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    APPARATUS FOR THE DETECTION OF LIGHT IN A SCANNING MICROSCOPE
    21.
    发明申请
    APPARATUS FOR THE DETECTION OF LIGHT IN A SCANNING MICROSCOPE 审中-公开
    DEVICE FOR光探测在扫描显微镜

    公开(公告)号：WO2008141919A3

    公开(公告)日：2009-03-26

    申请号：PCT/EP2008055537

    申请日：2008-05-06

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS ,  BIRK HOLGER ,  SEYFRIED VOLKER

    Inventor： BIRK HOLGER ,  SEYFRIED VOLKER

    IPC: G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J3/28

    CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J3/2803 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0096 ,  H01L31/107

    Abstract: Disclosed is a light detector (110) for use in a scanning microscope (142), especially a line scanning microscope. Said light detector (110) comprises a linear array (112) of avalanche semiconductor detectors (114) and an electronic control circuit (116) which is designed to operate the avalanche semiconductor detectors (114) in Geiger mode with internal charge gain and/or in a linear mode. The control circuit (116) is equipped with a parallel meter (118) which is designed to read in parallel light pulses that are detected by the avalanche semiconductor detectors (114). Furthermore, the parallel meter (118) is designed to add up the light pulses detected by the avalanche semiconductor detectors (114) during a predefined counting period.

    Abstract translation: 提出了一种用于在一个扫描显微镜（142），其可以特别地在线路扫描显微镜被用于使用光检测器（110）。 所述光检测器（110）包括雪崩半导体检测器的线性阵列（112）（114）以及设置在盖革模式下内部电荷的增益和/或适应于雪崩半导体检测器（114）的电子驱动电路（116） 进行操作的线性模式。 所述驱动电路（116）还包括一个并行计数器（118），所述平行计数器（118）被配置为通过（114）检测到的在平行光脉冲雪崩半导体探测器读出。 此外，并行计数器（118）适于在所述雪崩半导体检测器（114）的光脉冲的预定计数时间总结所检测到的。

    Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Amplitude und/oder Phase einer ausgewählten Frequenzkomponente in einem detektierten Messsignal
    22.
    发明专利
    Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Amplitude und/oder Phase einer ausgewählten Frequenzkomponente in einem detektierten Messsignal 未知

    公开(公告)号：DE102019100915A1

    公开(公告)日：2020-07-16

    申请号：DE102019100915

    申请日：2019-01-15

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER ,  WIDZGOWSKI BERND

    IPC: G02B21/06 ,  G01N21/64 ,  G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Recheneinheit zur Bestimmung von Amplitude und/oder Phase einer ausgewählten Frequenzkomponente in einem detektierten Messsignal, wobei ein Objekt mit nach Maßgabe eines wenigstens eine Frequenzkomponente aufweisenden Modulationssignals leistungsmoduliertem Licht beleuchtet wird, wobei ein Messsignal mit einer Abtastrate, die mindestens dem Vierfachen der Frequenz der ausgewählten Frequenzkomponente entspricht, abgetastet wird, wobei jeder Messwert mit einem zum jeweiligen Messzeitpunkt vorliegenden Wert eines ersten und eines zweiten Referenzsignals multipliziert wird, um jeweils einen ersten und einen zweiten Produktwert je Messwert zu erhalten, wobei das erste Referenzsignal die ausgewählte Frequenzkomponente aufweist und das zweite Referenzsignal zum ersten Referenzsignal um 90° phasenverschoben ist, wobei die ersten und die zweiten Produktwerte aufsummiert werden, um einen ersten und einen zweiten Produktsummenwert zu erhalten, aus denen die Amplitude und/oder die Phase des Messsignals bestimmt werden.

    23.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10125469B4

    公开(公告)日：2008-01-10

    申请号：DE10125469

    申请日：2001-05-25

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH ,  BIRK HOLGER ,  HAY WILLIAM C ,  NISSLE HOLGER

    IPC: G02B26/10 ,  G02B27/10 ,  G02B21/00 ,  G11B7/00 ,  H01L31/00

    Abstract: Device for determination of the light intensity of a light beam (7) has a beam splitter (1) and a detector (11). The beam splitter divides off a measurement beam (23) from the incident beam and the ratio of the intensity of the light in the incident beam to that of the measurement beam is measured using the detector to ensure that the ratio remains constant. Beam splitter and detector form a single unit. Independent claims are also made for: (1) A microscope; (2) A microscopy method in which the intensity of the incident illumination beam is monitored.

    Combining laser light beams
    28.
    发明专利
    Combining laser light beams 未知

    公开(公告)号：GB2361324A

    公开(公告)日：2001-10-17

    申请号：GB0106626

    申请日：2001-03-16

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  HOFFMANN JUERGEN ,  STORZ RAFAEL ,  ULRICH HEINRICH ,  BEWERSDORF JOERG ,  BIRK HOLGER

    IPC: G02B5/30 ,  G02B6/287 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B27/28 ,  G02F1/29 ,  G02F1/33 ,  H01S3/23

    Abstract: Apparatus for combining light from at least two laser light sources (1, 2), such as in a confocal scanning microscope, employs laser light sources of low output power, the light from the sources having at least approximately the same wavelength. A beam combining unit (11) combines the light beams (12, 13) from the two sources in a substantially loss-free manner on the basis of at least one characteristic of the beams. This characteristic can be, for example, the light polarisation, in which case the beam combining unit (11) can be a polarisation beam splitter, phase of light, the pulse profile over time of light or the identical numerical aperture of a glass fibre (Fig 7). Master laser (24, Fig 5) may be combined with slave lasers (25-27, Fig 5). A Faraday rotator (17, Fig 2) or acousto-optical deflector (AOD) (38, Fig 6) may be used.

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