정장치는, 전자생성 및 집속이 이루어지며, 내부를 진공으로 유지하는 메인 프레임; 상기 메인 프레임과 결합되는 제 1 챔버; 상기 제 1 챔버의 내부 공간에 설치되는 입자 포집유닛; 상기 제 1 챔버에 상기 입자 포집유닛을 바라보도록 설치되어, 상기 입자 포집유닛에 포집된 입자를 광학적으로 측정 가능한 제 1 검출유닛; 상기 제 1 챔버에 상기 입자 포집유닛을 바라보도록 설치되어, 상기 입자 포집유닛에 입자를 주입하는 제 2 검출유닛;을 포함하며, 상기 입자 포집유닛은, 상기 제 1 검출유닛의 스테이지 역할과, 상기 제 2 검출유닛으로부터 주입된 입자의 포집 역할을 동시에 수행하는 것을 특징으로 한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020130116986A
公开(公告)日：2013-10-25
申请号：KR1020120039524
申请日：2012-04-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N15/02 , G01N15/14 , G01N23/225 , H01J37/26
Abstract: PURPOSE: A particle composite property measuring device is provided to enable the correction of the size distribution on a real time by correcting the size of particles grasped by observing images. CONSTITUTION: A particle composite property measuring device includes a main frame (10), a first chamber (30), a particle collection unit (50), a first detection unit (20), and a second detection unit (40). The main frame generates and collects electrons and maintains the vacuum state of the inside. The first chamber is joined to the main frame. The particle collection member is installed inside an internal space (31) of the first chamber. The first detection unit is installed on the first chamber to face the particle collection unit and optically measure the particles collected by the particle collection unit. The second detection unit is installed on the first chamber to face the particle collection unit and injects the particles into the particle collection unit. The particle collection unit performs a function of a stage for the first detection unit and collects the injected articles from the second detection unit.
Abstract translation: 目的：提供一种粒子复合特性测量装置，通过校正通过观察图像掌握的颗粒的尺寸，实时地校正尺寸分布。 构成：颗粒复合材料性质测量装置包括主框架（10），第一室（30），颗粒收集单元（50），第一检测单元（20）和第二检测单元（40）。 主框架产生和收集电子并保持内部的真空状态。 第一个室连接到主框架。 颗粒收集构件安装在第一室的内部空间（31）内。 第一检测单元安装在第一室上以面对颗粒收集单元并且光学地测量由颗粒收集单元收集的颗粒。 第二检测单元安装在第一室上以面对颗粒收集单元并将颗粒注入颗粒收集单元。 粒子收集单元对第一检测单元执行阶段的功能，并从第二检测单元收集注入的物品。
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公开(公告)号：KR1020120036012A
公开(公告)日：2012-04-17
申请号：KR1020100097656
申请日：2010-10-07
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: B05D1/36
Abstract: PURPOSE: A porous film using a patterned substrate and a manufacturing method thereof are provided to adjust concentration of precursor or velocity during a spin coating process, thereby adjusting thickness of the porous film in nano-scale. CONSTITUTION: A manufacturing method of a porous film using a patterned substrate comprises next steps: forming a first nano spear pattern on a substrate(100); forming a second nano-sphere pattern and porosity grooves by etching a nano-sphere patterned substrate; forming lumbar and merlon of pattern on a substrate by eliminating a second nano-sphere pattern; forming a source matter vapor deposition film by spreading source material(210) on the substrate using a source material application device(200); forming a meso porous film(230) on the substrate in which the source matter vapor deposition film is formed by using a spin coating method; and forming a crystallization porous film(240) through a drying and a thermal processes.
