半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100547803C

    公开(公告)日:2009-10-07

    申请号:CN200710141286.5

    申请日:2007-08-09

    Inventor: 野崎义明

    CPC classification number: H01L27/1443 H01L29/2003 H01L29/7787 H01L31/105

    Abstract: 一种半导体器件包括利用硅衬底形成的光电二极管、形成于硅衬底上并具有比硅的带隙宽的带隙的宽带隙半导体层、以及利用宽带隙半导体层形成的开关元件。开关元件电连接到光电二极管以便由来自光电二极管的控制信号来进行导通/断开控制。

    光扫描装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1804677A

    公开(公告)日:2006-07-19

    申请号:CN200610005477.4

    申请日:2006-01-12

    CPC classification number: G02B26/085 G02B26/105

    Abstract: 本发明公开一种光扫描装置。将光从发光元件(22B)朝着可绕轴线(L2)进行角变位的扫描反射镜(11)的厚度方向的表面(31)出射。第一和第二受光部(14A,14B)的至少其中一方,接受从发光元件(22B)出射并被反射反射镜(50B)反射的光。第一和第二受光部(14A,14B)以及信号输出部(24),输出包含表示接受所述光的位置的位置信息的电信号。该位置信息,表示扫描反射镜(11)的角变位量,驱动部(21)基于该位置信息来使扫描反射镜(11)扫描,并能够使从第一光源(12)出射的光照射在预定的照射位置上。

    半导体器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101123263A

    公开(公告)日:2008-02-13

    申请号:CN200710141286.5

    申请日:2007-08-09

    Inventor: 野崎义明

    CPC classification number: H01L27/1443 H01L29/2003 H01L29/7787 H01L31/105

    Abstract: 一种半导体器件包括利用硅衬底形成的光电二极管、形成于硅衬底上并具有比硅的带隙宽的带隙的宽带隙半导体层、以及利用宽带隙半导体层形成的开关元件。开关元件电连接到光电二极管以便由来自光电二极管的控制信号来进行导通/断开控制。

    电压箝位电路、过流保护电路、电压测量探头和设备

    公开(公告)号:CN101324639B

    公开(公告)日:2011-10-26

    申请号:CN200810125982.1

    申请日:2008-06-16

    CPC classification number: G01R1/06766 G01R31/2621

    Abstract: 提供了一种电压箝位电路以及分别使用该电压箝位电路的半导体器件、过流保护电路、电压测量探头、电压测量设备和半导体评估设备。在电压箝位电路(1)中,具有负阈电压((-2V))的常通型场效应晶体管(8)具有连接到输入节点(N8)的漏极、连接到输出节点(N9)并经由电阻元件(9)接地的源极、以及被供应有可变直流电源(10)的输出电压((2V))的栅极。当输出节点(N9)处的电压由于电阻元件(9)的电压降而变得高于箝位电压(Vc(=4V))时,场效应晶体管(8)关断。相应地,输出电压(Vout)被限制到最大为箝位电压。因此,响应速度比使用二极管等的传统电压箝位电路的响应速度要高。

    光扫描装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100365466C

    公开(公告)日:2008-01-30

    申请号:CN200610005477.4

    申请日:2006-01-12

    CPC classification number: G02B26/085 G02B26/105

    Abstract: 本发明公开一种光扫描装置。将光从发光元件(22B)朝着可绕轴线(L2)进行角变位的扫描反射镜(11)的厚度方向的表面(31)出射。第一和第二受光部(14A,14B)的至少其中一方,接受从发光元件(22B)出射并被反射反射镜(50B)反射的光。第一和第二受光部(14A,14B)以及信号输出部(24),输出包含表示接受所述光的位置的位置信息的电信号。该位置信息,表示扫描反射镜(11)的角变位量,驱动部(21)基于该位置信息来使扫描反射镜(11)扫描,并能够使从第一光源(12)出射的光照射在预定的照射位置上。

    电压箝位电路、过流保护电路、电压测量探头和设备

    公开(公告)号:CN101324639A

    公开(公告)日:2008-12-17

    申请号:CN200810125982.1

    申请日:2008-06-16

    CPC classification number: G01R1/06766 G01R31/2621

    Abstract: 提供了一种电压箝位电路以及分别使用该电压箝位电路的半导体器件、过流保护电路、电压测量探头、电压测量设备和半导体评估设备。在电压箝位电路(1)中,具有负阈电压(-2V)的常通型场效应晶体管(8)具有连接到输入节点(N8)的漏极、连接到输出节点(N9)并经由电阻元件(9)接地的源极、以及被供应有可变直流电源(10)的输出电压(2V)的栅极。当输出节点(N9)处的电压由于电阻元件(9)的电压降而变得高于箝位电压(Vc(=4V))时,场效应晶体管(8)关断。相应地,输出电压(Vout)被限制到最大为箝位电压。因此,响应速度比使用二极管等的传统电压箝位电路的响应速度要高。

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