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    52.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10111824A1

    公开(公告)日：2002-09-26

    申请号：DE10111824

    申请日：2001-03-13

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER ,  ENGELHARDT JOHANN

    IPC: G02B26/08 ,  G02B7/00 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/24

    Abstract: Method in which an alignment checking arrangement (70) is coupled to the beam path of a microscope so that a coupled light beam is produced in it. The coupled light beam is deflected towards at least two photo-detectors which are arranged at a distance to each other, the deviation of the beam from its design position is determined from the detector signals and an optical component of the microscope adjusted accordingly. An Independent claim is made for a microscope with an optically adjustable element in its beam path that can be used with a beam path deviation determined using an alignment checking arrangement to set the microscope beam alignment.

    Mikroskop
    54.
    发明专利
    Mikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102007024074B4

    公开(公告)日：2022-09-15

    申请号：DE102007024074

    申请日：2007-05-22

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER ,  SEYFRIED VOLKER

    IPC: G02B21/00 ,  G01J1/44 ,  H01L31/107

    Abstract: Mikroskop (142), umfassend eine Lichtquelle (144) zur Beleuchtung einer Probe (158), weiterhin umfassend eine Scaneinrichtung (160) zum Abtasten der Probe (158) mit einem von der Lichtquelle (144) ausgehendem Lichtstrahl (146), weiterhin umfassend einen Lichtdetektor (110), wobei der Lichtdetektor (110) derart in dem Mikroskop (142) angeordnet ist, dass dieser von der Probe (158) emittiertes und/oder transmittiertes und/oder reflektiertes Licht (164) detektiert, wobei der Lichtdetektor (110) mindestens ein erstes Zeilenarray (112) und mindestens ein zweites Zeilenarray (112) von Avalanche-Halbleiterdetektoren (114) umfasst, wobei der Lichtdetektor (110) eine elektronische Ansteuerschaltung (116) aufweist, welche ausgestaltet ist, um die Avalanche-Halbleiterdetektoren (114) in einem Geiger-Modus mit interner Ladungsverstärkung und/oder in einem linearen Modus zu betreiben, wobei die Ansteuerschaltung (116) weiterhin einen Parallelzähler (118) aufweist, wobei der Parallelzähler (118) ausgestaltet ist, um durch die Avalanche-Halbleiterdetektoren (114) detektierte Lichtpulse parallel auszulesen und wobei der Parallelzähler (118) eingerichtet ist, um während einer vorgegebenen Zählzeit die von jedem Avalanche-Halbleiterdetektor (114) detektierten Lichtpulse zu summieren, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Zeilenarray (112) und das zweite Zeilenarray (112) jeweils derart ausgestaltet sind, dass das jeweilige Zeilenarray (112) Bildpunkte einer gesamten Zeile der Probe aufnimmt, dass jeweils mindestens ein erster Avalanche-Halbleiterdetektor (114) des ersten Zeilenarrays (112) und ein zweiter Avalanche-Halbleiterdetektor (114) des zweiten Zeilenarrays (112) einander zugeordnet und einem gemeinsamen Bildpunkt einer Zeile der Probe zugeordnet sind, und dass die Ansteuerschaltung (116) eingerichtet ist, um anhand der durch den ersten Avalanche-Halbleiterdetektor (114) und durch den zweiten Avalanche-Halbleiterdetektor (114) detektierten Lichtpulse ein Lichtsignal für den gemeinsamen Bildpunkt zu erfassen.

    Verfahren zum Zählen von Photonen mittels eines Photomultipliers
    55.
    发明专利
    Verfahren zum Zählen von Photonen mittels eines Photomultipliers 未知

    公开(公告)号：DE102017119663A1

    公开(公告)日：2019-02-28

    申请号：DE102017119663

    申请日：2017-08-28

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER ,  WIDZGOWSKI BERND

    IPC: G01J1/42 ,  G01T1/24

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Recheneinheit bzw. ein Mikroskopsystem (500) zum Zählen von Photonen mittels eines Photomultipliers (511), wobei ein Messsignal, welches aus einem von dem Photomultiplier (511) erzeugten Rohsignal gewonnen wird, über die Zeit integriert wird, um ein analoges integriertes Messsignal zu bilden, wobei die Anzahl der in den Photomultiplier (511) eingefallenen Photonen ermittelt wird, indem ein Wert des analogen integrierten Messsignals mit einem Integralproportionalitätswert verglichen wird, der einer bestimmten Anzahl von in den Photomultiplier eingefallenen Photonen entspricht.

    Optische Anordnung für ein Konfokalmikroskop, Konfokalmikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Konfokalmikroskops
    56.
    发明专利
    Optische Anordnung für ein Konfokalmikroskop, Konfokalmikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Konfokalmikroskops 未知

    公开(公告)号：DE102017109554A1

    公开(公告)日：2018-11-08

    申请号：DE102017109554

    申请日：2017-05-04

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER

    IPC: G02B21/00 ,  G02B3/14 ,  G02B21/24 ,  G02B27/40

    Abstract: Die Anmeldung zeigt eine optische Anordnung (1) für ein Konfokalmikroskop (100), umfassend eine Lochblende (3) mit einem Loch (30) und eine Linsenanordnung (11) mit mindestens einer auf das Loch (30) der Lochblende (3) fokussierbaren Linse (2), dadurch gekennzeichnet, dass die Linse (2, 20) fokusvariabel ist. Ferner ist ein Konfokalmikroskop (100) mit einer solchen optischen Anordnung (1) gezeigt. Gemäß einem erfindungsgemäßen Verfahren zum Betreiben eines Konfokalmikroskops (100) mit einer Lochblende (3) mit einem Loch (30) wird ein Lichtstrahl (4) mittels einer fokusvariablen Linse (2, 20) auf das Loch (30) der Lochblende (3) fokussiert.

    Detektorvorrichtung
    57.
    发明专利
    Detektorvorrichtung 未知

    公开(公告)号：DE102012101675A1

    公开(公告)日：2013-02-21

    申请号：DE102012101675

    申请日：2012-02-29

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SCHREIBER FRANK ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER

    IPC: G01J1/02 ,  H01L31/024

    Abstract: Die Erfindung betrißfft eine Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Lichtsensor, der eine Lichteinfallsseite aufweist, und mit einem Kühlbauteil. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass das Kühlbauteil auf der Lichteinfallseite des Lichtsensors in unmittelbarem Kontakt zu dem Lichtsensor und/oder zu einem den Lichtsensor tragenden Substrat steht.

    Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht
    58.
    发明专利
    Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht 未知

    公开(公告)号：DE102011107645A1

    公开(公告)日：2013-01-17

    申请号：DE102011107645

    申请日：2011-07-12

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  BIRK HOLGER

    IPC: G02B21/00 ,  G01J1/42 ,  H01L27/146

    Abstract: Eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht, insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop, einem Spektrometer oder einer Kamera umfasst mindestens einen Silicon Photomultiplier (SiPM), der aus einer Anordnung (Array) mehrerer Single Photon Avalanche Dioden (SPAD) besteht, wobei das Array eine größere Fläche als das auftreffende Licht aufweist und wobei nur diejenigen SPADs aktiviert und/oder ausgewertet werden, die mit einer bestimmten Mindestintensität von Licht beaufschlagt werden. Ein Verfahren nutzt diese Vorrichtung.

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