Abstract translation: 目的：提供使用图案化基板的多孔膜及其制造方法，以在旋涂过程中调节前驱体的浓度或速度，从而调整纳米尺度的多孔膜的厚度。 构成：使用图案化衬底的多孔膜的制造方法包括以下步骤：在衬底（100）上形成第一纳米矛纹图案; 通过蚀刻纳米球形图案衬底形成第二纳米球形图案和孔隙度凹槽; 通过消除第二纳米球形图案在基底上形成图案的腰部和花序; 通过使用源材料施加装置（200）将源材料（210）扩展到所述基板上来形成源物质蒸镀膜; 在其上通过旋涂法形成源物质蒸镀膜的基板上形成介孔多孔膜（230）; 以及通过干燥和热处理形成结晶多孔膜（240）。
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公开(公告)号：KR1020160087130A
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：KR1020150005723
申请日：2015-01-13
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G12B5/00
CPC classification number: G12B5/00
Abstract: 본발명은상면에서로폭방향으로일정간격이격되게형성되는한 쌍의함입홈(110) 및상기한 쌍의함입홈(110) 사이에수용홈(120)이형성되는베이스프레임(100); 상기함입홈(110)에함입되는가이드레일(200); 상기가이드레일(200)을따라길이방향으로슬라이딩가능하게설치되는가이드덮개(300);상기가이드덮개(300)의상면에결합되는이송테이블(400); 및상기수용홈(120)에설치되어상기이송테이블(400)을길이방향으로이송시키는이송유니트(500);를포함하는것을특징으로하는리니어스테이지(1000)에관한것이다.
Abstract translation: 本发明的目的是提供一种线性平台，其能够防止可滑动地连接到导轨上的传送台，导轨通过引导罩在长度方向上以一定角度沿扭曲状态移动，防止导轨与 具有沿长度方向一定角度的扭曲状态的基架。 根据本发明，线状平台（1000）包括：基座框架（100），其具有在其宽度方向上在其上表面上彼此间隔开的一对凹槽（110）和容纳槽（ 120）形成在所述一对凹槽（110）之间; 插入凹槽（110）中的导轨（200）; 导向罩（300），其可沿导轨（200）沿其纵向方向滑动; 转接台（400），其连接到导向罩（300）的上表面; 以及转移单元（500），其安装在所述容纳槽（120）中并沿其长度方向传送所述转印台（400）。
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公开(公告)号：KR1020160071527A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：KR1020140178349
申请日：2014-12-11
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은반데르발스포스를이용한나노시험편제작장치, 이를이용한나노시험편제작방법, 나노시험편제작시스템에관한것이다. 이를위하여광학현미경에구비되고, 나노시험지그및 나노시료안착부가구성되는스테이지; 및단부에팁이구성되고, 팁에나노시료안착부에안착된나노시료가부착되며, 나노시료를들어올리는나노조작기;를포함하고, 나노시료안착부와나노시료사이에작용되는제1반데르발스포스의크기가팁과나노시료사이에작용되는제2반데르발스포스의크기보다작으며, 제2반데르발스포스의크기보다나노시험지그와나노시료사이에작용되는제3반데르발스포스의크기가더 크고, 나노시료안착부에서나노시험지그로나노시료를이동시켜서나노시험편을제작하는것을특징으로하는반데르발스포스를이용한나노시험편제작장치가제공될수 있다. 이에따르면 FIB cutting 및 Pt welding을이용하지않고, 반데르발스포스및 적정점도의접착제(예를들면 UV 글루)를이용하여나노시험편을제작하게되므로 FIB cutting에의한나노와이어의손상과 Pt welding에의한나노와이어의프리스탠딩부분의오염을방지할수 있는효과가있다.
Abstract translation: 本发明涉及使用范德华力的纳米尺度试样制造装置，方法和系统。 该装置包括：设置在光学显微镜上并配置有纳米尺度测试夹具和纳米级样品放置单元的台阶; 以及在一端具有尖端的纳米尺度操纵器，其附接有放置在纳米尺度样品放置单元上的纳米级样品，以提升纳米级样品。 纳米级样品放置单元和纳米尺度样品之间的第一个范德华力小于尖端和纳米级样品之间的第二范德华力。 第二范德华力小于纳米尺度测试夹具和纳米级样品之间的第三范德华力，通过将纳米尺度样品从纳米尺度样品放置单元移动到纳米尺度测试夹具来生产纳米级样品。 根据本发明，使用范德华力制造纳米尺度样品和具有适当粘度的粘合剂（例如UV胶），而不使用FIB切割和Pt焊接，具有防止对纳米线的损伤的作用 造成FIB切割; 并且由于Pt焊接在纳米线的独立部分上的污染。
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