磁记录介质以及磁存储装置

    公开(公告)号:CN113053422B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202011388537.1

    申请日:2020-12-02

    Abstract: 本发明提供一种磁记录介质,其在形成磁记录层时,即使将基板加热至高温,也能够提高SNR以及OW特性,磁记录介质(100)在基板(1)之上依次具有软磁性基底层(2)、非晶阻挡层(3)以及磁记录层(5),软磁性基底层包括Fe、B、Si以及从由Nb、Zr、Mo和Ta构成的组中选择的一种以上的元素,B的含量在12mol%~16mol%的范围内,Si的含量在5mol%~15mol%的范围内,非晶阻挡层包括Si、W以及从由Nb、Zr、Mo和Ta构成的组中选择的一种以上的元素,Si的含量在10mol%~30mol%的范围内,W的含量在20mol%~60mol%的范围内,磁记录层包括具有L10结构的合金。

    热辅助磁记录介质和磁存储装置

    公开(公告)号:CN110875063A

    公开(公告)日:2020-03-10

    申请号:CN201910681488.1

    申请日:2019-07-26

    Abstract: 提供一种热辅助磁记录介质,依次具有基板、底层、及包含具有L10结构的合金的磁性层。磁性层从基板侧开始具有第一磁性层和第二磁性层。第一磁性层和第二磁性层分别具有粒状结构,晶界部处包含C、SiO2、及BN。第一磁性层和第二磁性层的晶界部的体积分数分别位于25体积%~45体积%的范围内。第一磁性层的C的体积分数位于5体积%~22体积%的范围内。第一磁性层和第二磁性层的SiO2相对于BN的体积比分别位于0.25~3.5的范围内。第二磁性层的SiO2的体积分数比第一磁性层的SiO2的体积分数大5体积%以上。第二磁性层的BN的体积分数比第一磁性层的BN的体积分数小2体积%以上。

    垂直磁记录介质及磁记录再生装置

    公开(公告)号:CN106205644B

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201610307404.4

    申请日:2016-05-11

    Inventor: 徐晨 黑川刚平

    CPC classification number: G11B5/1278 G11B5/7325

    Abstract: 一种至少在非磁性基板之上依次积层了软磁性层、底层、中间层、及垂直磁记录层的垂直磁记录介质,其中:所述软磁性层至少具有非晶体结构的软磁性膜;所述底层具有第1底层和第2底层,该第2底层位于所述第1底层和所述中间层之间;所述第1底层由非晶体结构的TiV合金构成;所述第2底层由NiW合金构成,该NiW合金包括从Co、Cu、Al、Cr、及Fe所组成的组中所选择的至少一种元素;所述中间层包括Ru或Ru合金;及所述软磁性层、所述第1底层、及所述第2底层按该顺序进行了积层。

    垂直磁记录介质及磁记录再生装置

    公开(公告)号:CN106205644A

    公开(公告)日:2016-12-07

    申请号:CN201610307404.4

    申请日:2016-05-11

    Inventor: 徐晨 黑川刚平

    Abstract: 一种至少在非磁性基板之上依次积层了软磁性层、底层、中间层、及垂直磁记录层的垂直磁记录介质,其中:所述软磁性层至少具有非晶体结构的软磁性膜;所述底层具有第1底层和第2底层,该第2底层位于所述第1底层和所述中间层之间;所述第1底层由非晶体结构的TiV合金构成;所述第2底层由NiW合金构成,该NiW合金包括从Co、Cu、Al、Cr、及Fe所组成的组中所选择的至少一种元素;所述中间层包括Ru或Ru合金;及所述软磁性层、所述第1底层、及所述第2底层按该顺序进行了积层。

    磁记录介质以及磁存储装置

    公开(公告)号:CN113053422A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202011388537.1

    申请日:2020-12-02

    Abstract: 本发明提供一种磁记录介质,其在形成磁记录层时,即使将基板加热至高温,也能够提高SNR以及OW特性,磁记录介质(100)在基板(1)之上依次具有软磁性基底层(2)、非晶阻挡层(3)以及磁记录层(5),软磁性基底层包括Fe、B、Si以及从由Nb、Zr、Mo和Ta构成的组中选择的一种以上的元素,B的含量在12mol%~16mol%的范围内,Si的含量在5mol%~15mol%的范围内,非晶阻挡层包括Si、W以及从由Nb、Zr、Mo和Ta构成的组中选择的一种以上的元素,Si的含量在10mol%~30mol%的范围内,W的含量在20mol%~60mol%的范围内,磁记录层包括具有L10结构的合金。

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