公开(公告)号：CN105828002A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610143155.X

申请日：2016-01-04

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 爱须克彦 ,  渡边博文 ,  根来宝昭 ,  上田佳德 ,  中谷宁一 ,  米田和洋 ,  樱野胜之

IPC: H04N5/374 ,  H04N5/3745

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/4473 ,  H04N5/361 ,  H04N5/3655 ,  H04N5/378 ,  H04N5/374 ,  H04N5/37455 ,  H04N5/37457

Abstract: 一种光电转换装置，包含：包含光电晶体管的像素单元、包含参考晶体管的参考单元、模拟数字转换器、校正量计算单元和校正单元，参考晶体管具有与光电晶体管的温度特性相同的温度特性并具有固定电气状态，模拟数字转换器将像素单元的模拟输出转换为数字输出，校正量计算单元基于参考单元的输出和参考值来计算模拟数字转换器的数字输出的校正量，校正单元基于校正量校正模拟数字转换器的数字输出。

公开(公告)号：CN105765405A

公开(公告)日：2016-07-13

申请号：CN201480064598.9

申请日：2014-11-07

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： R·斯特德曼布克 ,  C·赫尔曼

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G01T1/17

Abstract: 本发明涉及一种用于探测由辐射源(2)发射的光子并且能够调整弹道亏损的探测设备(6)。所述探测设备(6)包括前置放大单元(11)(诸如，例如，电荷敏感放大器)、包括反馈放电单元(13、I)(诸如，例如反馈电阻器或反馈电流源)的整形单元(60)，以及被耦合到所述反馈放电单元(13、I)的反馈放电控制单元(50)。反馈放电控制单元(50)适于，例如，如果由整形单元(60)生成的电脉冲不超过至少一个能量比较值(X1、X2、…、XN)，则调整反馈电阻器的电阻(和/或调整所述反馈电流源的电流值)。所述反馈放电控制单元(50)适于如果电脉冲超过至少一个能量比较值(X1、X2、…、XN)，则不调整反馈放电单元(13、I)的参数。通过调谐反馈电阻器操作点(或反馈电流源操作点)，弹道亏损能够被调整到预定义期望值。

公开(公告)号：CN104838262B

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201380064345.7

申请日：2013-11-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 横井祐介

IPC: G01N30/86 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/086 ,  G01J2001/444 ,  G01N30/8641

Abstract: 本发明提供能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。每当测定强度以规定周期被输入时，就基于当时的测定强度以及测定时间中的至少一方更新多个总和用缓存(321～324)的数据。各总和用缓存(321～324)被分配给构成用于使用最小二乘法来计算漂移的计算式所包含的系数的多个总和函数。通过将被更新后的多个总和用缓存(321～324)的数据代入到上述计算式中计算出漂移。由此，由于不需要对以规定周期输入的测定强度全部进行存储，因此能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移。

公开(公告)号：CN104344888A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201410351826.2

申请日：2014-07-23

Applicant: 三美电机株式会社 ,  亿光电子工业股份有限公司

Inventor： 川崎祐也 ,  M·奥贝拉谢尔

IPC: G01J1/44

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J1/0492 ,  G01J1/32 ,  G01J1/44 ,  G01J3/36 ,  G01J2001/444

Abstract: 一种光传感器用半导体集成电路，介由使可视光衰减并使红外光透过的盖部和集光透镜，接受环境光，并根据受光量进行视觉灵敏度补正，以对所述环境光的照度进行检测，所述光传感器用半导体集成电路包括：第1受光元件，包括第1分光特性；第2受光元件，包括第2分光特性；及视觉灵敏度补正单元，根据所述第1受光元件和所述第2受光元件的输出进行视觉灵敏度补正。所述视觉灵敏度补正单元包括：AD变换部，对所述第1受光元件的输出和所述第2受光元件的输出以时分方式进行AD变换；及运算部，对所述AD变换部所变换的各数字信号进行减法运算。

公开(公告)号：CN104266754A

公开(公告)日：2015-01-07

申请号：CN201410513600.8

申请日：2014-09-29

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司

Inventor： 何健 ,  许神贤 ,  包玉刚

IPC: G01J1/44 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种测量光学参数的调整电路、方法及光学测量系统，其中所述调整电路包括：光感测模块，用于检测光信号，并将检测到的所述光信号转换为电压信号；放大模块，用于放大所述电压信号；A/D转换模块，用于将放大后的所述电压信号转换为数字信号；控制模块，用于分析所述数字信号，以生成分析结果；信号产生模块，用于根据分析结果，输出相应的频率方波信号；调节模块，用于根据所述频率方波信号调整所述放大模块的放大倍数。本发明可以实现光学测量系统量程或放大倍数的连续变化，提高了测量精度，相对于现有技术来说，本发明的电路更为简单，从而节约了成本；且本发明还能实现自动化测量。

