Halbleitervorrichtung mit lokalen Transistorverbindungsleitungen

    公开(公告)号:DE102012219375B4

    公开(公告)日:2019-11-21

    申请号:DE102012219375

    申请日:2012-10-24

    Abstract: Halbleitervorrichtung (20), umfassend:ein Halbleitersubstrat (22);einen ersten Transistor (24a) und einen zweiten Transistor (24b), die auf dem Halbleitersubstrat (22) angeordnet sind, wobei jeder Transistor (24a, 24b) einen Sourcebereich (26a, 26b), einen Drainbereich (28a, 28b) und einen Gatebereich (30a, 30b) umfasst, wobei sich der Gatebereich (30a) des ersten Transistors (24a) als Teil eines ersten geradlinigen Streifens (31a) in Längsrichtung erstreckt und sich der Gatebereich (30b) des zweiten Transistors (24b) als Teil eines zweiten geradlinigen Streifens (31b) in Längsrichtung erstreckt, wobei die ersten und zweiten Streifen (31a, 31b) zueinander parallel angeordnet und voneinander beabstandet sind;eine erste CB-Schicht (36a), die eine mit dem Gatebereich (30a) des ersten Transistors (24a) elektrisch verbundene lokale Verbindungsschicht ist;eine zweite CB-Schicht (36b), die eine mit dem Gatebereich (30b) des zweiten Transistors (24b) elektrisch verbundene lokale Verbindungsschicht ist; undeine CA-Schicht (34), die eine sich in Längsrichtung zwischen einem ersten Ende (40) und einem zweiten Ende (42) erstreckende lokale Verbindungsschicht (34) ist, wobei die CA-Schicht (34) die erste CB-Schicht (36a) und die zweite CB-Schicht (36b) elektrisch verbindet;wobei die erste CB-Schicht (36a) nahe dem ersten Ende (40) der CA-Schicht (34) mit dieser elektrisch verbunden ist und die zweite CB-Schicht (36b) nahe dem zweiten Ende (42) der CA-Schicht (34) mit dieser elektrisch verbunden ist,wobei die erste CB-Schicht (36a), die zweite CB-Schicht (36b) und die CA-Schicht (34) zwischen einer ersten Metallschicht (33) über den Sourcebereichen (26a, 26b), den Drainbereichen (28a, 28b) und den Gatebereichen (30a, 30b) der ersten und zweiten Transistoren (24a, 24b) und dem Halbleitersubstrat (22) angeordnet sind, undwobei sich die CA-Schicht (34) im Allgemeinen parallel zu den ersten und zweiten Streifen (31a, 31b) erstreckt und im Allgemeinen senkrecht zu den ersten und zweiten CB-Schichten (36a, 36b) angeordnet ist.

    Verfahren zum Bilden von Replacement-Gate-Strukturen für vertikale Transistoren

    公开(公告)号:DE102019208418A1

    公开(公告)日:2020-01-09

    申请号:DE102019208418

    申请日:2019-06-11

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft verschiedene Ausführungsformen eines Verfahrens zum Bilden von Replacement-Gate-Strukturen für vertikale Transistoren. Ein hier offenbartes anschauliches Verfahren umfasst unter anderem ein Bilden von ersten und zweiten vertikalen Halbleiterstrukturen, ein Bilden von ersten und zweiten Opferabstandshaltern entsprechend neben den Kanalbereichen der ersten und zweiten vertikalen Halbleiterstrukturen, wobei ein Ringabstandshalter neben den ersten und zweiten Opferabstandshaltern gebildet wird, ein Entfernen von Endabschnitten des Ringabstandshalters, um Endabschnitte der ersten und zweiten Opferabstandshalter freizulegen, ein Ersetzen des ersten Opferabstandshalters durch eine erste Replacement-Gate-Struktur, die eine erste Gateisolationsschicht und ein erstes leitfähiges Gate-Material umfasst, und ein Ersetzen des zweiten Opferabstandshalters durch eine zweite Replacement-Gate-Struktur, die eine zweite Gateisolationsschicht und ein zweites leitfähiges Gate-Material umfasst, ein Entfernen verbleibender Teile des Ringabstandshalters, um einen Abstandshalterhohlraum zu definieren, und ein Bilden eines dielektrischen Materials in dem Abstandshalterhohlraum.

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