公开(公告)号：DE112020005645A5

公开(公告)日：2022-09-01

申请号：DE112020005645

申请日：2020-11-03

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： BINDER MICHAEL ,  RÜCKERL ANDREAS ,  ZEISEL ROLAND ,  MEYER TOBIAS ,  NEVELING KERSTIN ,  RAFAEL CHRISTINE ,  RICHTER MOSES ,  HARTMANN RAINER ,  VIERHEILIG CLEMENS

IPC: H01L33/14 ,  H01L33/08 ,  H01L33/44

公开(公告)号：DE102021108647A1

公开(公告)日：2022-10-13

申请号：DE102021108647

申请日：2021-04-07

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： BRANDL MICHAEL ,  RICHTER MOSES

IPC: H01L51/56 ,  G01M11/02 ,  G01Q60/18 ,  G01R31/26 ,  H01L21/66 ,  H01L33/00

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen zumindest einer Kennlinie eines optoelektronischen Bauelementes umfassend eine Messnadel und einen der Messnadel zugeordneten optoelektronischen Detektor. Die Messnadel weist von deren Spitze ausgehend ein optisches Loch, insbesondere ein bis zu einer der Spitze gegenüberliegenden Seite der Messnadel reichendes optisches Durchgangsloch auf und der optoelektronische Detektor ist am Ende des optischen Durchgangsloches oder in dem optischen Durchgangsloch angeordnet. Ferner weist die Messnadel einen ersten elektrisch leitfähigen Bereich auf, der sich von der Spitze der Messnadel in Richtung der der Spitze gegenüberliegenden Seite der Messnadel erstreckt.