Apparatus for determining light power level, microscope, and method for microscopy
    2.
    发明专利
    Apparatus for determining light power level, microscope, and method for microscopy 审中-公开
    用于确定光功率级别,显微镜和显微镜方法的装置

    公开(公告)号:JP2003075764A

    公开(公告)日:2003-03-12

    申请号:JP2002152540

    申请日:2002-05-27

    CPC classification number: G02B27/108 G02B21/00 G02B27/144 G11B7/00

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for determining a light power level by a sufficiently precise and reproducible method.
    SOLUTION: The apparatus for determining the light power level of a light beam (7) has a beamsplitter (1) and a detector (11) associated with the beamsplitter (1). The apparatus is characterized in that the beamsplitter (1) splits measuring light (23) from the light beam and conveys it to the detector (11), and that the ratio between the light power level of the light beam (7) and the light power level of the measuring light (23) measured at the detector (11) is constant over time.
    COPYRIGHT: (C)2003,JPO

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种通过足够精确和可再现的方法来确定光功率水平的装置。 解决方案:用于确定光束(7)的光功率电平的装置具有与分束器(1)相关联的分束器(1)和检测器(11)。 该装置的特征在于分束器(1)从光束分离测量光(23)并将其传送到检测器(11),并且光束(7)的光功率级与光 在检测器(11)处测量的测量光(23)的功率电平随时间变化是恒定的。

    3.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE10125469B4

    公开(公告)日:2008-01-10

    申请号:DE10125469

    申请日:2001-05-25

    Abstract: Device for determination of the light intensity of a light beam (7) has a beam splitter (1) and a detector (11). The beam splitter divides off a measurement beam (23) from the incident beam and the ratio of the intensity of the light in the incident beam to that of the measurement beam is measured using the detector to ensure that the ratio remains constant. Beam splitter and detector form a single unit. Independent claims are also made for: (1) A microscope; (2) A microscopy method in which the intensity of the incident illumination beam is monitored.

    Raman-mikroskopische Abbildungseinrichtung

    公开(公告)号:DE102013112759A1

    公开(公告)日:2015-05-21

    申请号:DE102013112759

    申请日:2013-11-19

    Abstract: Beschrieben ist eine Raman-mikroskopische Abbildungseinrichtung (100) mit einer ersten Laserlichtquelle (12) zum Aussenden eines ersten Laserstrahls (16) mit einer ersten Wellenlänge längs eines ersten Lichtwegs (20); einer zweiten Laserlichtquelle (44) zum Aussenden eines zweiten Laserstrahls (18) mit einer von der ersten Wellenlänge verschiedenen zweiten Wellenlänge längs eines von dem ersten Lichtweg (20) räumlich getrennten zweiten Lichtwegs (22); einem Strahlvereinigungselement (32) zur kollinearen Vereinigung der beiden Laserstrahlen (16, 18) in einem gemeinsamen, auf eine Probe gerichteten Lichtweg (34); einem Detektor (38) zum Erfassen eines Messsignals auf Grundlage der beiden mit der Probe wechselwirkenden Laserstrahlen (16, 18); und einer Auswerteeinheit (40) zum Auswerten des von dem Detektor (38) erfassten Messsignals. Erfindungsgemäß ist die erste Laserlichtquelle (12) als Pulsquelle und die zweite Laserlichtquelle (44) als kontinuierliche Quelle ausgebildet.

    6.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE10125469A1

    公开(公告)日:2002-12-12

    申请号:DE10125469

    申请日:2001-05-25

    Abstract: Device for determination of the light intensity of a light beam (7) has a beam splitter (1) and a detector (11). The beam splitter divides off a measurement beam (23) from the incident beam and the ratio of the intensity of the light in the incident beam to that of the measurement beam is measured using the detector to ensure that the ratio remains constant. Beam splitter and detector form a single unit. Independent claims are also made for: (1) A microscope; (2) A microscopy method in which the intensity of the incident illumination beam is monitored.

