具有整体式热阻流部的高温射频连接

    公开(公告)号:CN117488282A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311230692.4

    申请日:2018-08-31

    Abstract: 将射频源与等离子体处理系统的衬底支撑件连接的热阻流杆包含具有第一接头与第二接头的管状构件,第一接头用于连接至与衬底支撑件耦合的RF杆,第二接头用于连接至与RF源耦合的RF带。管状区段在第一与第二接头之间延伸。第一接头具有锥形末端区域以及切口,该锥形末端区域在朝向管状区段的方向上从第一接头的内表面倾斜至外表面,所述切口从第一接头的终端延伸指定距离。管状区段的外表面具有螺纹区域,该螺纹区域用于与环状盖部进行螺纹啮合,该环状盖部安装在第一接头之上并且在与第一接头的锥形末端区域接触时减小第一接头的内径。

    具有整体式热阻流部的高温射频连接

    公开(公告)号:CN111052299B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN201880057283.X

    申请日:2018-08-31

    Abstract: 将射频源与等离子体处理系统的衬底支撑件连接的热阻流杆包含具有第一接头与第二接头的管状构件,第一接头用于连接至与衬底支撑件耦合的RF杆,第二接头用于连接至与RF源耦合的RF带。管状区段在第一与第二接头之间延伸。第一接头具有锥形末端区域以及切口,该锥形末端区域在朝向管状区段的方向上从第一接头的内表面倾斜至外表面,所述切口从第一接头的终端延伸指定距离。管状区段的外表面具有螺纹区域,该螺纹区域用于与环状盖部进行螺纹啮合,该环状盖部安装在第一接头之上并且在与第一接头的锥形末端区域接触时减小第一接头的内径。

    高温衬底基座模块及其组件

    公开(公告)号:CN108987229B

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN201810537225.9

    申请日:2018-05-30

    Abstract: 本发明涉及高温衬底基座模块及其组件。一种半导体衬底处理装置包括:具有处理区域的真空室,在所述处理区域中能处理半导体衬底;工艺气体源,其与所述真空室流体连通,以供给工艺气体到所述真空室中;喷头模块,来自所述工艺气体源的工艺气体通过该喷头模块供给到所述真空室的所述处理区域;以及衬底基座模块。衬底基座模块包括:由陶瓷材料制成的基座,所述基座具有上表面,所述上表面被配置成在处理期间支撑在其上的半导体衬底;杆,其由陶瓷材料制成;和位于所述杆的内部的由金属化陶瓷材料制成的背部气体管路。金属化陶瓷管路可用于将背部气体输送至衬底并将RF功率供应至基座中的嵌入式电极。

    具有整体式热阻流部的高温射频连接

    公开(公告)号:CN111052299A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201880057283.X

    申请日:2018-08-31

    Abstract: 将射频源与等离子体处理系统的衬底支撑件连接的热阻流杆包含具有第一接头与第二接头的管状构件,第一接头用于连接至与衬底支撑件耦合的RF杆,第二接头用于连接至与RF源耦合的RF带。管状区段在第一与第二接头之间延伸。第一接头具有锥形末端区域以及切口,该锥形末端区域在朝向管状区段的方向上从第一接头的内表面倾斜至外表面,所述切口从第一接头的终端延伸指定距离。管状区段的外表面具有螺纹区域,该螺纹区域用于与环状盖部进行螺纹啮合,该环状盖部安装在第一接头之上并且在与第一接头的锥形末端区域接触时减小第一接头的内径。

    一种用于真空室中的衬底的模块和一种衬底基座

    公开(公告)号:CN116153754A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202310024339.4

    申请日:2018-05-30

    Abstract: 本发明涉及高温衬底基座模块及其组件。一种半导体衬底处理装置包括:具有处理区域的真空室,在所述处理区域中能处理半导体衬底;工艺气体源,其与所述真空室流体连通,以供给工艺气体到所述真空室中;喷头模块,来自所述工艺气体源的工艺气体通过该喷头模块供给到所述真空室的所述处理区域;以及衬底基座模块。衬底基座模块包括:由陶瓷材料制成的基座,所述基座具有上表面,所述上表面被配置成在处理期间支撑在其上的半导体衬底;杆,其由陶瓷材料制成;和位于所述杆的内部的由金属化陶瓷材料制成的背部气体管路。金属化陶瓷管路可用于将背部气体输送至衬底并将RF功率供应至基座中的嵌入式电极。

    用于嵌入陶瓷件的加热器的涂层导体

    公开(公告)号:CN115917722A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202180044243.3

    申请日:2021-09-28

    Abstract: 本文中的各种实施方案涉及用于制造用于半导体处理装置中的台板的技术,以及由这种技术生产的台板和中间结构。例如,这种技术可以包括在加热器上沉积涂层以形成具有涂层的加热器,其中加热器包括在其上形成有涂层的金属丝;将具有涂层的加热器放入粉末中;将粉末压实成内聚性块体,以形成粉末基复合材料;并烧结粉末基复合材料以形成压板,其中压板包括嵌入烧结陶瓷材料的加热器。加热器上的涂层可以起到保护加热器免受在烧结过程中可能存在的含碳和/或含氧化合物的化学物质侵蚀的作用。台板可以是基座的一部分,其一旦制造出来,就可以安装在半导体处理装置中。

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