Abstract:
PURPOSE: A tape interconnection substrate is provided to eliminate a problem caused by an exposed lead, by using a bump formed on a base film while maintaining an inherent advantage of the tape interconnection substrate and a semiconductor chip package using the tape interconnection substrate so that an electrical connection with a semiconductor chip is enabled. CONSTITUTION: A base film(11) of an insulating material has the first surface on which an adhesive layer is formed and the second surface opposite to the first surface. An interconnection pattern(15) is formed on the first surface of the base film. A passivation layer is formed on the first surface to cover the interconnection pattern. A bump(19) is formed on the second surface, penetrating the base film and the adhesive layer and adhered to the interconnection pattern. The bump has a predetermined height from the second surface.
Abstract:
본 발명은 마이크로 비지에이 패키지(μBGA package) 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 빔 리드가 형성된 폴리이미드 테이프와 반도체 칩의 활성면 사이에 접착제로 사용되는 탄성중합체의 경화공정시간을 줄이고, 탄성중합체의 각 계면에서 발생하는 불융합 현상 등을 방지할 수 있는 마이크로 비지에이 패키지 및 그 제조방법에 관한 것이며, 이를 위하여 본 발명은 접착과 함께 경화되는 특성을 지닌 열가소성 접착제(Thermoplastic adhesive)를 이용하여 반도체 칩을 폴리이미드 테이프에 접착시킨 마이크로 비지에이 패키지의 구조를 개시하고, 그에 따라 열가소성 접착제를 경화시키기 위한 별도의 경화공정이 필요 없는 마이크로 비지에이 패키지의 제조방법을 개시하며, 이러한 구조와 방법을 통하여 마이크로 비지에이 패키지의 제조공기� �� 단축하여 양산화에 도움을 줄 수 있으며, 열가소성 접착제가 이루는 각 계면에서 발생하는 불융합 현상 등을 방지하여 제품의 수율을 향상할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A chip scale stack chip package is provided to reduce a size of a semiconductor package by forming a plurality of semiconductor chip with one package. CONSTITUTION: An inner lead(21) has a down-set portion. The first semiconductor chip(11) has an active face formed with a plurality of bonding pad and an inactive face opposite to the active face. The inactive portion of the first semiconductor chip(11) is adhered to the down-set portion of the inner lead(21). The second semiconductor chip(13) has an active face formed with a plurality of bonding pad and an inactive face opposite to the active face. The inactive portion of the second semiconductor chip(13) is adhered to the down-set portion opposite to the down-set portion adhered to the first semiconductor chip(11). A bonding wire(41) connects electrically a bonding pad(12) of the first semiconductor chip(11) with the corresponding inner lead(21). A tap tape(50) is adhered to the active face of the second semiconductor chip(13) by an elastic polymer(55). The tap tape(50) has a beam lead(53) connected with a bonding pad(14) of the second semiconductor chip(13). The tap tape(50) is encapsulated by a package body(61). A lower connection terminal is adhered on an exposed face of the tap tape(50) to be connected with the beam lead(53). An outer lead(23) and the inner lead(21) are formed with one body.
Abstract:
An ink jet print head, a method of bonding a flexible printed circuit (FPC) (60) cable for an ink jet print head, and an apparatus adopting the method are provided. In this bonding method, the bonding portion of an FPC conductor (61) is heated being pressed down on a corresponding pad (20) formed on a substrate (10) for an ink jet print head. Then, at least two pads (20) are bonded at a time. In this bonding method, an electrical defect due to pad peel-off phenomenon, which is created by an conventional tape automated bonding (TAB) method in which the conductors of an FPC cable are bonded to the pads on a substrate in a manner where one conductor is bonded to a pad at a time, is removed to increase the reliability of bonding. In addition, the bonding of a plurality of pads (20) at a time leads to a reduction in the time required for bonding.
Abstract:
본 발명은 웨이퍼 및 웨이퍼의 절삭 방법에 관한 것으로, 웨이퍼 정렬을 위한 표준화된 기준 패턴을 형성하여 웨이퍼 정렬 불량에 따른 웨이퍼 절삭 공정을 진행하지 못하는 불량을 억제할 수 있는 인식 마크가 형성된 반도체 웨이퍼 및 그 인식 마크를 이용한 웨이퍼의 절삭 방법을 제공하는 데 있다. 특히 본 발명에 따른 반도체 웨이퍼는 복수의 반도체 소자를 구분하는 수직 스크라이브 라인과 수평 스크라이브 라인이 교차하는 지점에 카메라가 명확하게 인식할 수 있도록 명암이 명확하게 구분되며, 복수의 직선적인 패턴이 존재하며, 적어도 하나 이상의 직선적인 패턴이 교차하는 지점을 갖는 인식 마크가 형성된 것을 특징으로 한다. 그리고, 인식 마크는 반도체 소자에서 이격된 스크라이브 라인의 교차하는 지점에 형성되기 때문에 반도체 소자에 형성된 패턴과의 오인식을 줄일 수 있으며, 인식 마크는 카메라가 인식하기 좋은 패턴 형상을 갖기 때문에 웨이퍼 정렬의 신뢰성을 확보할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor package is provided to perform a routing wiring efficiently by using a chip align mark instead of a dummy bump. CONSTITUTION: A semiconductor package comprises a substrate(210) and a semiconductor chip(110) which is arranged on the substrate. The chip align mark(150) is formed on the one-side of the semiconductor chip. A wiring pattern is formed on the one-side of the substrate. The chip align mark is bonded with the wiring pattern. The bump(120a) and the routing wiring are formed on the one-side of the semiconductor chip. The routing wiring is electrically connected to the bump. The routing wiring is extended to the center of the semiconductor chip. The chip align mark is not arranged between the center of the semiconductor chip and the bump. The chip align mark is arranged on an outer corner of the semiconductor chip.
Abstract:
본 발명은 빔리드가 형성된 테이프를 이용한 에프비지에이 패키지(FBGA package)에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 개구부를 통해 노출되는 빔리드를 봉지하는 봉지재가 원활하게 주입될 수 있는 에프비지에이 패키지에 관한 것이며, 이를 위하여 반도체 칩과 테이프 사이에 개재되는 탄성중합체를 본딩패드에 면한 쪽에서 소정의 각도를 이루도록 형태를 변경한 구조를 개시하고 이와 함께 탄성중합체의 소정의 각도를 이루는 면에서 일부를 반도체 칩의 활성면에 수직으로 형성하는 등의 형태를 변경한 구조를 개시하며, 이러한 구조를 통하여 탄성중합체의 사이로 또는 탄성중합체의 일면을 따라 주입되는 액상의 봉지재가 종래에 비하여 짧은 시간 내에 스며들어 경화될 수 있도록 하고, 그 과정에서 봉지재 내에 기포가 발생되지 않도록 함으로써 에� �비지에이 패키지의 제조공정의 수율을 향상할 수 있다.