METHOD AND USE OF A DEVICE FOR APPLYING COATINGS ONTO BAND-SHAPED STRUCTURES DURING THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR COMPONENTS
    4.
    发明申请
    METHOD AND USE OF A DEVICE FOR APPLYING COATINGS ONTO BAND-SHAPED STRUCTURES DURING THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR COMPONENTS 审中-公开
    方法和装置的用途施用涂料在磁带状结构半导体元件制造

    公开(公告)号:WO2005101458A3

    公开(公告)日:2006-01-19

    申请号:PCT/DE2005000639

    申请日:2005-04-13

    Abstract: The invention relates to a device (35) and a method for applying a thin organic or inorganic layer to individual component positions of band-shaped structures (1). Said layer can result in improved or optimized adhesion between a coated surface and a plastic housing material. In addition, said layer can be used as an anticorrosive layer, electrically insulating layer, or dielectric for the coated surfaces. In order to selectively apply the layer, the inventive device (35) comprises a jet printer (2) with several electronically controlled jet heads (4-7). Said jet printer (2) selectively coats the top face (17) of the band-shaped structures (1) in a first coating position (15) while selectively coating the bottom face (18) thereof in a second coating position (16).

    Abstract translation: 本发明涉及一种装置(35)和用于施加于带状结构(1)的单独的部件的位置的薄的有机或无机层的方法。 该层可提供一被涂覆表面和塑料壳体组合物之间的改进的或优化的粘附性。 此外,层可以作为腐蚀保护层,电绝缘层或作为电介质的涂覆表面。 对于层的选择性施加,该装置(35)具有多个电子可控制的喷墨头(4-7)一个束打印机(2)。 涂在第一涂层位置(15)的束打印机(2),带状结构(1)选择性地在顶部(17)和在第二涂布位置(16)选择性地在带形结构的底部(18)(1)。

    Elektronische Komponente
    6.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102015115999B4

    公开(公告)日:2021-05-27

    申请号:DE102015115999

    申请日:2015-09-22

    Abstract: Elektronische Komponente (90, 120, 210, 240), umfassend:eine dielektrische Schicht (104, 129, 212);ein in die dielektrische Schicht (104, 129, 212) eingebettetes vertikales Leistungstransistorbauelement (91, 121, 211, 241), wobei das vertikale Leistungstransistorbauelement (91, 121, 211, 241) eine erste Oberfläche (94, 124, 218, 245), welche ein erstes Stromelektrodenpad (92, 122, 216, 243) und ein Steuerelektrodenpad (93, 123, 217, 244) umfasst, und eine zweite Oberfläche (96, 126, 220, 247), welche ein zweites Stromelektrodenpad (95, 125, 219, 246) umfasst, umfasst;ein elektrisch leitendes Substrat (97, 128, 223, 249); undeine Umverteilungsschicht (106, 133, 213, 267), umfassend eine erste Oberfläche, eine zweite Oberfläche, die mindestens einen Außenkontakt bereitstellt und ein erstes elektrisch leitendes Bauteilelement,wobei das zweite Stromelektrodenpad (95, 125, 219, 246) auf dem elektrisch leitenden Substrat (97, 128, 223, 249) elektrisch leitend montiert ist und das erste elektrisch leitende Bauteilelement einen Stapel (100, 137, 224, 261) mit mindestens zwei übereinander angeordnete Stiftbolzen umfasst und sich zwischen dem elektrisch leitenden Substrat (97, 128, 223, 249) und der ersten Oberfläche der Umverteilungsschicht erstreckt, wobei eine Vielzahl von Stiftbolzen (98, 131, 221) Seite an Seite auf dem ersten Stromelektrodenpad (92, 122, 216, 243) angeordnet sind und ein einzelner Stiftbolzen (99, 131, 221) auf dem Steuerelektrodenpad (93, 123, 217, 244) angeordnet ist, wobei die Höhe des Stapels (100, 137, 224, 261) von Stiftbolzen die gleiche ist wie die Summe der Höhe des vertikales Leistungstransistorbauelement (91, 121, 211, 241) und des Stiftbolzens (99, 131, 221), der auf dem Steuerelektrodenpad (93, 123, 217, 244) angeordnet ist.

    Halbleitervorrichtung mit Abtastfunktionalität

    公开(公告)号:DE102013111225B4

    公开(公告)日:2020-06-04

    申请号:DE102013111225

    申请日:2013-10-11

    Abstract: Halbleiter-Package, das umfasst:einen Leistungs-Halbleiterchip, der eine Steuerelektrode, eine erste Lastelektrode und eine zweite Lastelektrode aufweist;einen ersten Anschlussleiter, der elektrisch an die Steuerelektrode gekoppelt ist;einen zweiten Anschlussleiter, der elektrisch an die erste Lastelektrode gekoppelt ist;einen dritten Anschlussleiter, der elektrisch an die zweite Lastelektrode gekoppelt ist; undeinen Temperatursensor, der elektrisch an den ersten und zweiten Anschlussleiter gekoppelt ist, derart, dass eine Temperatur des Leistungs-Halbleiterchips an dem dritten Anschlussleiter ausgewertet werden kann.

