전자부품 검사장치
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101915806B1

    公开(公告)日:2018-11-07

    申请号:KR1020110122166

    申请日:2011-11-22

    Applicant: (주)큐엠씨

    Inventor: 장현삼

    Abstract: 실시예에따른전자부품검사장치는, 하나의구동유닛의구동력을이용하여전자부품을검사하는동작을연동하여수행할수 있는구성에대하여제시한다.

    전자 소자 분류장치
    32.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101900477B1

    公开(公告)日:2018-09-19

    申请号:KR1020120063559

    申请日:2012-06-14

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 전자소자분류장치가개시되며, 상기전자소자분류장치는전자소자를픽업또는플레이싱할 수있도록적어도하나이상의스윙암을포함하는픽업장치; 및상기전자소자가적재되고상기픽업장치의양측에상호마주하도록평행으로배치된제1 및제2 스테이지를포함한다.

    피에조 액츄에이터 및 이에 기반한 도우징 장치
    33.
    发明公开
    피에조 액츄에이터 및 이에 기반한 도우징 장치 审中-实审
    PIEZO执行器和其设备基于此

    公开(公告)号:KR1020160032814A

    公开(公告)日:2016-03-25

    申请号:KR1020140123334

    申请日:2014-09-17

    Applicant: (주)큐엠씨

    CPC classification number: H02N2/067 B05C5/00 B05C11/10

    Abstract: 도우징장치에포함되는피에조액츄에이터가개시되며, 피에조액츄에이터는피에조소자, 상기피에조소자를구동하는제어신호를증폭하는증폭부및 상기증폭부와상기피에조소자사이에접속된임피던스매칭부를포함하되, 상기임피던스매칭부는 LC 필터를포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种包括在计量装置中的压电致动器。 压电致动器包括:压电元件; 放大单元,放大用于驱动压电元件的控制信号; 以及阻抗匹配单元,其连接在所述放大单元和所述压电元件之间,其中所述阻抗匹配单元包括LC滤波器。

    대상물 용융결합 장치 및 방법
    34.
    发明公开
    대상물 용융결합 장치 및 방법 审中-实审
    保护性接合装置和对象的方法

    公开(公告)号:KR1020150090494A

    公开(公告)日:2015-08-06

    申请号:KR1020140011200

    申请日:2014-01-29

    CPC classification number: H01L33/486 H01L21/52 H01L25/0753

    Abstract: 대상물용융결합장치가개시되며, 상기대상물용융결합장치는, 대상물용융결합장치는, 대상물에서기판과상기기판상의칩을용융결합시키는대상물용융결합장치에있어서, 복수개의온도영역을형성하는히팅유닛; 상기대상물이상기복수개의온도영역을순차적으로통과하도록상기대상물을이송시키는이송유닛; 및상기복수개의온도영역중 하나이상의온도영역에서상기칩을하측방향으로가압할수 있도록구비되는누름지지유닛을포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种物体共晶接合装置。 用于将基板和基板的芯片组合在一个物体中的物体共晶接合装置包括:形成温度区域的加热单元; 允许对象连续通过温度区域的传送单元; 以及压力支撑单元,其在至少一个温度区域中向下加压所述芯片。

    전자부품 검사 및 분류장치
    35.
    发明公开
    전자부품 검사 및 분류장치 审中-实审
    用于测试和分类电子组件的装置

    公开(公告)号:KR1020140043594A

    公开(公告)日:2014-04-10

    申请号:KR1020120109212

    申请日:2012-09-28

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: The present invention relates to an apparatus for inspecting and classifying an electronic component. The apparatus for classifying the electronic component according to the embodiment of the present invention quickly and accurately classifies the electronic component by classifying a plurality of electronic components into groups. The apparatus for inspecting and classifying the electronic component according to the present invention includes a supplying unit, a transferring unit, an inspecting unit, and a classifying unit.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于检查和分类电子部件的装置。 根据本发明的实施例的用于对电子部件进行分类的装置通过将多个电子部件分组成组而快速且精确地分类电子部件。 根据本发明的用于检查和分类电子部件的装置包括供给单元,转印单元,检查单元和分类单元。

    전자부품 분류장치
    36.
    发明公开
    전자부품 분류장치 审中-实审
    用于分配电子部件的装置

    公开(公告)号:KR1020140043515A

    公开(公告)日:2014-04-10

    申请号:KR1020120104426

    申请日:2012-09-20

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: The present invention relates to an electronic component classifying apparatus. The electronic component classifying apparatus according to an embodiment of the present invention reduces the collision frequency of the electronic component passing through a tube to the inner wall of the tube and decreases the collision quantity of the electronic component when the electronic component collides against the inner wall of the tube. The electronic component classifying apparatus according to the present invention includes the tube, a distribution member, a plurality of receiving containers, a distribution member moving unit, and a negative pressure forming unit.

