公开(公告)号：CN1846138A

公开(公告)日：2006-10-11

申请号：CN200480019363.4

申请日：2004-12-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 黑鸟文夫 ,  石川贵治 ,  齐藤忠男

IPC: G01R1/067 ,  G01R1/073 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R1/07371 ,  G01R1/06722 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/06738 ,  G01R1/06761

Abstract: 一种触针(50)，与晶片的端子接触，用于对该晶片提供信号，包括：由具有比晶片的端子上形成的氧化膜更高的硬度的第一导电性材料构成的第一导电层(51b)、由具有比所述氧化膜更低的硬度的第二导电性材料构成的第二导电层(51c)、在外侧形成第一导电层(51b)以及第二导电层(51c)的母材(51a)，第一导电层(51b)紧贴第二导电层(51c)的外侧形成，在触针(50)的顶端面(50a)上，第一导电层(51b)以及第二导电层(51c)一起露出。

公开(公告)号：CN1823394A

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN200480020621.0

申请日：2004-07-15

Applicant: 平河福泰克株式会社 ,  株式会社爱德万测试

Inventor： 斋藤寿朗 ,  若林寿幸

IPC: H01B13/08

CPC classification number: H01B13/0816 ,  Y10T29/532

Abstract: 一种用于线材的带卷绕装置(100)，包括多个以平行于一个中空轴杆(101)的方式安装在一个带卷绕飞轮(107)一个平面上的张力控制辊(110)和(120)。一个带体(1)通过第一驱动源(106)的转动而从一个带垫(102)供应至带卷绕飞轮(107)，且带体(1)通过第一驱动源(106)的转动而供应至带卷绕飞轮(107)，而供应至带卷绕飞轮(107)的带体(1)通过所述的多个张力控制辊(110)和(120)调节，从而使得其张力恒定，并且通过第二驱动源(109)的转动而在所述中空轴杆(101)的尖端处卷绕在线材(10)上。从而，带体可没有伸长或断裂地卷绕在线材上。

公开(公告)号：CN1774640A

公开(公告)日：2006-05-17

申请号：CN200480009741.0

申请日：2004-04-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 安肯·巴曼尼克 ,  西达尔特·萨韦 ,  罗克特·拉吉舒曼

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919 ,  G01R31/31937

Abstract: 一种使用基于事件的半导体测试系统来调试IC设备的故障的测试方法，该方法能够分辨有关定时的故障和其他故障。该测试方法包括步骤：施加测试信号到DUT上并评估DUT的响应输出，在响应输出中检测故障，识别与故障有关的参考信号，识别参考信号的一部分，以及逐渐增大参考信号的该部分中的事件的定时来检测来自DUT的响应输出中的变化。

公开(公告)号：CN1226635C

公开(公告)日：2005-11-09

申请号：CN98801238.3

申请日：1998-07-02

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 伊藤明彦 ,  小林义仁 ,  增尾芳幸 ,  山下毅

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2893 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/2867

Abstract: 一种IC测试器，能够减少完成对所有要测试的IC的测试需要的时间。恒温室(4)和退出室(5)的深度(在Y轴方向的长度)，扩充了大致对应于矩形测试盘(3)的横边的长度(短边的长度)，在从恒温室(4)中的保温室(41)经恒温室(4)中的测试部分(42)伸展到退出室(5)的通道的部分中，提供了两条基本平行的测试盘输送通道或者加宽的测试盘输送通道，能够沿着两条输送通道或加宽的测试盘输送通道同时输送两个测试盘，这两个测试盘在横过两条平行的测试盘输送通道的方向上并列安排。

公开(公告)号：CN1639928A

公开(公告)日：2005-07-13

申请号：CN03805059.5

申请日：2003-02-25

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 金子雅则 ,  滨博之 ,  石川贵治 ,  松村茂

IPC: H01R43/26 ,  H05K1/14 ,  H05K3/36

CPC classification number: H01R43/26 ,  Y10T29/53213 ,  Y10T29/53217 ,  Y10T29/53252 ,  Y10T29/53261 ,  Y10T29/53265 ,  Y10T29/53961 ,  Y10T29/53974 ,  Y10T29/53978 ,  Y10T29/53983

Abstract: 在具有多个连接器的情况下，也可同时容易且可靠地插拔所有连接器。作为将插座板(10)中具有的多个连接器装卸到对应的主板(20)侧的多个连接器的工卡模具，包括：接合器(30)，和与插座板(10)的连接器配置面不同的半导体零件装载面侧对向配置，沿连接器的插拔方向进退移动；按压单元(40)，突出设置在接合器(30)上，与插座板(10)的半导体零件装载面侧接触，通过接合器(30)的下降移动，将插座板(10)按压到主板(20)侧；牵引单元(50)，突出设置在接合器(30)上，与插座板(10)上形成的结合孔部(16)结合，通过接合器(30)的上升移动，向离开主板(20)侧的方向牵引插座板(10)。

