Abstract:
본 발명은 진공 배기가 가능하게 된 처리 용기내에서, 유기 금속 화합물의 원료로 이루어지는 원료 가스를 이용하여, 피처리체의 표면에 박막을 형성하기 위해 해당 피처리체를 탑재하는 탑재대 구조에 관한 것이다. 본 발명에 의한 탑재대 구조는 피처리체를 탑재하고, 내부에 가열 히터가 마련된 탑재대 본체와, 상기 탑재대 본체의 측면과 저면을 둘러싼 상태에서 상기 탑재대 본체를 지지하고, 내부에 냉매를 흘리는 냉매 통로가 마련되고, 원료 가스의 분해 온도 미만이고 또한 원료 가스의 고화 온도 또는 액화 온도 이상의 온도 범위로 유지된 기대를 구비한 것을 특징으로 한다.
Abstract:
유기 금속 화합물로 이루어지는 원료 가스를 이용하여 박막을 형성하는 성막 장치는, 내부를 진공 배기할 수 있는 처리 용기(22)와, 피처리체(W)를 배치하며 피처리체(W)를 가열하는 가열 히터(34)가 설치된 배치대(28)와, 배치대(28)의 상방에 배치대(28)에 대향하도록 설치되고, 배치대(28) 상의 피처리체(W)의 외주단보다 외측의 영역을 향하여 원료 가스를 도입하는 가스 도입 기구(80)와, 배치대(28)의 상방의 처리 공간(S)을 둘러싸, 그 내외를 구획하며, 그 하단부가 배치대(28)에 접근하도록 설치되고, 하단부와 배치대(28)의 주연부 사이에서 가스 출구(92)를 형성하는 내부 구획벽(90)과, 내부 구획벽(90)의 하단부에 배치대(28)의 반경 방향의 내방을 향하여 연장되도록 설치되며, 배치대(28)의 주연부와의 사이에서 가스 출구(92)에 연통하는 오리피스부(98)를 형성하는 오리피스 형성 부재(96)를 구비한다.
Abstract:
피처리 기판이 탑재되는 기판 탑재 기구로서, 피처리 기판 탑재면(21a)을 갖고, 피처리 기판 W를, 막이 퇴적되는 성막 온도로 가열하는 가열체가 매설되고, 대직경부(94b)와 소직경부(94a)를 갖는 제 1 리프터핀 삽입 통과 구멍(81a)을 구비한 히터 플레이트(21)와, 적어도 피러치 기판 탑재면(21a) 이외의 표면을 덮도록 형성되고, 온도가 성막온도 미만의 비성막 온도로 되고, 대직경부(92b)와 소직경부(92a)를 갖는 제 2 리프터핀 삽입 통과 구멍(81c)을 구비한 온도 조절 재킷과, 대직경부(94b)에 삽입 통과 가능한 덮개부(93b)와, 대직경부(94b) 및 소직경부(94a) 모두에 삽입 통과 가능한 축부(93a)를 구비한 제 1 리프터핀(24b-1)과, 대직경부(92b)에 삽입통과 가능한 덮개부(91b)와, 대직경부(92b) 및 소직경부(92a) 모두에 삽입통과 가능한 축부(91a)를 구비한 제 2 리프터핀(24b-2)를 구비한다.
Abstract:
피처리 기판 표면에 금속 카보닐 원료의 기상 분자를 공급하여 상기 피처리 기판 표면 근방에서 분해시킴으로써 상기 피처리 기판 표면에 금속막을 퇴적하는 성막 방법에 있어서, 상기 피처리 기판 표면에 금속층을 퇴적할 때에, 상기 피처리 기판의 외주부에 인접하는 영역에서 상기 금속 카보닐 원료를 우선적으로 분해시키는 공정을 마련하여, 상기 피처리 기판 외주부 근방에서 분위기 중의 CO 농도를 국소적으로 증대시켜, 상기 외주부로의 금속막의 퇴적을 억제한다.