    Abstract translation: 本发明涉及一种电子元件分选装置。 根据本发明的实施例的电子部件分选装置将通过管的电子部件的碰撞频率降低到管的内壁,并且当电子部件与内壁碰撞时减小电子部件的碰撞量 的管。 根据本发明的电子部件分选装置包括管,分配构件,多个容纳容器,分配构件移动单元和负压形成单元。

    레이저를 이용한 대상물 가공 방법, 대상물 가공 장치, 및 대상물 가공 시스템
    37.
    发明授权
    레이저를 이용한 대상물 가공 방법, 대상물 가공 장치, 및 대상물 가공 시스템 有权
    使用激光加工工件的方法,装置和系统

    公开(公告)号:KR100984726B1

    公开(公告)日:2010-10-01

    申请号:KR1020100039729

    申请日:2010-04-28

    Abstract: PURPOSE: An objects processing method using laser, an object processing device and an object processing system are provided to efficiently cut a target object by removing a optical density profile from the inside of a substrate. CONSTITUTION: An objects processing method using laser comprises next steps. A laser light source(300) produces a laser beam. A divergence angle of the laser beam is corrected. The corrected laser beam is condensed inside objects(200) to form a spot. A phase transformation domain is formed inside the objects with the spot. The one-axis direction of the spot is changed with the divergence angle correction of the laser beam.

    Abstract translation: 目的:提供使用激光的物体处理方法,物体处理装置和物体处理系统,以通过从基板的内部去除光密度分布来有效地切割目标物体。 构成:使用激光的物体处理方法包括以下步骤。 激光源(300)产生激光束。 校正激光束的发散角。 校正的激光束在物体(200)内被冷凝以形成点。 在具有斑点的物体内形成相变域。 斑点的单轴方向随着激光束的发散角校正而改变。

    전자소자 분류장치
    38.
    发明公开
    전자소자 분류장치 审中-实审
    用于分配电子设备的装置

    公开(公告)号:KR1020170018607A

    公开(公告)日:2017-02-20

    申请号:KR1020150112446

    申请日:2015-08-10

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 본발명은전자소자분류장치를제안한다. 본발명의일 실시예에따른전자소자분류장치는복수의전자소자가안착되는웨이퍼테이블; 상기웨이퍼테이블로부터픽업된전자소자가플레이싱되고, 상기웨이퍼테이블과수직인상태로배치되는소팅테이블; 및상기웨이퍼테이블로부터전자소자를픽업하고, 상기픽업된전자소자를상기소팅테이블로이송하고플레이싱하는픽업장치를포함하되, 상기픽업장치는상기전자소자를픽업또는플레이싱하는스윙암; 상기스윙암을상기웨이퍼테이블로부터전자소자를픽업하는픽업위치및 상기픽업된전자소자를상기소팅테이블의적재위치사이에서회전시키는회전구동원; 상기웨이퍼테이블과회전구동원사이에위치하고, 상기스윙암을상기웨이퍼테이블방향으로이동시키는제1 선형구동부; 및상기소팅테이블과회전구동원사이에위치하고, 상기스윙암을상기소팅테이블방향으로이동시키는제2 선형구동부를포함한다.

    발광소자의 검사방법 및 검사장치
    39.
    发明公开
    발광소자의 검사방법 및 검사장치 审中-实审
    用于测试发光装置的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020140138384A

    公开(公告)日:2014-12-04

    申请号:KR1020130058108

    申请日:2013-05-23

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 발광소자의 검사방법 및 검사장치가 개시되며, 상기 발광소자의 검사방법은, 상기 발광소자에 제1 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제1 전기 특성 및 광 특성을 측정하는 단계; 및 상기 발광소자에 제2 신호를 인가하여 상기 발광소자의 제2 전기 특성을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

    Abstract translation: 公开了一种用于测试发光器件的方法和装置。 用于测试发光器件的方法包括以下步骤:通过向发光器件施加第一信号来测量发光器件的第一电特性和光学特性; 以及通过向所述发光器件施加第二信号来测量所述发光器件的第二电特性。

    전자부품 검사 및 분류장치
    40.
    发明公开
    전자부품 검사 및 분류장치 审中-实审
    用于测试和分类电子组件的装置

    公开(公告)号:KR1020140135869A

    公开(公告)日:2014-11-27

    申请号:KR1020130055621

    申请日:2013-05-16

    Applicant: (주)큐엠씨

    Abstract: 본 발명은, 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛, 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛, 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 특성별로 분류하는 분류유닛으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치를 제공한다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种用于检查和分类电子部件的装置。 该装置包括:输送单元,其包括转盘,该转盘安装成围绕轴旋转以从供应单元承载电子部件; 检查单元,其沿着传送路径检查由所述输送单元承载的电子部件的属性; 以及分类单元,根据属性对由检查单元检查的电子部件进行分类。

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