双向导通EDS二极管芯片及其制造方法

    公开(公告)号:CN113314616A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110639385.6

    申请日:2021-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种双向导通EDS二极管芯片及其制造方法,该芯片包括N型衬底,N型衬底的正面设有两个并列的P区,N型衬底的正面覆盖有氧化层,氧化层上对应P区设有两个并列的金属接点,金属接点穿过氧化层并与P区接触。该方法包括:制作N型衬底,正面热氧化;光刻、扩散形成P区;正面形成新的绝缘材料层;光刻、蒸铝形成金属层;光刻金属层,形成金属接点;背面减薄。本发明构简单,制造时无需双面光刻,降低了工艺复杂性;封装时,可以通过背面粘接或焊接,结构稳定,且不会发生导通,可靠性高。通过在平面结构上横向集成了两个PN结,实现了浪涌电流抑制以及静电保护,双向稳压性能一致性好。

    一种高速场效应晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN114695520A

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202210468657.5

    申请日:2022-04-29

    Abstract: 本发明提供的一种高速场效应晶体管及其制备方法,包括衬底,所述衬底上设置有栅极单元与栅极单元两侧分别连接的源极单元、漏极单元,所述栅极单元包括本征GaAs层,本征GaAs层两端上依次覆盖有本征AlGaAs层和N+AlGaAs层,N+AlGaAs层的上端设置有栅极金属层,本征GaAs层的中部设置有P区,P区的下端与衬底接触,P区的上端依次覆盖有氧化层和多晶硅,多晶硅和氧化层的两侧与本征AlGaAs层接触。本发明在栅极、源极、漏极之间形成由AlGaAs和GaAs构成的异质结结构,该结构能够形成薄层N型导电沟道,从而消除了杂质散射的影响;且GaAs相对于Si具有更高的电子迁移率,因此多数载流子也移动的比硅中更快,此外GaAs也有减小寄生电容和信号损耗的特性,从而有效提升了输出功率和频率。

    半导体元胞结构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113270503A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110491421.9

    申请日:2021-05-06

    Abstract: 本发明提供了一种二极管元胞结构,包括N+衬底,N+衬底的背面设有背金属层,N+衬底的正面依次设有N‑外延区、栅氧层、多晶硅、金属化层;所述N‑外延区的正面中部嵌入有P型基区,金属化层的背面设有凸起部,凸起部嵌入P型基区,凸起部周围设有N+区,N+区和P型基区的正面均被栅氧层覆盖。采用本发明的二极管元胞结构的二极管芯片,相比于PN结结构,具备导通电压更低、反向恢复时间更短等优点;相比于肖特基二极管,具有高温特性好、漏电小、正温度系数等优点;另外,本发明导通压降小,能耗低,产热量小,耐用性强。

    一种二极管元胞及其制造方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114975431A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210681828.2

    申请日:2022-06-16

    Abstract: 本发明提供的一种二极管元胞及其制造方法,包括若干元胞;若干元胞的N+衬底、背面金属层、正面金属层连接为一体,N+衬底的背面和正面分别与背面金属层和势垒接触,势垒的正面中部加工有MOS沟道,若干元胞的MOS沟道相互连接,所述正面金属层将势垒的正面覆盖且其连两端分别与势垒的基极和栅极接触。本发明采用多元胞并联结构,大大提高了导通电阻;采用多层金属布局,避免了超薄栅氧在键合过程中受到的键合应力损伤,提升了产品良率和可靠性,金属层同时起了散热器的功能,改善了产品的散热效果;通过多个元胞内的少子势垒降低了二极管在高频率开关过程中的导通损耗。

    一种软快恢复二极管及其制备方法

    公开(公告)号:CN113314617A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110476668.3

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 本发明提供的一种软快恢复二极管;包括N区和P区,P区扩散在N区上端面中部的凹槽内,所述N区包括依次在N+区上生长的N缓冲区和外延区,所述P区包括P base区和P+区,P base区嵌入外延区的上端面中部,所述P+区扩散在P base区的两端,所述外延区的上端面外端制作有钝化层,外延区的中心制作有阳极金属层,N+区的底部制作有金属层。本发明通过超低掺杂浓度的N型漂移区和低掺杂浓度的P base区可以有效地可以有效的降低反向恢复电荷和反向恢复时间;N型漂移区下表面的N型缓冲层可以缓冲空间电荷区扩展,减缓了载流子反向抽取速度,使恢复特性得到软化;并且高掺杂的深结P+区可以有效抑制电场集中,降低器件反向漏电。

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