Abstract:
본 발명은 반도체 배선용 금속막 형성 방법 관한 것으로써, 보다 상세하게는, 본 발명에 따른 반도체 배선용 금속막 형성 방법은 확산 방지막 위에 시드층(Seed layer)이 형성된 반도체 기판을 마련하는 단계; 상기 반도체 기판을 첨가제를 포함하는 구리 전해 도금액에 넣고 환원 전위를 인가하여 반도체 기판의 표면 전체에 구리 박막을 형성하는 1차 전해 도금 단계; 첨가제를 포함하지 않는 상기 구리 전해 도금액에 넣고 환원 전위를 인가하여 구리 전해 도금을 실시함으로써, 불순물을 제거하고 구리 박막을 형성하는 2차 전해 도금 단계; 및 상기 반도체 기판을 열처리 함으로써 비저항을 낮추는 열처리 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 배선용 금속막 형성 방법을 제공함으로써 금속 박막의 전해 도금시 사용되는 첨가제로 인한 금속 박막의 비저항 증가를 최소화 시키는 방법에 관한 것이다.
Abstract:
PURPOSE: An electroless plating solution and a plating method using the same are provided to performing electrodeposition using a first and second plating solution on patterns having different sizes each other and fill without the amount of electroposition. CONSTITUTION: A method for plating with electroless plating solution comprises: a step (S110) of removing a natural oxidation film of a substrate by dipping a pattern substrate in hydrofluoric acid solution; a step (S130) of activating the surface of substrate with palladium catalyst; and a step (S140) of performing electrodeposition with electrodeposition solution.
Abstract:
A method for forming an oxidation barrier or a diffusion barrier of a metal line of a semiconductor device is provided to enhance productivity and efficiency by performing only a continuously chemical mechanical polishing process without causing activation of a copper line using palladium. A surface of a copper layer for a semiconductor device is substituted with Ag by performing a chemical mechanical polishing process using a chemical mechanical polishing slurry includes an Ag-based compound. An oxidation barrier and a diffusion barrier are formed on a surface of the copper layer substituted with Ag by performing the chemical mechanical polishing process using the chemical mechanical polishing slurry including a reducing agent comprising a cobalt compound, a tungsten compound, and phosphorus.
Abstract:
A method for fabricating a micro-reactor is provided to prevent a catalyst from being coated on unnecessary regions in the micro-reactor fabricating process, simplify the cumbersome fabricating process, effectively form a catalyst layer only on inner walls of microchannels even after reactor bonding, and prevent cracking or exfoliation of the catalyst layer even after the reaction is proceeded. A method for fabricating a micro-reactor comprises: a first step of preparing a substrate having microchannels; a second step of flowing a catalyst coating solution into the microchannels of the substrate to fill the microchannels with the catalyst coating solution; and a third step of drying the substrateto form a catalyst layer on inner walls of the microchannels only by surface tension of a solvent contained in the catalyst coating solution. The first step includes the steps of: (a) forming microchannels on at least one of two substrates to be bonded; and (b) bonding the two substrates. The second step is conducted by flowing the catalyst coating solution into the microchannels by a syringe. The third step of drying the substrate includes the steps of: drying the substrate at room temperature; heat-treating the substrate dried at the room temperature at a temperature higher than the room temperature. The method further comprises the step of forming an oxide layer on the substrate prior to the second step to form easily the catalyst layer on the substrate.
Abstract:
A micro reforming reactor for a fuel cell and a method for preparing the same are provided to form a micro tunnel by direct and close contact between a substrate formed with a micro channel and another substrate and form a catalyst layer on an inner wall of the micro tunnel selectively, thereby simplifying the preparing of the micro reforming reactor. A micro reforming reactor for a fuel cell includes a first substrate formed with a micro channel of which a width is 1000mum or less, a second substrate directly and closely contacting the first substrate at the surface formed with the micro channel, a catalyst layer alternatively formed on an inner wall of the micro tunnel, and an adhesive layer formed between the catalyst layer and the inner wall of the micro tunnel.
Abstract:
본 발명은 접착력이 우수한 다층 박막 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 기판 상에 형성된 질화탄탈륨막과, 상기 질화탄탈륨막 상에 형성된 탄탈륨막과, 상기 탄탈륨막 상에 형성된 금 박막을 포함하는 다층 박막에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 질화탄탈륨막이 형성된 기판 상에 탄탈륨을 소정 두께로 증착시킨 다음, 금 박막을 증착시켜 250 내지 800 ℃에서 열처리하여 제조되는 다층 박막의 제조방법에 관한 것이다. 상기 질화탄탈륨막 및 금 박막 사이에 탄탈륨막을 형성하여 상기 층간 사이의 접착력을 효과적으로 증가시켜 반도체 소자, MEMS 및 연료전지 분야에 바람직하게 적용할 수 있다. 금, 질화탄탈륨, 탄탈륨, 열처리, 접착, 반도체 소자, MEMS, 연료전지
Abstract:
PURPOSE: A method for processing the surface of a substrate is provided to be capable of activating the surface of the substrate, reducing surface resistance, and improving the uniformity of an electroless plating layer. CONSTITUTION: A semiconductor substrate is prepared. A native oxide layer formed on the surface of the semiconductor substrate, is etched and cleaned. The surface of the semiconductor substrate is activated by immersing the cleaned semiconductor substrate into an activating solution. At this time, the activating solution is made of a catalyst for oxidizing a reducing agent, an activating agent for activating the surface of the semiconductor substrate, and a complexing agent for forming metal ion and ligand of the catalyst. Preferably, the metal ion of the catalyst is made of palladium, silver, gold, copper, or platinum.
Abstract:
본 발명은 접착력이 우수한 다층 박막 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 기판 상에 형성된 질화탄탈륨막과, 상기 질화탄탈륨막 상에 형성된 탄탈륨막과, 상기 탄탈륨막 상에 형성된 금 박막을 포함하는 다층 박막에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 질화탄탈륨막이 형성된 기판 상에 탄탈륨을 소정 두께로 증착시킨 다음, 금 박막을 증착시켜 250 내지 800 ℃에서 열처리하여 제조되는 다층 박막의 제조방법에 관한 것이다. 상기 질화탄탈륨막 및 금 박막 사이에 탄탈륨막을 형성하여 상기 층간 사이의 접착력을 효과적으로 증가시켜 반도체 소자, MEMS 및 연료전지 분야에 바람직하게 적용할 수 있다. 금, 질화탄탈륨, 탄탈륨, 열처리, 접착, 반도체 소자, MEMS, 연료전지
Abstract:
Ru 박막이 증착되는 확산방지막을 활성화시키는 전처리 공정이 포함되는 Ru 박막 증착방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 따른 방법은, 확산방지막 상에 Ru 박막을 증착하는 방법에 있어서, Ru 박막을 증착하기 전에 확산방지막을 팔라듐으로 활성화시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 핵생성에 필요한 인큐베이션 타임을 줄여 증착속도 개선효과가 있으므로 생산성을 향상시킬 수 있고, 종래보다 비저항값이 작아져서 열처리 공정이 필요 없으므로 생산성이 향상되며, 우수한 표면거칠기를 얻을 수 있으므로 커패시터의 하부전극으로 사용되면 누설전류가 감소되고, 항복전압이 증가하여 전기적 특성이 좋아진다.