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公开(公告)号：CN106062956A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480071858.5
申请日：2014-09-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01L27/30
CPC classification number: H01L27/14812 , H01L27/14643 , H01L27/14692 , H01L27/307 , H01L27/308
Abstract: 辐射检测器组件包括响应入射辐射产生电荷的有机光检测器、包括多个像素的薄膜晶体管阵列。所述多个像素可生成对应于由所述有机光检测器产生的电荷的电信号。所述辐射检测器组件还包括布置在所述薄膜晶体管阵列上的间隔件。所述间隔件包围一个或多个像素且可将所述有机光检测器限制在所包围的一个或多个像素内，使得所述包围的一个或多个像素与邻近像素电隔离。
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公开(公告)号：CN102183523B
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201010623179.8
申请日：2010-12-23
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01R31/308 , G01N21/66 , G01N21/9505 , H02S50/10
Abstract: 一种方法包括：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)，并且经由辐射探测器(16)来探测来自至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射。该方法还包括将对应于所探测的发射光子辐射的信号从辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)，以及经由处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像。该方法还包括分析一个或多个二维光子图像，以便确定至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。
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公开(公告)号：CN103578493A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310327617.X
申请日：2013-07-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: G11B7/0065 , G11B7/007 , G11B7/24038 , G11B7/24044
CPC classification number: G11B7/24038 , G11B7/26 , G11B2007/240025
Abstract: 本发明涉及一种堆叠膜阈构件、装置和制造方法。一种构件包括微全息图层，其中，微全息图层包括与功能膜层交错的对光呈惰性的层。功能膜层由在被光束照射时经历其折射率的变化而在被不同光束照射时不经历其折射率的变化的材料制成。构件还可包括与多个全息图层交错的隔膜和其它元件(例如，伺服层、涂层等)，以便包括数据存储装置。还公开了制造构件和装置的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102183523A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201010623179.8
申请日：2010-12-23
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01R31/308 , G01N21/66 , G01N21/9505 , H02S50/10
Abstract: 一种方法包括：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)，并且经由辐射探测器(16)来探测来自至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射。该方法还包括将对应于所探测的发射光子辐射的信号从辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)，以及经由处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像。该方法还包括分析一个或多个二维光子图像，以便确定至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。
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公开(公告)号：CN103579136B
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201310324406.0
申请日：2013-07-30
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L23/3121 , H01L21/4853 , H01L21/561 , H01L23/3735 , H01L23/49816 , H01L23/49833 , H01L23/49894 , H01L23/5389 , H01L23/564 , H01L24/19 , H01L24/20 , H01L24/24 , H01L2224/12105 , H01L2224/13022 , H01L2224/131 , H01L2224/24137 , H01L2224/291 , H01L2224/2929 , H01L2224/293 , H01L2224/32225 , H01L2224/73267 , H01L2224/83192 , H01L2224/83855 , H01L2224/92144 , H01L2224/9222 , H01L2224/97 , H01L2924/12042 , H01L2924/15787 , H01L2924/181 , H01L2224/83 , H01L2924/00014 , H01L2924/014 , H01L2924/00
Abstract: 本公开涉及用于表面安装模块的扩散阻挡层。公开了一种用于减少水分和气体进入的表面安装封装结构。该表面安装结构包括子模块，该子模块具有介电层、附连到介电层上的半导体装置、与半导体装置电联接的一级金属互连结构、和与一级互连电联接且形成在介电层上的二级I/O连接，其中二级I/O连接构造成将子模块连接到外部电路上。子模块的半导体装置附连到衬底结构上，其中介电材料在介电层与衬底结构之间定位以填充表面安装结构中的间隙。扩散阻挡层邻近一级和二级I/O连接施加在子模块上，并且向下延伸到衬底结构，以减少水分和气体从周围环境进入表面安装结构。
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公开(公告)号：CN105723245A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201480063747.X
申请日：2014-09-08
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/308 , G01T1/2018 , H01L27/14663 , H01L27/283 , H01L51/0097 , H01L51/447 , H01L51/448 , Y02E10/549 , Y02P70/521
Abstract: 公开了一种有机x射线检测器和制作有机x射线检测器的方法。x射线检测器包括设置在基底上的TFT阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管层、设置在光电二极管层上的隔层，以及设置在隔层上的闪烁体层，使得隔层包括至少一种无机材料。
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公开(公告)号：CN102892920B
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201180017239.4
申请日：2011-02-23
Applicant: 通用电气公司
IPC: C23C16/40 , C23C16/455 , C23C16/04 , C23C26/00
CPC classification number: C23C16/403 , C23C16/045 , C23C16/402 , C23C16/45525 , C23C26/00
Abstract: 本发明提供了一种处理多层膜的方法。所述方法包括提供具有基底膜第一表面和基底膜第二表面的基底膜。所述方法还包括提供邻近基底膜第二表面的阻挡层。所述阻挡层具有至少一个能让基底膜和阻挡层外表面之间流体连接的开口。进一步，所述方法包括使基底膜第一表面与第一反应物接触，以及最终使阻挡层外表面与第二反应物接触，所述第二反应物与第一反应物可反应。使基底膜第一表面接触第一反应物和使阻挡层外表面接触第二反应物的方法在所述第一反应物和第二反应物之间的反应形成反应层的条件下进行。
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公开(公告)号：CN103814414A
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：CN201280046197.1
申请日：2012-09-21
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01B19/04 , B32B27/281 , C23C14/00 , C23C14/562 , C23C16/545 , H01B3/306 , H01B7/292 , H01B17/60 , Y10T29/49885 , Y10T428/2495 , Y10T428/265 , Y10T428/3154 , Y10T428/31721 , Y10T428/31725 , Y10T428/31855
Abstract: 用于高温电机的高温绝缘组合件和形成用于使高温电机中导电材料绝缘的高温绝缘组合件的方法。组合件包括聚合膜和在聚合膜上布置的至少一个陶瓷涂层。聚合膜布置在导电布线上，或者作为导体绕组绝缘体用于相分隔和槽衬。
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