公开(公告)号：CN1630916A

公开(公告)日：2005-06-22

申请号：CN03803532.4

申请日：2003-02-10

Applicant: 平河福泰克株式会社 ,  株式会社爱德万测试

Inventor： 山口铁雄 ,  岩崎光男 ,  石户隆雄 ,  草间孝秋 ,  南城光夫 ,  松村茂 ,  村山茂

IPC: H01B11/18 ,  H01B13/00

CPC classification number: H01B11/1839 ,  H01B11/1813 ,  H01B13/016 ,  Y02A30/50

Abstract: 一种高精度发泡同轴电缆，由将多条导线绞合而成的内导体，在该内导体的外周形成的由多孔质带状体所构成的低介电常数的发泡绝缘体，在该发泡绝缘体的外周编织的由多条细导线所构成的外导体，以及在该外导体的外周形成的由具有耐热性的树脂所构成的外护套所组成，并使所述内导体的外径尺寸的精度为4/1000mm以下，使所述发泡绝缘体的外径尺寸的精度为±0.02mm，并将其形状形成为正圆形，使所述外导体的外径尺寸的精度为外径中心值的±2％，并将其形状形成为正圆形，使夹持所述发泡绝缘体的所述内导体与所述外导体之间的特性阻抗值的精度为±1Ω。

公开(公告)号：CN1198147C

公开(公告)日：2005-04-20

申请号：CN01801661.8

申请日：2001-06-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐藤敦 ,  中村政文 ,  井畑刚裕

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/319

Abstract: 本发明提供一种可以监视继电器动作次数等的测试履历的半导体测试装置及其监视装置。为此，在由总线的信号信息控制各测试电路，进行被测定器件的测试的半导体测试装置中设置：多个缓冲存储器，交替写入上述总线的信号信息；计算机，交替读出这该多个缓冲存储器的信号信息，作为文件保存、解析，具备可以监视测试履历的解决方案。

公开(公告)号：CN1197276C

公开(公告)日：2005-04-13

申请号：CN98118630.0

申请日：1998-08-20

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 冈安俊幸

IPC: H04B10/18

CPC classification number: H04B10/564 ,  H04B10/506

Abstract: 一种抑制因温度变化而引起的电源噪声、漂移和定时颤动和漂移的并行光信号传输装置。并行光信号传输装置具有输出与激光驱动器(11)预定比例的驱动电流对应的电流值作为直流参考电流的参考电流源(4)，激光驱动器(11)安装在传输侧。并行光信号传输装置还具有发射由直流参考电流驱动的标准参考光信号并安装在传输侧的参考激光电二极管(121)。与直流参考电流对应的由电流-电压转换电路(21)转换的电压信号作为参考电压Vref施加到比较器(24)。

公开(公告)号：CN1545625A

公开(公告)日：2004-11-10

申请号：CN02816332.X

申请日：2002-08-20

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 伊藤明彦 ,  中村浩人

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R1/0433 ,  G01R1/07314 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明目的在于提供能够存放种类广泛的区域阵列电子部件，同时能够实现区域阵列电子部件外部端子与插座连接端子可靠连接的插件、以及利用它的电子部件试验装置和电子部件试验方法。为了达到该目的，使保持IC器件2的薄板163位于IC器件2的外部端子面23与插座40的连接端子面42之间，同时规定薄板163的厚度为跟外部端子22的顶端部与外部端子面23的距离大约相同或其以下。

公开(公告)号：CN1166542C

公开(公告)日：2004-09-15

申请号：CN01117857.4

申请日：2001-03-16

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 柏崎利男 ,  五十岚德幸 ,  中嶋治希

IPC: B65G47/91 ,  G01R31/26

CPC classification number: B25J15/0616 ,  B25B11/007 ,  B65G47/91 ,  H05K13/0409

Abstract: 一种部件保持装置，包括底板(11)，设置在底板中的中空的延长器保护器(12)，对着延长器保护器沿轴向可移动地插入的、具有通孔(131)的延长器销(13)，装在延长器销前端的、具有与该延长器销的通孔连通的通孔(141)的延长器(14)，和设置在底板中的、也具有与延长器销的通孔连通的通孔(151)的、可沿轴向伸缩的折皱延长器(15)。由于在折皱延长器的通孔(151)，延长器销的通孔(131)和延长器的通孔(141)中施加负压，所以在上述延长器中吸附保持着部件。