    Chipanordnungen und ein Verfahren zum Herstellen einer Chipanordnung

    公开(公告)号:DE102013110404B4

    公开(公告)日:2019-07-25

    申请号:DE102013110404

    申请日:2013-09-20

    Abstract: Chipanordnung (342), die Folgendes aufweist:einen Chipträger (202);eine Spannungsversorgungsleitung (206);einen Erfassungsanschluss (212);einen über dem Chipträger (202) angeordneten Chip (216), wobei der Chip (216) einen ersten Anschluss (218) undeinen zweiten Anschluss (224) aufweist, wobei der erste Anschluss (218) den Chipträger (202) elektrisch kontaktiert; undein über dem zweiten Anschluss (224) ausgebildetes elektrisch leitendes Element (232, 332), wobei das elektrisch leitende Element (232, 332) einen Kontaktclip aufweist; der:die Spannungsversorgungsleitung (206) elektrisch an den zweiten Anschluss (224) koppelt; undden zweiten Anschluss (224) elektrisch an den Erfassungsanschluss (212) koppelt;wobei der Erfassungsanschluss (212) mindestens- einen Teil einer Spannungserfassungsschaltung bildet, die konfiguriert ist zum Messen einer Spannung des zweiten Anschlusses (224), oder- mindestens einen Teil einer Stromerfassungsschaltung bildet, die konfiguriert ist zum Messen eines Stroms des zweiten Anschlusses (224).

    Halbleiterbrückenschaltung und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterbrückenschaltung

    公开(公告)号:DE102013015942B4

    公开(公告)日:2019-07-18

    申请号:DE102013015942

    申请日:2013-09-25

    Abstract: Halbbrückenschaltung (400), umfassend:einen ersten Träger (401_1), einen zweiten Träger (401_2) und einen dritten Träger (401_3);einen ersten Leistungshalbleiterchip (402_1), der eine erste Hauptfläche und eine zweite Hauptfläche gegenüber der ersten Hauptfläche umfasst, wobei eine Source-Elektrode auf der ersten Hauptfläche angeordnet ist und der erste Leistungshalbleiterchip (402_1) so auf dem ersten Träger (401_1) montiert ist, dass die zweite Hauptfläche dem ersten Träger (401_1) zugewandt ist und eine Drain-Elektrode mit dem ersten Träger (401_1) elektrisch verbunden ist;einen zweiten Leistungshalbleiterchip (402_2), der eine erste Hauptfläche und eine zweite Hauptfläche gegenüber der ersten Hauptfläche umfasst, wobei eine Source-Elektrode auf der ersten Hauptfläche angeordnet ist und der zweite Leistungshalbleiterchip (402_2) so auf dem zweiten Träger (401_2) montiert ist, dass die zweite Hauptfläche dem zweiten Träger (401_2) zugewandt ist;einen Logikhalbleiterchip (402_3) auf dem dritten Träger (401_3), der die Leistungshalbleiterchips (402_1, 402_2) steuert;eine Kontaktklammer (450), die an den ersten Träger (401_1) und die Source-Elektrode des zweiten Leistungshalbleiterchips (402_2) gekoppelt ist und die Drain-Elektrode des ersten Leistungshalbleiterchips (402_1) elektrisch mit der Source-Elektrode des zweiten Leistungshalbleiterchips (402_2) verbindet;einen Verkapselungskörper (404), in den die Halbleiterchips (402_1, 402_2, 402_3) eingebettet sind;einen als integrales Teil ausgebildeten Kontaktclip (203), wobei der Kontaktclip (203) umfasst:einen Bondungsabschnitt (203_1), der an die Source-Elektrode des ersten Leistungshalbleiterchips (402_1) gebondet ist;einen ersten Abschnitt (203_3), der einen ersten seitlichen Rand des Kontaktclips (203) umfasst und einen externen Anschluss der Halbbrückenschaltung (400) bildet, wobei der externe Anschluss an dem Verkapselungskörper (404) frei liegt;einen zweiten Abschnitt (233_3), der einen zweiten seitlichen Rand des Kontaktclips umfasst, wobei der zweite Abschnitt (233_3) über eine Bondschicht (461) mit einem getrennt von den Trägern (401_1, 401_2, 401_3) ausgestalteten Außenanschlusselement (460) verbunden ist, wobei der zweite seitliche Rand des Kontaktclips (203) in den Verkapselungskörper (404) eingebettet ist und das Außenanschlusselement (460) an dem Verkapselungskörper frei liegt;wobei der erste seitliche Rand und der zweite seitliche Rand auf verschiedenen Höhen relativ zu einer unterseitigen Ebene der Träger (401_1, 401_2, 401_3) angeordnet sind.

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