VERFAHREN ZUM BILDEN VON SILICID, GERMANID ODER GERMANOSILICID IN STRUKTUREN, DIE EINEN NANODRAHT AUFWEISEN

    公开(公告)号:DE112012000272B4

    公开(公告)日:2014-05-15

    申请号:DE112012000272

    申请日:2012-02-02

    Applicant: IBM

    Abstract: Verfahren zum Bilden eines Silicids, Germanids oder Germanosilicids in einer dreidimensionalen Silicium-, Germanium- oder Silicium-Germanium-Struktur, wobei die Struktur einen Nanodraht aufweist wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Implantieren von wenigstens einem Element in die Struktur; Abscheiden von wenigstens einem Metall auf die Struktur; und Tempern der Struktur, um das Silicium, Germanium oder Silicium-Germanium mit dem Metall zu durchsetzen, um das Silicid, Germanid oder Germanosilicid zu bilden, wobei das implantierte Element dazu dient, morphologischen Verfall des Silicids, Germanids oder Germanosilicids zu verhindern, wobei durch das Implantieren eine entsprechende Bildungstemperatur des Silicids, Germanids oder Germanosilicids und eine entsprechende Temperatur, die für den morphologischen Verfall des Silicids, Germanids oder Germanosilicids erforderlich ist, erhöht werden.

    GESTALTEN EINER GRENZFLÄCHE ZUM OPTIMIEREN VON METALL-III-V-KONTAKTEN

    公开(公告)号:DE102013201076A1

    公开(公告)日:2013-08-08

    申请号:DE102013201076

    申请日:2013-01-24

    Applicant: IBM

    Abstract: Es werden Techniken zum Herstellen selbstjustierter Kontakte in III-V-FET-Einheiten bereitgestellt. Gemäß einem Aspekt weist ein Verfahren zum Herstellen eines selbstjustierten Kontakts zu III-V-Materialien die folgenden Schritte auf. Mindestens ein Metall wird auf einer Oberfläche des III-V-Materials abgeschieden. Das mindestens eine Metall wird mit einem oberen Teil des III-V-Materials zur Reaktion gebracht, um eine Metall-III-V-Legierungsschicht zu bilden, die den selbstjustierten Kontakt darstellt. Ein Ätzprozess wird angewendet, um alle bei der Reaktion nicht umgesetzten Teile des mindestens einen Metalls zu entfernen. Mindestens eine Verunreinigung wird in die Metall-III-V-Legierungsschicht implantiert. Die mindestens eine in die Metall-III-V-Legierungsschicht implantierte Verunreinigung wird zu einer Grenzfläche zwischen der Metall-III-V-Legierungsschicht und dem darunterliegenden III-V-Material diffundiert, um einen Kontaktwiderstand des selbstjustierten Kontakts zu verringern.

    Adapting speech models based on a condition set by a source

    公开(公告)号:GB2493413A

    公开(公告)日:2013-02-06

    申请号:GB201207210

    申请日:2012-04-25

    Applicant: IBM

    Abstract: A method of maintaining and supplying a plurality of speech models comprises storing a plurality of speech models and metadata for each stored speech model, receiving from a source a query for a speech model, the query comprising one or more conditions, determining the speech model with metadata most closely matching the supplied condition(s), supplying to the source the determined speech model, receiving from the source a refined speech model and storing the refined speech model. The condition can identify an environment at the source.

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