Abstract:
The present invention relates to a GaN (gallium nitride)-based compound power semiconductor device and a manufacturing method thereof. The gallium nitride-based compound power semiconductor device comprises a gallium nitride-based compound element growing on a wafer; a contact pad including a source, a drain and a gate on the gallium nitride-based compound element; a module substrate to which the gallium nitride-based compound element is bonded with a flip chip; a bonding pad formed on the module substrate; and a bump formed on the bonding pad of the module substrate to bond the contact pad and the bonding pad with the flip chip. According to the present invention, processing costs are low by forming the bump on the substrate with a front process (wafer level). According to the present invention, heat generated in an AlGaN HEMT element is quickly discharged becuase a subsource contact pad and subdrain contact pad of the substrate is formed on the substrate. According to the present invention, the heat generated in the AlGaN HEMT element is effectively discharged by forming a via hole on the substrate and filling the via hole with conductive metal.
Abstract:
본 발명은 전계 효과 트랜지스터의 제조 방법을 개시한다. 이 방법은 기판 상에 활성 층과 캡핑 층을 형성하고, 상기 캡핑 층 상에 소스 전극과 드레인 전극을 형성한다. 이후, 기판 상에 층간 절연막을 형성하고, 소스 전극과 드레인 전극 사이의 층간 절연막 상에서 비대칭적인 깊이의 제 1 개구부와 제 2 개구부를 갖는 레지스트 층들을 형성한다. 제 1 개구부는 층간 절연막을 노출시키고, 제 2 개구부는 상기 레지스트 층들 중 최하부 레지스트 층을 노출시킨다. 다음으로, 제 1 개구부 바닥의 층간 절연막과 제 2 개구부 바닥의 최하부 레지스트 층을 동시에 제거하여 상기 제 1 개구부 내에 캡핑 층을 노출시키고, 상기 제 2 개구부 내에 층간 절연막을 노출시킨다. 그리고, 제 1 개구부의 캡핑 층을 제거하여 활성 층을 노출 시킨 후, 기판 상에 금속 층을 증착하여 제 1 개구부와 제 2 개구부 내에 게이트 전극과 전계 전극을 동시에 형성할 수 있기 때문에 생산성을 향상시킬 수 있다. 마지막으로 레지스트 층들을 제거하여 상기 레지스트 층들 상의 금속 층을 리프트 오프 시킬 수 있다. 활성, 캡핑(capping), 개구부, 절연막, 리프트 오프(lift-off)
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing a transistor is provided to reduce resistance and parasitic capacitance by controlling the height of a Y-shaped gate electrode according to the thickness of a mold oxide layer with a trench and a depressed part. CONSTITUTION: A source electrode(11) and a drain electrode(12) are formed on a substrate(10). A mold oxide layer is formed on the substrate. A depressed part is formed on the upper side of the mold oxide layer between the source electrode and the drain electrode. A trench which exposes the substrate is formed by removing the mold oxide layer in the depressed part. A recess(26) is formed by removing the substrate exposed by the trench with a preset depth. A Y shaped gate electrode(30) is connected from the recess to the depressed part.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor device and a forming method thereof are provided to improve the low noise property by reducing the parasitic capacitance among the gate electrode, the source electrode, and the drain electrode. CONSTITUTION: An active layer is formed on the top of the substrate. The capping layer is formed on the active layer. A source and a drain electrode are formed on the capping layer. A gate electrode(140) is formed on the active layer. A first void region(155) is formed on the first side wall of the gate electrode. A second void region(156) is formed on the second side wall facing the first side wall.
Abstract:
본 발명은 밀리미터파 대역 스위치 회로에 관한 것으로서, 신호 포트 경로 상에 배치되어 관심 주파수에 정합되고, 입출력 전송선로와 수직으로 연결되는 트랜지스터 및 상기 입출력 전송선로의 상부 및 하부에 대칭적으로 배치되는 다수의 접지 비아홀을 포함하는 제1, 제2 스위치 셀; 상기 제1, 제2 스위치 셀의 바이어스 안정화를 위한 제1, 제2 캐패시터; 상기 제1, 제2 캐패시터와 각각 병렬 연결되어 상기 제1, 제2 스위치 셀을 제어하기 위한 제1, 제2 바이어스 패드; 및 특정 임피던스 값을 가지며, 터미널 포트를 경유하여 공통포트와 상기 제1 스위치 셀 또는 상기 공통포트와 상기 제2 스위치 셀을 연결하는 터미널 전송회로를 포함하며, 이에 따라 별도의 다른 스위치 소자를 사용하지 않고도 최적화 스위치 셀의 대칭 구조에 의해 회로 설계 및 레이아웃(layout)을 간단하게 함으로써, 격리도를 향상시킬 수 있으며, 저삽입손실과 함께 집적회로의 칩 사이즈를 줄일 수 있으므로 제조 공정의 수율과 집적도의 향상을 통해 제조비용을 감소시킬 수 있다. 밀리미터파 대역, 스위치 회로, 스위치 셀, 트랜지스터, 전송선로, 공통 포트, 비아홀, 컨트롤 바이어스 패드, 캐패시터.
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing a pseudomorphic high electron mobility transistor device is provided to satisfy wideband characteristics and unconditionally stable conditions by including a negative feedback circuit. CONSTITUTION: In a method for manufacturing a pseudomorphic high electron mobility transistor device, an epitaxial substrate is provided(101). A source and a drain are formed on a substrate. The epitaxial substrate is processed by a gate recess etching including a dry and wet method to form a recess region. The gate(180) is formed in the recess region.