公开(公告)号：CN116560330A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202210114339.9

申请日：2022-01-30

Applicant: 北京华航无线电测量研究所

Inventor： 许华 ,  于云翔 ,  吴云辉 ,  李铭泽 ,  董诚辰 ,  张广月

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明涉及一种伺服控制系统模拟跟踪环测试方法，属于伺服系统技术领域，解决了现有的跟踪环测试对人员和产品数量需要高的问题。一种伺服系统模拟跟踪环测试方法，包括以下步骤：完成产品跟踪环路中角误差延迟时间、指令保持时间、角跟踪回路跟踪增益的实验获取和参数配置；完成模拟目标运动轨迹参数配置，并通过伺服控制器产生不同目标运动轨迹的指令信息TargetMoveCmd；完成模拟角误差信息计算并输出；将模拟角误差指令ek_out输入至伺服系统速度环路，完成模拟跟踪环测试功能。本发明能够在伺服分机状态下完成振动性能和高低温静态和动态指标的验证工作，可以降低对人员和产品数量的需求，节约了人力资本，并且减少了各分机软件版本的管理成本。

公开(公告)号：CN118295950A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202310011820.X

申请日：2023-01-05

Applicant: 北京华航无线电测量研究所

Inventor： 许华 ,  董诚辰 ,  李明泽 ,  王敬洋 ,  潘少鹏

IPC: G06F13/42

Abstract: 本发明涉及一种适用串行通信接口的通用协议解析方法，属于协议解析技术领域，解决了现有解析方式不能通用的问题。该方法包括：S1：根据待解析数据对应的串口协议，初始化结构体；S2：基于帧头计数器以及帧头参数解析待解析数据中的帧头，解析通过后，跳转到步骤S3；S3：根据有无有效数据长度位标识执行S4和S5的跳转；S4：基于len_cnt及有效数据长度参数解析待解析数据中的有效数据长度，解析通过后，将status置2，跳转到S5；S5：基于帧数据参数及counter解析待解析数据中的有效数据及校验位；S6：基于校验和函数执行校验位校验，当校验通过时，还基于解析函数对有效数据进行功能解析。

公开(公告)号：CN118301228A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202310015371.6

申请日：2023-01-05

Applicant: 北京华航无线电测量研究所

Inventor： 许华 ,  张艳辉 ,  吴云辉 ,  张广月 ,  杨亦非

IPC: H04L69/22 ,  H04L69/00 ,  H04L69/06

Abstract: 本发明公开了不含有效数据长度的串行通信接口的通用协议解析方法，涉及伺服系统软件技术领域，解决了现有技术中缺乏针对不含有效数据长度的串口协议的快速、通用解析方法的技术问题。该方法包括：根据待解析数据对应的串口协议，初始化串口接收帧通用数据包结构体；所述结构体包括状态机标识、全局参数、帧头参数、有效数据长度参数、帧数据参数和函数参数；基于全局参数和帧头参数，对待解析数据中的帧头进行解析及存储；将状态机标识status置1，基于全局参数和帧数据参数，对待解析数据中的有效数据及校验位进行解析及存储；基于函数参数对整帧解析通过后的帧数据进行校验位校验、有效数据功能解析。

公开(公告)号：CN118301227A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202310011598.3

申请日：2023-01-05

Applicant: 北京华航无线电测量研究所

Inventor： 许华 ,  白志强 ,  李华德 ,  樊立 ,  王佳佳 ,  许钧翔

IPC: H04L69/22 ,  H04L69/00 ,  H04L69/06

Abstract: 本发明提供了一种含有效数据长度的串行通信接口的通用协议解析方法，属于伺服系统软件技术领域，解决了现有技术中缺乏针对含有效数据长度的串口协议的快速、通用解析方法的技术问题。方法包括：根据待解析数据对应的串口协议，初始化串口接收帧通用数据包结构体；基于全局参数和帧头参数，对待解析数据中的帧头进行解析及存储；将状态机标识置1，基于全局参数和有效数据长度参数，对待解析数据中的有效数据长度进行解析及存储；将状态机标识status置2，更新帧数据参数，并基于全局参数和更新后的帧数据参数，对待解析数据中的有效数据及校验位进行解析及存储；基于函数参数对整帧解析通过后的帧数据进行校验位校验、有效数据功能解析。

公开(公告)号：CN116560216A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202210114341.6

申请日：2022-01-30

Applicant: 北京华航无线电测量研究所

Inventor： 许华 ,  李战行 ,  王凯 ,  王晓玢 ,  张艳辉 ,  王佳佳

IPC: G05B13/02

Abstract: 本发明涉及一种伺服控制系统模拟跟踪环测试装置，属于伺服系统技术领域，解决了现有的跟踪环测试对人员和产品数量需要高的问题。一种伺服系统模拟跟踪环测试装置，包括上位机和下位机，所述上位机通过伺服系统调试软件对下位机下发指令，所述下位机包括模拟跟踪环指令控制模块、目标运动曲线绘制模块和模拟跟踪环环路控制模块。本发明能够在伺服分机状态下完成振动性能和高低温静态和动态指标的验证工作，可以降低对人员和产品数量的需求，节约了人力资本，并且减少了各分机软件版本的管理成本。