Abstract:
공정을 단순화시키고, 게이트 상부절연막의 손실을 억제하여 비트라인과 게이트와의 단선을 억제하고, 게이트 구조형성 후 적층되는 층간절연막의 보이드 발생을 억제할 수 있는 반도체 소자의 콘택패드 형성방법에 관해 개시한다. 이를 위해 본 발명은, 반도체 기판에 게이트 상부절연막을 포함하는 게이트 구조와, 정지층(stopping layer) 및 층간절연막을 형성하고 수행하는 화학기계적 연마공정에서, 게이트 상부절연막과 층간절연막과의 연마선택비가 높은 슬러리를 이용하여 상기 적어도 게이트 상부절연막이 노출되도록 상기 층간절연막을 평탄화하고, 상기 층간절연막에 콘택패드가 형성될 영역을 식각 후, 콘택패드용 도전물질을 증착하고 수행하는 화학기계적 연마공정에서 게이트 상부절연막과 상기 콘택패드용 도전물질과의 연마선택비가 높은 슬러리를 이용하여 평탄화를 진행한다.
Abstract:
금속막에 대한 CMP 공정에 사용하기 위한 슬러리 및 그 제조 방법과, 상기 슬러리를 이용한 반도체 소자의 제조 방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 따른 슬러리는 연마제와, 복수의 산화제와, 카르복실기를 함유하는 유기산으로 이루어지는 안정화제와, 금속의 부식을 억제하기 위한 부식 억제제와, 금속막과 배리어막과의 제거 속도 차이를 줄이기 위한 불소 화합물과, 순수로 이루어진다. 상기 복수의 산화제는 환원된 다른 산화제의 산화력을 복원시키기 위한 제1 산화제와, 금속을 산화시키기 위한 제2 산화제를 포함한다.
Abstract:
실리사이드막을 구비한 콘택 구조 및 게이트 구조 등의 반도체소자의 제조방법이 기재되어 있다. 실리콘기판상에 형성된 절연막을 식각하여 실리콘기판의 일부를 노출시키는 콘택홀을 형성한 후, 플라즈마 상태의 수소가스 및 불소계가스를 공급하여 실리콘기판의 노출된 표면을 세정한다. 이어서,콘택홀 내의 실리콘기판 표면에 실리사이드막을 형성하고, 다시 플라즈마 상태의 수소가스 및 불소계가스를 공급하여 상기 실리사이드막의 표면을 세정한 후, 실리사이드막이 형성된 콘택홀내에 금속막을 충전한다. 상기 세정 단계는 플라즈마 상태의 수소가스 및 불소계가스를 공급하여 상기 실리콘기판의 노출된 표면에 형성된 산화막과 화학적으로 반응시켜 반응층을 형성하는 단계 및 상기 반응층을 기화시켜 제거할 수 있도록 어닐링하는 단계로 이루어진다. 게이트 구조의 경우에는 게이트 전극 물질상에 실리사이드막을 형성하기 전 및 후에 상기 세정공정을 동일한 원리에 의해 수행한다. 따라서, 본 발명에 따르면, 자연산화막의 하부 막질을 손상시키거나 오염시키기 않으면서도 효과적으로 세정이 이루어져 반도체소자의 신뢰성이 향상된다.
Abstract:
A method for monitoring client interaction with a resource downloaded from a server in a computer network includes the steps of using a client to specify an address of a resource located on a first server, downloading a file corresponding to the resource from the first server in response to specification of the address, using the client to specify an address of a first executable program located on a second server, the address of the first executable program being embedded in the file downloaded from the first server, the first executable program including a software timer for monitoring the amount of time the client spends interacting with and displaying the file downloaded from the first server, downloading the first executable program from the second server to run on the client so as to determine the amount of time the client interacts with the file downloaded from the first server, using a server to acquire client identifying indicia from the client, and uploading the amount of time determined by the first executable program to a third server. The first executable program may also monitor time, keyboard events, mouse events, and the like, in order to track choices and selections made by a user in the file, and may execute upon the occurrence of a predetermined event, as well as monitoring or determining the amount of information downloaded by the client. The monitored information and client identifying indicia is stored on a database in a server for use in analysis and for automatically serving out files assembled according to user interests and preferences.
Abstract:
PURPOSE: A membrane of a carrier head of a chemical mechanical polishing apparatus is provided to improve polishing uniformity of the entire surface of a wafer, by using the carrier head fixedly coupled to the membrane in a chemical mechanical polishing(CMP) process so that the difference of polishing pressure between a central portion and an edge portion of the wafer is decreased. CONSTITUTION: A wafer is mounted in a membrane(200) of a carrier head when the entire surface of the wafer is broadly planarized using a chemical mechanical polishing apparatus. An unevenness is formed in the edge portion of the membrane.
Abstract:
PURPOSE: A method is provided to precisely detect an end point in a chemical mechanical polishing(CMP) process, by an electrical chemical method which is proved to be a precise analysis. CONSTITUTION: Slurry solution used as a polishing agent in a chemical mechanical polishing(CMP) process is provided. A constant potential difference is applied to the slurry solution to deoxidize metal ions included in the slurry solution. A quantity of current flowing in the slurry solution is detected by the deoxidation. A variation of a content ratio of the metal ions included in the slurry solution is analysed to detect an end point by a variation of the quantity of current.
Abstract:
PURPOSE: A trench isolation method is provided to improve planarization of an isolating layer and overall planarization between the isolating layer and a semiconductor substrate, by etching an insulating material layer by a chemical mechanical polishing(CMP) process and a general wet or dry etching process. CONSTITUTION: After chemical mechanical polishing(CMP) blocking patterns(32) are formed on a semiconductor substrate(30), an anisotropical etching process is performed to form a trench(34a,34b) by using the CMP blocking patterns as a mask. An insulating material layer is applied as a shape for filling the trench while covering the CMP blocking patterns. The insulating material layer is firstly etched by a CMP process until the CMP blocking patterns starts to be exposed. The insulating material layer is secondly wet or dry etched until a predetermined thickness of the insulating material layer is left on the semiconductor substrate.
Abstract:
PURPOSE: A method for minimizing erosion of an insulating layer is provided to prevent a wiring from being cut and resistance from increasing, by cooling a polishing pad, and by minimizing erosion of an insulating layer generated in planarizing a metal layer. CONSTITUTION: Cool air is supplied to a pad to minimize a thermal transformation of the pad so that the pad is not transformed by heat generated in a planarization process. An insulating layer located in a lower portion of a metal layer is less eroded. The pad is a relatively hard pad and slurry as a polishing agent has a high selectivity.
Abstract:
본 발명은 산화막 CMP용 슬러리에 관한 것이다. 여기서, 본 발명은 화학 기계적 연마 공정에 있어서, 연마제, 탈이온수, 인산염 화합물, 계면활성제 및 PH 컨트롤러로 이루어져 있는 산화막 CMP용 슬러리를 제공한다. 본 발명에 의하면, 높은 산화막 제거속도 특성을 보임으로써 공정 생산성이 크게 향상되고, 슬러리의 pH 변화에 따라 산화막 제거속도가 큰 영향을 받지 않아 제작이 용이한 슬러리를 제공할 수 있다.