一种危险气体探测用无人机
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118928822A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411075439.0

    申请日:2024-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种危险气体探测用无人机,属于无人机技术领域,一种危险气体探测用无人机,包括无人机主体,所述无人机主体外部下端两侧固定设置有支腿,所述支腿之间设置有底板,所述底板外部上方两侧设置有保护组件,所述保护组件内部包括灭火机构、固定机构和触发机构,所述灭火机构进行灭火工作,所述固定机构将灭火机构进行固定安装,所述触发机构触发灭火机构进行工作。本发明通过气体探测器来进行探测工作,并通过信号警示灯来警戒周围的人员,并且卷扬机的设置,可以使得气体探测器的高度可控、可调节,同时光纤的设置,可以使得信号的传输更加快捷、迅速,而保护组件的设置,可以对无人机及其携带的器材进行保护工作。

    一种基于螺旋相位板的球面曲率半径批量测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112268526B

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202011276800.8

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明属于测试计量技术领域,尤其是一种基于螺旋相位板的球面曲率半径批量测量装置及方法,包括上位机、电源模块、运动控制器、光学探头、测环、精密位移测量探头、电动平移台、支架,支架上具有纵向导轨和精密位移测量探头,电动平移台安装于纵向导轨上,光学探头固定于电动平移台外侧,精密位移测量探头位于电动平移台上方接触式测量电动平移台的高度,测环固定于光学探头上方,待测光学元件置于测环内。本发明通过引入螺旋相位制作了光学探头,调制光束使光斑与表面位置有关,批量测量时无需调节探头位置直接可进行非接触测量,与现有接触式测量仪器相比,本方法对表面损伤较小且批量测量时效率更高,有望在光学加工企业广泛应用。

    一种构建非视距传播场景下测距和测角误差消除方法

    公开(公告)号:CN115184859B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202210741753.2

    申请日:2022-06-27

    Inventor: 周昊 桂林卿

    Abstract: 本发明公开了一种构建非视距传播场景下测距和测角误差消除方法,该方法根据贝叶斯原理推算伪输出结果的后验概率。当每次给定一个测试输入特征时,可预测出测量结果的后验概率,并推算概率分布均值和方差。通过对这些模型进行测试、评估和对比分析,选出具有最小测量误差的回归模型。本发明是对无线局域网定位理论与技术研究的进一步深化,为基于信道状态信息的无线局域网定位实用化提供了理论和技术基础。能够将通过建立风险管理机制,有效化解风险管理的目的是消除风险,规避风险,控制风险,处理风险,以减少风险带来的负效应。

    麻醉式打击类警用智能化旋翼无人机及其控制方法及系统

    公开(公告)号:CN112034892B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202010941787.7

    申请日:2020-09-09

    Inventor: 何诚

    Abstract: 本发明属于无人机技术领域,公开了一种麻醉式打击类警用智能化旋翼无人机及其控制方法及系统,所述麻醉式打击类警用智能化旋翼无人机设置有壳体,所述壳体四角处旋翼,所述旋翼末端上侧旋转设置有螺旋桨;所述壳体下侧通过螺栓固定有安装壳,所述安装壳前侧中部嵌装有高清摄像头和红外摄像头;所述安装壳下侧焊接有两个安装板,所述两个安装板下端通过转轴设置有麻醉发射器;所述壳体上侧中部开设有凹槽,所述凹槽上侧卡接有玻璃罩。本发明通过麻醉发射器发射麻醉弹,对犯罪分子或动物进行打击并使其丧失反抗能力,便于对犯罪分子的抓捕;本发明发射的麻醉弹较为安全,不会对犯罪分子或动物造成生命危险,且无需贴身约束,保证了警察的安全。

    一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法

    公开(公告)号:CN112213331B

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202011276395.X

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明属于测试计量技术及仪器技术领域,尤其是一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法,装置包括上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台、运动控制器以及为上述部件供电的电源模块,电动扫描平移台为立式的,具有纵向导轨,成像模块安装于纵向导轨上,待测光学元件位于成像模块下方,照明模块位于待测光学元件侧部,运动控制器分别线路连接上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台;本发明通过机器视觉技术获得不同聚焦状态时的缺陷散射图像,进而基于数据库查找及进化算法反演缺陷形状与参数,适用于精密光学元件表明波长级缺陷的质检工作。

    一种基于焦深延拓像散探头的透镜参数测量方法

    公开(公告)号:CN113639968B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202110908385.1

    申请日:2021-08-09

    Inventor: 翟春婕

    Abstract: 本发明提供一种基于焦深延拓像散探头的透镜参数测量方法,具有曲率半径、中心厚、及轮廓三种测量模式,所述包括上位机、运动控制器、三轴电动平移台、焦深延拓像散探头、夹持机构、待测元件,其中所述焦深延拓像散探头将光束聚焦至待测元件表面,探头测量的反射光斑形状与表面及探头之间位置相关,通过分析光斑形状定位表面位置;所述三轴电动平移台带动探头在xyz三个方向进行扫描获得表面面形信息,并实现元件几何参数的测量。本发明相比传统测量设备,本发明为非接触测量,不会损伤表面,且结合了三种测量模式,具有超高性价比,有望在光学加工企业广泛应用。

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