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公开(公告)号：CN101305289A
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200680034575.9
申请日：2006-08-03
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31716 , G01R31/31715 , G01R31/31726
Abstract: 通过在PXI_LOCAL上提供若干控制信号而获得例如PXI等标准化底盘内的精确定时控制。最小公倍数(Least Common Multiple，LCM)信号使得所有时钟能够具有在每个LCM边沿出现的一致的时钟边沿。启动序列允许测试系统中的所有PXI扩展卡同时启动。MATCH线路使得引脚卡模块能够检验预期的DUT输出，并根据所述DUT输出检验的结果继续执行它们的局部测试程序或环回并重复所述局部测试程序的一部分。测试结束(End Of Test，EOT)线路使得如果任一引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则所述引脚卡模块便能够突然结束在所有其它引脚卡模块中运行的局部测试程序。
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公开(公告)号：CN101283283A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200580051804.3
申请日：2005-10-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893
Abstract: 一种插入件，在半导体测试装置内，收容被测试半导体器件(100)，其配置有：框部(520)；支持被测试半导体器件(100)的IC收容部(530)；在能够改变框部(520)以及IC收容部(530)的相对位置的状态下，彼此连接框部(520)以及IC收容部(530)的连接部；在特定期间内把IC收容部(530)引导到与框部(520)对应的相对性规定位置的导向部。
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公开(公告)号：CN101273311A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200580051700.2
申请日：2005-09-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
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公开(公告)号：CN100414302C
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN02809900.1
申请日：2002-05-27
CPC classification number: G01R1/07307 , G01R1/07342 , G01R3/00 , Y10T29/49155 , Y10T29/49174 , Y10T29/49204
Abstract: 一种探测卡的制造方法，其特征在于，包括使特有过冷却液体温度域，具有所定形状的若干个非晶质合金层形成于所定基板的阶段，使非晶质合金层加热至过冷却液体温度域的阶段、使非晶质合金层冷却至比过冷却液体温度域较低温度的阶段，以及在使非晶质合金层冷却至比过冷却液体温度域较低温度的状态，将所定基板的最少部分去除的阶段。
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公开(公告)号：CN101238379A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200680028210.5
申请日：2006-08-01
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 本发明提供一种能够将功能板(200)的不同种类连接器一次连接的半导体测试装置(20)。所述装置具有：测试头本体(100)，所述测试头本体(100)包括发出用于测试被测试器件(10)的测试信号的信号组件(110)；接口板(200)，其具有与板本体(210)以及信号组件(110)电连接，且设置在板本体(210)之上的多个插座、并被安装在测试头本体(100)上；以及，功能板(300)，所述功能板(300)在一面具有嵌合并电连接在插座上的连接器，另一面具有与连接器电连接，且连接在被测试器件(10)上的测试用插口(330)，通过将连接器嵌合在插座上，而安装在接口板(200)上；所述装置还包括在连接器对插座插拔的方向，相对于板本体(200)位移的升降插座及升降连接器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100390558C
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN02812051.5
申请日：2002-07-17
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 关野隆
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31926
Abstract: 本发明提供一种输入输出电路，是与电子元件进行信号的授受的输入输出电路，装备向电子元件供给信号的驱动器、与驱动器并列设置并从电子元件接收信号的比较器、在比较器和电子元件之间与比较器及电子元件串联设置的中继电路、将比较器和中继电路进行电连接的第1传送线路，其中，中继电路的阻抗大于第1传送线路的阻抗。
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公开(公告)号：CN101147075A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200680009166.3
申请日：2006-03-14
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 熊木德雄
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31907 , G06F11/26
Abstract: 以减少测试控制所必需的中央处理装置的数目，降低半导体测试装置的故障率为目的，提供一种测试装置，其具有进行多个被测器件的测试的多个测试模块和根据被指定的工作模式，控制多个测试模块的测试动作的中央处理装置；在该测试装置中，中央处理装置，在指定的工作模式是通过多个测试模块同时并行进行同一测试的并行测试模式时，通过执行预先确定的一个测试用过程，来控制多个测试模块的每个中的测试动作，另一方面，在指定的工作模式是通过每个测试模块以独立执行相互不同的测试的独立测试模式时，通过每个测试模块边转换边执行多个该测试用过程以并行控制所述多个测试模块。
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公开(公告)号：CN101145770A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200710143083.X
申请日：2007-08-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/3016
Abstract: 本发明提供一种延迟电路、测试装置、存储介质、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。
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公开(公告)号：CN101133340A
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200680007171.0
申请日：2006-03-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/31928 , G01R31/31937
Abstract: 一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。
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公开(公告)号：CN101057402A
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：CN200580038251.8
申请日：2005-10-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03M1/1245
Abstract: 本发明是有关于一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，包括：脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出一取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序。
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