화합물 반도체 웨이퍼의 장착(mounting) 방법
    33.
    发明授权
    화합물 반도체 웨이퍼의 장착(mounting) 방법 失效
    SEMICONDUCTER WAFER的安装方法

    公开(公告)号:KR1019960012638B1

    公开(公告)日:1996-09-23

    申请号:KR1019930005958

    申请日:1993-04-09

    Abstract: A semiconductor wafer(1) is equipped on a mounting glass substrate(4) by using bonding wax(3). After a certain processes, the semiconductor wafer is separated from the glass substrate(4). The method includes the steps of: forming auxiliary layer(5) by spreading photoresist film on the mounting glass substrate(4); uniting the semiconductor wafer(1) and the mounting glass substrate(4) by the bonding wax(3).

    Abstract translation: 通过使用粘结蜡(3)将半导体晶片(1)装配在安装玻璃基板(4)上。 在一定的处理之后,半导体晶片与玻璃基板(4)分离。 该方法包括以下步骤:通过在安装玻璃基板(4)上铺展光致抗蚀剂膜形成辅助层(5); 通过粘结蜡(3)将半导体晶片(1)和安装玻璃基板(4)结合在一起。

    GaAs 화합물 반도체 소자의 게이트 형성방법
    35.
    发明公开
    GaAs 화합물 반도체 소자의 게이트 형성방법 失效
    GaAs化合物半导体器件的栅极形成方法

    公开(公告)号:KR1019960026434A

    公开(公告)日:1996-07-22

    申请号:KR1019940036015

    申请日:1994-12-22

    Abstract: 본 발명은 금속-반도체 전계효과 트랜지스터(MESFET), 고전자 이동도 트랜지스터(HEMT), 또는 이종접합 바이폴라트랜지스터(HBT) 등과 같은 갈륨비소 화합물반도체 소자의 제조방법에 관한 것으로서, 특히 게이트의 구성방법을 개선하여 소자의수명 및 열적안정성을 향상시킬 수 있는 다중게이트 형성방법에 관한 것이다.
    본 발명에 의해 제작된 다층구조의 게이트는 계면접착층(Ti)/확산장벽층(Pt)/전기전도층(Au)으로 구성된 게이트에 있어서, 확산장벽층의 구성물질과 두께를 최적화하여 금 원자의 내부확산으로 인한 채널층의 퇴화를 방지한다.

    전력전계효과 트랜지스터의 제조방법
    36.
    发明授权
    전력전계효과 트랜지스터의 제조방법 失效
    制造功率场效应晶体管的方法

    公开(公告)号:KR1019960002090B1

    公开(公告)日:1996-02-10

    申请号:KR1019930005959

    申请日:1993-04-09

    Abstract: The power FET is manufactured by (a) covering a dual tone photoresist (7) on the substrate(1), and light-exposing the covered photoresist by the use of a mask, (b) developing the photoresist to form a positive profile, (c) etching a wafer by the positive profile, (d) covering a dual tone photoresist(7a) on the wafer, light-exposing the covered wafer, and heat treating it to form a negative profile(7a'), and (e) depositing an anticorrosive metal on the wafer by the use of the profile(7a') to form a metal film pattern. The power FET is used for the amplification of an output signal in the microwave unit.

    Abstract translation: 功率FET通过(a)覆盖基板(1)上的双色光致抗蚀剂(7)并通过使用掩模曝光所覆盖的光致抗蚀剂来制造,(b)显影光致抗蚀剂以形成正型, (c)通过正轮廓蚀刻晶片,(d)覆盖晶片上的双色光致抗蚀剂(7a),对被覆盖的晶片进行曝光,并对其进行热处理以形成负廓线(7a'),并且(e )通过使用轮廓(7a')在晶片上沉积防锈金属以形成金属膜图案。 功率FET用于放大微波单元中的输出信号。

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