公开(公告)号：CN104247271A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201380019102.1

申请日：2013-03-28

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤秀树 ,  井上高广

IPC: H03M1/52 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G02F1/133 ,  G09G3/20 ,  G09G3/34 ,  G09G3/36 ,  H03M1/06

CPC classification number: H03M1/06 ,  G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J3/513 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/446 ,  G02F1/13318 ,  G02F1/1336 ,  G09G3/3406 ,  G09G2320/0626 ,  G09G2360/145 ,  H03M1/0634 ,  H03M1/12 ,  H03M1/123

Abstract: 包括：模数转换电路(ADC1、ADC2)；输出作为基准电荷量使用的基准电流Iref1、Iref2的基准电流源(11)；切换来自基准电流源(11)的基准电流Iref1的开关(SW21)；切换来自基准电流源(11)的基准电流Iref2的开关(SW22)；和控制开关(SW21、SW22)的开关控制电路(12)。通过利用开关控制电路(12)控制开关(SW21、SW22)，按每模数转换期间的1/2的时间改换各模数转换电路(ADC1、ADC2)中使用的基准电流Iref1、Iref2。由此提供能够降低多个模数转换电路间的误差的模数转换装置。

公开(公告)号：CN103959363A

公开(公告)日：2014-07-30

申请号：CN201280059286.X

申请日：2012-12-05

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 前田和宏 ,  杉山裕昭 ,  中川阳介 ,  衫田靖博

IPC: G09G3/20 ,  G02F1/133 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1335 ,  G09G3/34 ,  G09G3/36

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/446 ,  G02F2001/13312 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/0418 ,  G06F3/042 ,  G09G3/3406 ,  G09G2310/0237 ,  G09G2360/145 ,  H01L31/105

Abstract: 本发明的一个实施方式所涉及的光传感器电路(11)的动作方法中，在使用PIN二极管(4)进行入射光的检测之前进行主复位，并且，在主复位与下一次主复位之间，进行辅助复位，从而将PIN二极管(4)的阴极端子的电位抑制在不会引起载流子存储至PIN二极管(4)的本征区域中的规定范围内。

公开(公告)号：CN103459994A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201280015262.4

申请日：2012-03-09

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 藁科祯久 ,  铃木顺

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/44

CPC classification number: H04N5/33 ,  G01J1/44 ,  G01J5/00 ,  G01J5/10 ,  G01J5/22 ,  G01J5/24 ,  G01J2001/444 ,  G01J2005/0048 ,  G01J2005/0077 ,  G01J2005/066 ,  G01J2005/202 ,  H04N5/217 ,  H04N5/357

Abstract: 一种检测红外线的红外线图像传感器，具备具有排列了多个像素的像素区域以及至少一个参考像素的受光部（12）、取得作为包含于像素区域的一个像素的信号与参考像素的信号的差分信号的第1差分信号以及作为包含于像素区域的多个像素中的规定的两个像素的信号的差分信号的第2差分信号的差分电路、以及基于第1差分信号和第2差分信号算出像素的信号的像素信号算出部而构成。

公开(公告)号：CN103344329A

公开(公告)日：2013-10-09

申请号：CN201310321501.5

申请日：2013-07-26

Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司

Inventor： 潘建根

IPC: G01J1/42 ,  G01J3/28 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/0233 ,  G01J1/42 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36 ,  G01J2001/444

Abstract: 本发明公开了一种手持式光辐射度计及其校正方法，集光度测量模块、光谱测量模块和触摸显示屏于一体，并利用光谱测量模块的光谱测量信息校正光度测量模块的光谱失匹配误差，在简单配置下即可实现大跨度动态范围内的高精度光色度测量，具有测量功能齐全、测量准确度高、操作方便、成本低等特点。

公开(公告)号：CN103196554A

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN201310081790.6

申请日：2013-03-14

Applicant: 合肥京东方光电科技有限公司 ,  京东方科技集团股份有限公司

Inventor： 井杨坤

IPC: G01J1/58

CPC classification number: G01J1/429 ,  G01J1/16 ,  G01J1/32 ,  G01J1/44 ,  G01J1/50 ,  G01J3/50 ,  G01J2001/444

Abstract: 本发明公开了一种光源光强均一性测调系统及方法，该系统包括光强测试板；光源和图像采集模块，向测试板照射光、采集其上的色差变化图像；微处理器，与图像采集模块连接，通过控制模块与光源连接，微处理器将色差变化图像与其内部存储的比色标准进行比较，获得测试板上整个面的光强分布，判断光源所发出的光强均一性是否良好，并通过控制模块对光源的光强进行调整。本发明借助于光强测试板，能够一次测定整个照射面的光强，获得一个随时间变化的光强面的图像，对整个光强的均匀程度也可以精确的显示出来，可用于封框胶固化、镀膜、刻蚀等设备的光强均一度调试，省时省力，数据精确。