Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system and method for active thermal control in multilayer IC devices.SOLUTION: Thermal conductivity in a stacked IC device 30 can be improved by constructing one or more active temperature control devices within the stacked IC device. The control devices are thermal electric (TE) devices 300, such as Peltier devices. The TE devices can then be selectively controlled to remove or add heat, as necessary, to maintain the stacked IC device within a given temperature range. The active temperature control elements can be P-N junctions created in the stacked IC device and can serve to move the heat laterally.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photovoltaic cell including a photovoltaic layer having a first node and a second node.SOLUTION: A first conductive layer is electrically coupled to the second node of the photovoltaic layer so that the first conductive layer does not block light from the photovoltaic layer. A second conductive layer is adjacent to but electrically insulated from the first conductive layer so that the second conductive layer is positioned where it does not block light from the photovoltaic layer. At least one through silicon via is coupled to the first node of the photovoltaic layer and the second conductive layer, but is electrically insulated from at least a portion of the photovoltaic layer and the first conductive layer.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent corrosive elements (or at least an oxidizing agent) from making contact with metal connections at an interface between two layers of a stacked IC device.SOLUTION: When two layers 101, 102 are positioned in close proximity to each other, a gap 120 is formed at a boundary of surfaces of the two layers 101, 102. This gap 120 is bounded by a peripheral seal 110, 113 between the layers. In one embodiment, a vacuum is created within the gap 120, thereby reducing a corrosive atmosphere within the gap 120. In another embodiment, the gap 120 is filled with an inert gas, such as argon.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a 3-D integrated circuit lateral heat dissipation.SOLUTION: By filling an air gap between steps of a stacked IC device with a thermally conductive material, heat generated at one or more locations within one of the steps can be laterally displaced. The lateral displacement of the heat can be along the full length of the step and the thermal material can be electrically insulated. Through silicon-vias (TSVs) can be constructed at certain locations to assist in heat dissipation away from thermally troubled locations.
Abstract:
Un amplificador tridimensional de radiofrecuencia en chip (1600), comprendiendo el chip un sustrato que tiene un lado superior y un lado inferior, comprendiendo el amplificador de radiofrecuencia: un primer transformador en chip (1602) que comprende un primer inductor en chip (1620) y un segundo inductor en chip (1622); un segundo transformador en chip (1604) que comprende un tercer inductor en chip (1640) y un cuarto inductor en chip (1642); un primer transistor en chip (1606) que comprende una puerta (1662), un drenaje (1664) y una fuente (1666); en el que cada uno de los primer, segundo, tercer y cuarto inductores en chip comprende una pluralidad de primeros segmentos en una primera capa metálica (626), estando la primera capa metálica por encima del lado superior del sustrato; una pluralidad de segundos segmentos (624) en una capa de diseño de redistribución, RDL, estando la RDL debajo del lado inferior del sustrato; una primera entrada de inductor y una segunda entrada de inductor, estando localizadas las primera y segunda entradas de inductor en una de la primera capa metálica y de la RDL; y una pluralidad de vías de silicio pasantes que se extienden desde el lado superior del sustrato hasta el lado inferior del sustrato y acoplan la pluralidad de primeros segmentos y la pluralidad de segundos segmentos para formar una ruta continua, que no interseca entre la primera entrada de inductor y la segunda entrada de inductor; estando el primer inductor en chip acoplado de forma inductiva al segundo inductor en chip, estando el tercer inductor en chip acoplado de forma inductiva al cuarto inductor en chip, y no estando los primer, segundo, tercer y cuarto inductores en chip físicamente acoplados entre sí excepto a través del suelo; estando acoplada la primera entrada de inductor del primer inductor en chip a una entrada del amplificador de radiofrecuencia en chip; estando acoplada la primera entrada de inductor del segundo inductor en chip a la puerta del primer transistor en chip; estando acoplada la primera entrada de inductor del tercer inductor en chip al drenaje del primer transistor en chip, estando acoplada la primera entrada de inductor del cuarto inductor en chip a una salida del amplificador de radiofrecuencia en chip; estando la segunda entrada de inductor de los primer, segundo, tercer y cuarto inductores en chip acoplada a tierra; y estando la fuente del primer transistor en chip acoplada a tierra; en el que los inductores no forman parte de una estructura de detención de fisuras.