半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101621040A

    公开(公告)日:2010-01-06

    申请号:CN200910150584.X

    申请日:2009-06-26

    CPC classification number: H01L23/051 H01L23/24 H01L2224/33181

    Abstract: 本发明提供一种能够充分确保散热性能,且降低在接合材料中产生的热应力,由此能够抑制接合材料的热疲劳的半导体装置。在由半导体芯片、在半导体芯片的下侧经由第一接合材料接合且具有导电性的基电极、在半导体芯片的上侧经由第二接合材料接合且具有导电性的引线电极、用于降低因半导体芯片和基电极的膨胀量差产生的第一接合材料的应力的第一应力缓冲材料构成的半导体装置中,在第一接合材料的下面设置基电极和第一应力缓冲材料分别直接接触的区域。

    半导体装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101621040B

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN200910150584.X

    申请日:2009-06-26

    CPC classification number: H01L23/051 H01L23/24 H01L2224/33181

    Abstract: 本发明提供一种能够充分确保散热性能,且降低在接合材料中产生的热应力,由此能够抑制接合材料的热疲劳的半导体装置。在由半导体芯片、在半导体芯片的下侧经由第一接合材料接合且具有导电性的基电极、在半导体芯片的上侧经由第二接合材料接合且具有导电性的引线电极、用于降低因半导体芯片和基电极的膨胀量差产生的第一接合材料的应力的第一应力缓冲材料构成的半导体装置中,在第一接合材料的下面设置基电极和第一应力缓冲材料分别直接接触的区域。

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