Abstract:
유기 금속 화합물로 이루어지는 원료 가스를 이용하여 박막을 형성하는 성막 장치는, 내부를 진공 배기할 수 있는 처리 용기(22)와, 피처리체(W)를 배치하며 피처리체(W)를 가열하는 가열 히터(34)가 설치된 배치대(28)와, 배치대(28)의 상방에 배치대(28)에 대향하도록 설치되고, 배치대(28) 상의 피처리체(W)의 외주단보다 외측의 영역을 향하여 원료 가스를 도입하는 가스 도입 기구(80)와, 배치대(28)의 상방의 처리 공간(S)을 둘러싸, 그 내외를 구획하며, 그 하단부가 배치대(28)에 접근하도록 설치되고, 하단부와 배치대(28)의 주연부 사이에서 가스 출구(92)를 형성하는 내부 구획벽(90)과, 내부 구획벽(90)의 하단부에 배치대(28)의 반경 방향의 내방을 향하여 연장되도록 설치되며, 배치대(28)의 주연부와의 사이에서 가스 출구(92)에 연통하는 오리피스부(98)를 형성하는 오리피스 형성 부재(96)를 구비한다.
Abstract:
본 발명은 진공 배기가 가능하게 된 처리 용기내에서, 유기 금속 화합물의 원료로 이루어지는 원료 가스를 이용하여, 피처리체의 표면에 박막을 형성하기 위해 해당 피처리체를 탑재하는 탑재대 구조에 관한 것이다. 본 발명에 의한 탑재대 구조는 피처리체를 탑재하고, 내부에 가열 히터가 마련된 탑재대 본체와, 상기 탑재대 본체의 측면과 저면을 둘러싼 상태에서 상기 탑재대 본체를 지지하고, 내부에 냉매를 흘리는 냉매 통로가 마련되고, 원료 가스의 분해 온도 미만이고 또한 원료 가스의 고화 온도 또는 액화 온도보다 높은 온도 범위로 유지된 기대를 구비한 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 발명은, 가역성을 갖는 열분해 반응을 발생시키는 원료 가스를 이용하여 처리 용기 내에서 피처리체에 대하여 박막을 형성하기 위해, 상기 처리 용기 내에 설치되어 상기 피처리체를 배치하는 배치대 구조에 있어서, 그 상면인 배치면에 상기 피처리체를 배치하기 위한 배치대와, 상기 배치대 내에 설치된, 상기 원료 가스의 열분해를 억제하는 분해 억제 가스를 상기 배치대의 배치면에 배치되는 상기 피처리체의 주변부를 향해 공급하기 위한 분해 억제 가스 공급 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 배치대 구조이다.
Abstract:
Provided is a substrate placing mechanism whereupon a substrate to be processed is placed. The substrate placing mechanism is provided with a heater plate (21), which has a surface (21a) whereupon a substrate to be processed is placed and has a heating body (21b) embedded therein for heating the substrate to a film forming temperature where a film is deposited. The substrate placing mechanism is also provided with a temperature adjustment jacket (22), which is formed to cover at least a surface of the heater plate (21) other than the surface of the substrate placing surface (21a) and adjusts the temperature to be a non film forming temperature below the film forming temperature.
Abstract:
A temperature response of a mounting tray is increased. A substrate processing apparatus includes: a chamber, a mounting tray installed in the chamber to mount a substrate, a high frequency power source to apply high frequency electric power, a gas supply source to supply a desired gas into the chamber wherein the mounting tray has a first ceramic base having a passage through which a refrigerant flows, and a first conductive layer formed on a peripheral surface and a side surface of the first ceramic base to which a substrate is mounted; and an electrostatic chuck laminated on the first conductive layer, to electrostatically absorb the mounted substrate, the volume of the passage equal to or greater than the volume of the first ceramic base, whereby plasma is generated from the desired gas by the high frequency electric power applied to the first conductive layer, and the mounted substrate is processed by the plasma.