Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelement

    公开(公告)号:DE102010035489A1

    公开(公告)日:2012-03-01

    申请号:DE102010035489

    申请日:2010-08-26

    Abstract: Es wird ein Halbleiterbauelement mit einer Halbleiterschichtenfolge (2) aus einem nitridischen Verbindungshalbleitermaterial auf einem Substrat (1) angegeben, wobei das Substrat (1) eine der Halbleiterschichtenfolge (2) zugewandte Silizium-Oberfläche aufweist und die Halbleiterschichtenfolge (2) einen aktiven Bereich (21) und zwischen dem Substrat (1) und dem aktiven Bereich (21) zumindest eine Zwischenschicht (3) aus einem sauerstoffdotierten AlN-Verbindungshalbleitermaterial aufweist. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements angegeben.

    Halbleiterchip
    3.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102009060747B4

    公开(公告)日:2025-01-09

    申请号:DE102009060747

    申请日:2009-12-30

    Abstract: Halbleiterchip (1), der einen Halbleiterkörper (2) mit einer Halbleiterschichtenfolge aufweist, wobei- die Halbleiterschichtenfolge eine n-leitende Mehrschichtstruktur (21), eine p-leitende Halbleiterschicht (22) und einen zur Erzeugung von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (20), der zwischen der n-leitenden Mehrschichtstruktur (21) und der p-leitenden Halbleiterschicht (22) angeordnet ist, aufweist;- in der n-leitenden Mehrschichtstruktur (21) ein Dotierprofil ausgebildet ist, das zumindest eine Dotierspitze (4) aufweist,- die n-leitende Mehrschichtstruktur (21) eine Quantenstruktur mit einer Mehrzahl von Quantenschichten (211) aufweist, die zwischen Barriereschichten (212) angeordnet sind,- das Dotierprofil eine weitere Dotierspitze (41) aufweist,- ein Teilbereich (216) der Quantenstruktur der n-leitenden Mehrschichtstruktur (21) mittels der weiteren Dotierspitze (41) eine hohe Dotierkonzentration aufweist, und- zwischen der weiteren Dotierspitze (41) und der Dotierspitze (4) ein niedrig n-leitend dotierter Bereich (45) der Quantenstruktur ausgebildet ist, wobei der niedrig n-leitend dotierte Bereich (45) mindestens eine Quantenschicht (211) und mindestens eine Barriereschicht (212) enthält.

    Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterschichtenfolge, strahlungsemittierender Halbleiterchip und optoelektronisches Bauteil

    公开(公告)号:DE102010048617A1

    公开(公告)日:2012-04-19

    申请号:DE102010048617

    申请日:2010-10-15

    Abstract: Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterschichtenfolge auf Basis von Nitrid-Verbindungshalbleitermaterial und mit einer mikrostrukturierten Außenfläche sowie ein damit hergestellter Halbleiterchip und ein optoelektronisches Bauteil mit einem derartigen Halbleiterchip angegeben. Das Verfahren umfasst folgende Schritte: A) Aufwachsen zumindest einer ersten Halbleiterschicht der Halbleiterschichtenfolge auf einem Substrat; B) Aufbringen einer Ätzstoppschicht auf der ersten Halbleiterschicht; C) Aufwachsen zumindest einer weiteren Halbleiterschicht auf der in Schritt B) erhaltenen Schichtenfolge; D) Trennen der Halbleiterschichtenfolge vom Substrat, indem dem eine Trennzone der Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise entfernt wird; E) Ätzen der erhaltenen Trennfläche der Halbleiterschichtenfolge mittels eines Ätzmittels, so dass eine Mikrostrukturierung der ersten Halbleiterschicht erfolgt und die mikrostrukturierte Außenfläche gebildet wird.

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