研磨装置及其程序
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101663739A

    公开(公告)日:2010-03-03

    申请号:CN200880012830.9

    申请日:2008-04-17

    Abstract: 研磨装置具备:载置部(14),载置容纳有多个研磨对象物的盒(12);第一研磨线(20)及第二研磨线(30),对研磨对象物进行研磨;清洗线(40),具备对研磨后的研磨对象物进行清洗的清洗机(42a、42b、42c、42d)和输送研磨对象物的输送单元(44);输送机构(50),在载置部(14)、研磨线(20、30)及清洗线(40)之间输送研磨对象物;控制部,控制研磨线(20、30)、清洗线(40)及输送机构(50)。控制部基于第一及第二研磨线(20、30)的预测研磨时间、输送机构(50)的预测输送时间、清洗线(40)的预测清洗时间及驱动清洗线(40)的输送单元(44)而开始进行清洗的清洗开始预测时刻,决定第一或第二研磨线(20、30)的研磨开始时刻。

    研磨装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101663739B

    公开(公告)日:2011-10-26

    申请号:CN200880012830.9

    申请日:2008-04-17

    Abstract: 研磨装置具备:载置部(14),载置容纳有多个研磨对象物的盒(12);第一研磨线(20)及第二研磨线(30),对研磨对象物进行研磨;清洗线(40),具备对研磨后的研磨对象物进行清洗的清洗机(42a、42b、42c、42d)和输送研磨对象物的输送单元(44);输送机构(50),在载置部(14)、研磨线(20、30)及清洗线(40)之间输送研磨对象物;控制部,控制研磨线(20、30)、清洗线(40)及输送机构(50)。控制部基于第一及第二研磨线(20、30)的预测研磨时间、输送机构(50)的预测输送时间、清洗线(40)的预测清洗时间及驱动清洗线(40)的输送单元(44)而开始进行清洗的清洗开始预测时刻,决定第一或第二研磨线(20、30)的研磨开始时刻。

    基板处理装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107275261B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN201710221204.1

    申请日:2017-04-06

    Abstract: 一种基板处理装置,能降低将基板从弹性膜上剥离所需的时间的偏差。该基板处理装置包括:基板保持部,该基板保持部对基板进行保持;压力调节器,该压力调节器对供给至弹性膜内的气体的压力进行调节;控制部,该控制部对压力调节器进行控制,并且为了将基板从弹性膜上剥离而改变供给至弹性膜内的气体的压力。

    基板研磨装置的校正方法、校正装置以及校正程序

    公开(公告)号:CN106881666A

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201611045052.6

    申请日:2016-11-24

    Inventor: 武田晃一

    Abstract: 本发明提供一种能够简单地校正基板研磨装置的校正方法、校正装置以及校正程序。该基板研磨装置具有研磨台、气囊、根据输入的压力指令值控制气囊的压力且读取气囊的压力的压力控制部,该基板研磨装置的校正方法校正压力指令值、气囊的压力、气囊的压力读取值之间的关系,且包括:将多个压力指令值依次输入压力控制部的指令值输入步骤;针对多个压力指令值中的各压力指令值,获取由校正用压力计计测的气囊的压力计测值的计测值获取步骤;针对多个压力指令值中的各压力指令值,从压力控制部获取气囊的压力读取值的读取值获取步骤;以及指定表示压力指令值与压力计测值的关系的第一参数和表示压力计测值与压力读取值的关系的第二参数的参数控制步骤。

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