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公开(公告)号:DE102008025223B4
公开(公告)日:2012-12-06
申请号:DE102008025223
申请日:2008-05-27
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , BEER GOTTFRIED
Abstract: Elektronikbaugruppe, umfassend: mindestens einen Halbleiterchip, eine den Halbleiterchip einbettende Bausteinstruktur, wobei die Bausteinstruktur mindestens eine Leitung umfasst, die in einen Bereich der Bausteinstruktur außerhalb des Umrisses des Chips verläuft, und ein die Bausteinstruktur einbettendes Substrat, welches eine Verdrahtung, die elektrisch mit der mindestens einen Leitung verbunden ist, und Durchkontakte, die konfiguriert sind, die Verdrahtung mit der mindestens einen Leitung elektrisch zu verbinden, umfasst.
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公开(公告)号:DE102009034577A1
公开(公告)日:2010-03-25
申请号:DE102009034577
申请日:2009-07-24
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , BEER GOTTFRIED
IPC: H01L23/06 , B81B7/02 , B81C1/00 , G01P15/08 , G01R33/02 , G06F9/00 , G09F9/313 , G09F9/33 , G09F9/35 , H01L21/56 , H01L23/29 , H04R25/00
Abstract: A semiconductor device and manufacturing method. One embodiment provides a semiconductor chip. An encapsulating material covers the semiconductor chip. A metal layer is over the semiconductor chip and the encapsulating material. At least one of a voltage generating unit and a display unit are rigidly attached to at least one of the encapsulating material and the metal layer.
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公开(公告)号:DE102008039388A1
公开(公告)日:2009-04-16
申请号:DE102008039388
申请日:2008-08-22
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , BEER GOTTFRIED
Abstract: Stacked semiconductor chips are disclosed. One embodiment provides an array of first semiconductor chips, covering the array of the first semiconductor chips with a mold material, and placing an array of second semiconductor chips over the array of the first semiconductor chips. The thicknesses of the second semiconductor chips is reduced. The array of the first semiconductor chips are singulated by dividing the mold material.
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公开(公告)号:DE102007020656A1
公开(公告)日:2008-11-06
申请号:DE102007020656
申请日:2007-04-30
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: BRUNNBAUER MARKUS , MEYER THORSTEN , BRADL STEPHAN , PLIENINGER RALF , POHL JENS , PRESSEL KLAUS , SEZI RECAI
IPC: H01L21/58
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公开(公告)号:DE102005034011A1
公开(公告)日:2007-02-01
申请号:DE102005034011
申请日:2005-07-18
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , DANGELMAIER JOCHEN , THEUSS HORST
IPC: H01L23/053 , G08G1/16 , H01L21/50 , H01L23/49 , H01L23/66
Abstract: A semiconductor device for radio frequencies of more than 10 GHz comprises a semiconductor chip (4) which, on its active top side (5), comprises a radio-frequency region (6) and a low-frequency region (7) and/or a region which is supplied with a direct current (DC) voltage, where the low-frequency region and/or region supplied with DC voltage is embedded in a plastic housing composition (8) arranged such that the composition is spaced apart from the radio-frequency region by a cavity on the active top side of the semiconductor chip. An independent claim is also included for a method for producing a semiconductor device for radio frequencies of more than 10 GHz comprising (A) producing a semiconductor wafer having semiconductor chips arranged in rows and columns and having, on their active top sides, radio-frequency regions and low-frequency regions and/or regions supplied with DC voltage; (B) applying a wall structure (9) which surrounds the radio-frequency regions; (C) separating the semiconductor wafer into semiconductor chips; (D) applying individual semiconductor chips with a wall structure to a carrier having semiconductor device positions; (E) electrically connecting the semiconductor chips to a wiring structure of the carrier via connectors (18); (F) applying an adapted cover (10) to the wall structure; (G) packaging the semiconductor chips, connectors, wall structure, and at least parts of the cover and of the carrier in a plastic housing composition; and (H) separating the semiconductor device positions of the carrier into individual semiconductor devices.
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公开(公告)号:DE102006023123A1
公开(公告)日:2007-01-11
申请号:DE102006023123
申请日:2006-05-16
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: BEER GOTTFRIED , SIMBUERGER WERNER , KIENMAYER CHRISTOPH , PRESSEL KLAUS
IPC: H01L25/04 , G01S7/03 , H01L23/36 , H01L23/498 , H01L23/66 , H01L49/02 , H01P3/08 , H01P11/00 , H01Q1/38
Abstract: A semiconductor module with components (6) for high-frequency operation in a plastic housing comprises a main surface (8) on top of a housing mass (10) and at least one active side (11) of a semiconductor chip with a multilayer connection rail structure (13) on the main surface comprising alternating insulation (16,17) and structured metal (14,15) layers. At least one of the insulation and/or housing mass comprises a highest frequency isolation region. Independent claims are also included for the following: (A) A module as above having a cooling body; (B) Production processes for the modules as above; (C) Distance-determining radar for a motor vehicle; (D) Satellite navigation apparatus; (E) A transponder;and (F) A motor vehicle comprising the above.