    Raman-mikroskopische Abbildungseinrichtung

    公开(公告)号:DE102013112759B4

    公开(公告)日:2017-12-14

    申请号:DE102013112759

    申请日:2013-11-19

    Abstract: Raman-mikroskopische Abbildungseinrichtung (100) mit einer ersten Laserlichtquelle (12) zum Aussenden eines ersten Laserstrahls (16) mit einer ersten Wellenlänge längs eines ersten Lichtwegs (20); einer zweiten Laserlichtquelle (44) zum Aussenden eines zweiten Laserstrahls (18) mit einer von der ersten Wellenlänge verschiedenen zweiten Wellenlänge längs eines von dem ersten Lichtweg (20) räumlich getrennten zweiten Lichtwegs (22); einem Strahlvereinigungselement (32) zur kollinearen Vereinigung der beiden Laserstrahlen (16, 18) in einem gemeinsamen, auf eine Probe gerichteten Lichtweg (34); einem Detektor (38) zum Erfassen eines Messsignals auf Grundlage der beiden mit der Probe wechselwirkenden Laserstrahlen (16, 18); und einer Auswerteeinheit (40) zum Auswerten des von dem Detektor (38) erfassten Messsignals; gekennzeichnet durch eine die erste Laserlichtquelle (12) bildende Pulsquelle zum Aussenden des ersten Laserstrahls (16) in Form eines gepulsten Laserstrahls; eine die zweite Laserlichtquelle (44) bildende kontinuierliche Quelle zum Aussenden des zweiten Laserstrahls (18) in Form eines kontinuierlichen Laserstrahls, und einen Referenzsignalgenerator (46), der auf Grundlage des von der ersten Laserlichtquelle (12) ausgesendeten ersten Laserstrahls (16) ein Referenzsignal erzeugt, das einer Pulswiederholrate entspricht, mit der die erste Laserlichtquelle (12) den gepulsten ersten Laserstrahl (16) aussendet, und der das Referenzsignal der Auswerteeinheit (40) zuführt, die ausgebildet ist, das Messsignal in Abhängigkeit des Referenzsignals auszuwerten.

    Vorrichtung zur Montage für mehrere Laser und Mikroskop

    公开(公告)号:DE102005059650B4

    公开(公告)日:2011-08-18

    申请号:DE102005059650

    申请日:2005-12-14

    Abstract: Vorrichtung zur Montage für mehrere Laser (16a, 16b, 16c), wobei eine Lichtleitfaser (20) Licht der mehreren auf einer Montageplatte (15) befestigten Laser (16a, 16b, 16c) zu einem optischen System (10) führt, wobei eine Vereinigungseinheit (18) auf der Montageplatte (15) befestigt ist, die Vereinigungseinheit (18) mehrere Eingangsports (18a, 18b, 18c) aufweist, jeder Laser (16a, 16b, 16c) einen Ausgang (25a, 25b, 25c) für Licht aufweist, jeder Laser (16a, 16b, 16c) derart auf der Montageplatte (15) montiert ist, dass der jeweilige Ausgang (25a, 25b, 25c) eines Lasers mit dem jeweils zugehörigen Eingangsport (18a, 18b, 18c) der Vereinigungseinheit (18) kollinear ist, die Vereinigungseinheit (18) das Licht der mehreren Laser (16a, 16b, 16c) zu einem einzigen Strahl (30) vereinigt und die Montageplatte (15) eine Oberseite und eine Unterseite ausgebildet hat, wobei die Oberseite (15a) die Vereinigungseinheit und die mehreren Laser, und die Unterseite mindestens einen weiteren Laser trägt.

    10.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102004004115A1

    公开(公告)日:2005-08-11

    申请号:DE102004004115

    申请日:2004-01-28

    Abstract: A microscope system includes at least one lens that defines an illumination field and at least one light source that emits an illuminating light beam for illuminating a specimen through the lens. At least one detector is provided for, pixel-by-pixel, detecting a detection light beam coming from the specimen. An electronic circuit is connected downstream from the detector, the electronic circuit including a memory unit for storing a wavelength-dependent brightness distribution of an illumination field of the at least one lens. The electronic circuit employs, pixel-by-pixel, the stored wavelength-dependent brightness distribution so as to form a homogeneously illuminated image field. An actuatable element is provided for controlling, pixel-by-pixel, an intensity of the illuminating light beam as a function of the stored wavelength-dependent brightness distribution so as to homogeneously illuminate the illumination field.

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