半导体装置及其制造方法
    32.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107452595B

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201710293157.1

    申请日:2017-04-28

    Abstract: 本揭露提供半导体装置及其制造方法。所述半导体装置包含半导体结构、介电层、金属‑半导体化合物薄膜以及覆盖层。所述半导体结构具有上表面与侧面。所述介电层包围所述半导体结构的所述侧面,并且暴露所述半导体结构的所述上表面。所述金属‑半导体化合物薄膜位于所述半导体结构上,其中所述介电层暴露所述金属‑半导体化合物薄膜的表面的一部分。所述覆盖层包围由所述介电层暴露的所述金属‑半导体化合物薄膜的所述表面的所述部分,并且暴露所述介电层。

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