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公开(公告)号:DE102015121044B4
公开(公告)日:2020-02-06
申请号:DE102015121044
申请日:2015-12-03
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: MEYER THORSTEN , PRESSEL KLAUS , MACIEJ WOJNOWSKI
Abstract: Anschlussblock (600), umfassend:• ein Kapselungsmittel (400);• mindestens eine erste elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (602), die durch das Kapselungsmittel (400) von einer ersten Fläche (606) des Kapselungsmittels (400) zu einer zweiten Fläche (608) des Kapselungsmittels (400) verläuft;• mindestens eine zweite elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (604), die sich entlang einer äußeren dritten Fläche (610) des Kapselungsmittels (400) von der ersten Fläche (606) des Kapselungsmittels (400) zu der zweiten Fläche (608) des Kapselungsmittels (400) erstreckt;• wobei die mindestens eine erste elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (602) als mindestens ein Abschnitt von mindestens einem aus der Gruppe, bestehend aus einem Leadframe und einer strukturierten elektrisch leitfähigen Platte mit einer Mehrzahl von parallelen Rippen, konfiguriert ist;• wobei die mindestens eine zweite elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (604) als mindestens eine aus der Gruppe bestehend aus elektroplattierten Strukturen und gesputterten Strukturen konfiguriert ist; und• wobei eine Querschnittsfläche (A1) der mindestens einen ersten elektrisch leitfähigen Durchkontaktierung (602) größer ist als eine Querschnittsfläche (A2) der mindestens einen zweiten elektrisch leitfähigen Durchkontaktierung (604) in einer Ebene senkrecht zu einer Richtung, die von der ersten Fläche (606) des Kapselungsmittels (400) zu der zweiten Fläche (608) des Kapselungsmittels (400) verläuft.
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公开(公告)号:DE102015121044A1
公开(公告)日:2017-06-08
申请号:DE102015121044
申请日:2015-12-03
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: MEYER THORSTEN , PRESSEL KLAUS , MACIEJ WOJNOWSKI
Abstract: Elektronische Vorrichtung (710), umfassend eine Halbleiterpackung (770), das einen ersten Hauptoberflächenbereich (772) und einen zweiten Hauptoberflächenbereich (774) aufweist und einen Halbleiterchip (712), umfassend mindestens einen Chippad (714) in dem zweiten Hauptoberflächenbereich (774), und einen Anschlussblock (600), umfassend mindestens eine erste elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (602) und mindestens eine zweite elektrisch leitfähige Durchkontaktierung (604), umfasst, die mit unterschiedlichen Querschnittsflächen (A1, A2) zwischen dem ersten Hauptoberflächenbereich (772) und dem zweiten Hauptoberflächenbereich (774) verlaufen und nebeneinanderliegend mit dem Halbleiterchip (712) angeordnet sind.
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公开(公告)号:DE102009039226B4
公开(公告)日:2015-06-18
申请号:DE102009039226
申请日:2009-08-28
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , BEER GOTTFRIED
IPC: H01L21/50 , H01L21/683 , H01L21/78
Abstract: Verfahren zum Herstellen eines Stacked-Die-Moduls, wobei das Verfahren folgendes umfasst: Aufbringen von mehreren Stacked-Die-Strukturen auf einen Träger, wobei jede Stacked-Die-Struktur einen auf dem Träger aufgebrachten ersten Halbleiter-Die und einen über dem ersten Halbleiter-Die gestapelten zweiten Halbleiter-Die enthält, wobei der zweite Halbleiter-Die eine größere seitliche Oberfläche als der erste Halbleiter-Die aufweist; Aufbringen eines Damms um jede der Stacked-Die-Strukturen herum, wodurch ein geschlossener Hohlraum für jede der Stacked-Die-Strukturen entsteht, wobei der geschlossene Hohlraum für jede Stacked-Die-Struktur den ersten Halbleiter-Die der Stacked-Die-Struktur umgibt; und Entfernen des Trägers, wodurch der geschlossene Hohlraum für jede der Stacked-Die-Strukturen geöffnet wird.
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公开(公告)号:DE102008039388B4
公开(公告)日:2011-02-03
申请号:DE102008039388
申请日:2008-08-22
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: PRESSEL KLAUS , BEER GOTTFRIED
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