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公开(公告)号：CN101228448A
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200580051125.6
申请日：2005-07-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
Abstract: 提供一种推进机，是在半导体测试装置20中，向测试用插口500推压被测试半导体装置300的推进机200，包括同热源400热耦合的主体部210、分别对主体部210物理地且热耦合，通过来自主体部210的推压力，一边向测试用插口500位移，一边与被测试半导体装置300的被推压面接触，分别推压被测试半导体装置300，并且将来自于热源400的热分别传导给被测试半导体装置300的多个装置推压部220。推进机及被测试半导体装置之间的导热率提高，并且提供了正确、迅速的半导体测试。
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公开(公告)号：CN101147073A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200680008945.1
申请日：2006-04-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 岩本敏
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31901
Abstract: 一种测试装置，使定出可在各测试模组的诊断中使用的诊断用性能板的设定信息，在少于以前的作业负担下变更。本发明的测试装置于诊断对象的每种测试模组中，记忆对该种类诊断对象测试模组的诊断进行控制的对象诊断程序，且将为了利用各对象诊断程序对诊断对象测试模组进行诊断而应搭载于上述测试头上的诊断用性能板的识别信息组，存储于每种诊断对象测试模组中。将诊断用性能板搭载于测试头上时，获取该诊断用性能板的识别信息，并以该识别信息与附上对应于所指定的诊断对象测试模组种类而记忆的识别信息相一致为条件，执行对应于该种类的对象诊断程序。
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公开(公告)号：CN101133333A
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200680006760.7
申请日：2006-03-02
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 小岛昭二
IPC: G01R19/165
CPC classification number: G01R31/31924
Abstract: 本发明是关于一种电位比较器，包括：输入配线3、4，用于输入从检查物件2所输出的差动信号；高阈值侧分压生成部5，从输入配线3、4分别取入差动信号，且生成输出根据设定的高阈值电位VOH及取入的差动信号的电位的分压，即第1分压及第2分压；高阈值侧电位比较器6，用于导出从高阈值侧分压生成部5所输出的第1分压、第2分压间的大小关系。高阈值侧分压生成部5包括第1分压生成部16及第2分压生成部17，分别生成第1分压与第2分压。其中，高阈值侧分压生成部5所生成的第1分压与第2分压的值使高阈值侧电位比较器6的第1分压、第2分压间的大小关系，对应于正信号·负信号间的电位差和高阈值电位间的大小关系。
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公开(公告)号：CN101038326A
公开(公告)日：2007-09-19
申请号：CN200710079962.0
申请日：2007-02-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3181 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31919 , G01R31/31922
Abstract: 本发明能够以良好的效率进行事件库的测试。本发明提供一种测试系统，用来对被测试装置进行测试，此测试系统具备：测试装置，利用事件库对被测试装置进行测试；以及附加装置，当装置输出信号变化的间隔小于测试装置可处理的间隔时，附加在被测试装置与测试装置之间；并且，附加装置具备：信号输入部，输入被测试装置对应于装置输入信号而输出的装置输出信号；变化检测部，检测所输入的装置输出信号是否有变化；变化定时检测部，检测装置输出信号的变化定时；存储部，对应于装置输出信号变化的情况，将装置输出信号的变化定时及变化后的信号值作为输出事件依次进行存储；以及读出部，从存储部中依次读出输出事件，并输入到测试装置。
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公开(公告)号：CN101027741A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200580029357.1
申请日：2005-08-31
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: B81B3/0072 , B81B2201/032 , B81B2203/0118 , G02B26/0866 , H01H61/02 , H01H2061/006
Abstract: 一种双压电晶片元件，具备：氧化硅层；高膨胀率层，其形成在氧化硅层上且具有较此氧化硅层的热膨胀率还高的热膨胀率；以及变形防止层，其覆盖氧化硅层的表面，以防止氧化硅层由于经常变化所形成的变形。变形防止层变形防止层相对于水份和氧的透过率亦可较氧化硅层还低，变形防止层亦可以是一种以较形成氧化硅层时还高的能量来进行成膜时所形成的氧化硅，变形防止层亦可为氮化硅层或金属层。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1965611A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200580018264.9
申请日：2005-06-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/2877 , G01R31/286 , G01S19/02
Abstract: 一种加热器功率控制电路，通过对由直流电源提供的电压信号实施开关处理，对施加至加热器的电压实施控制以实施加热器功率控制，其中在对由前述直流电源提供的电压实施开关处理的开关电路和前述加热器之间，设置有对前述电压实施开关处理后的电压信号实施平滑处理，将其变换为模拟信号的电压平滑电路。
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公开(公告)号：CN1961483A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200480043214.1
申请日：2004-10-14
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03M1/1033 , H03M1/1215
Abstract: 本发明是有关于一种类比数位转换方法，其可得到伪成份已去除的频谱。本方法具备以下各步骤：测定步骤，其预先测定个别的类比数位转换器的频率特性；取样步骤，其对类比信号进行取样；傅立叶(Fourier)转换步骤，其对已由多个类比数位转换器取样后的资料分别进行傅立叶转换，以产生多个频域信号；补正步骤，其依据全部的类比数位转换器的频率特性而使补正系数乘至个别的频域信号，以转换成所对应的类比数位转换器的频率特性在理想情况下所得到的频域信号；以及合成步骤，其对该补正步骤中所得到的个别的频域信号进行合成，以产生数位信号的频谱。
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公开(公告)号：CN1890573A
公开(公告)日：2007-01-03
申请号：CN200480036800.3
申请日：2004-12-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 松本直木
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31713
Abstract: 本发明的缓冲电路具备：输出电路，其使输出阻抗维持一定，且输出一种输出电压大约与输入信号的输入电压相同的输出信号；第1电晶体和第2电晶体，其以直列方式分别连接至该输出电路的二端，通过使与输入电压或输出电压的大小相对应的供给电压分别施加至该输出电路的二端，使输出电路中的消耗电力减低以保护该输出电路；第1基极电压控制单元，其供给基极电压至第1电晶体以控制第1电晶体；以及第2基极电压控制单元，其供给基极电压至第2电晶体以控制第2电晶体。
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公开(公告)号：CN1883153A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034306.3
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805 , H04L1/205 , H04L1/24 , H04L7/0008 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
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公开(公告)号：CN1875283A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200480031777.9
申请日：2004-11-26
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 一种测试装置，包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括：操作顺序保持件，用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息；触发返回信号接收件，用于当第一测试模块之测试操作已完成，接收从第一测试模块来之触发返回信号，触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号，提供触发信号至第二测试模块，触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。
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