Abstract:
본 발명은 레이저 마킹 장치에 관한 것으로, 마킹 목표 위치(x,y) 및 마킹 목표 높이(z), 상기 마킹 목표 위치 및 마킹 목표 높이에 매칭되는 마킹 정보 및 마킹 동작의 시작을 입력하기 위한 입력부(100); 지지대(10)에 의해 지지되는 마킹 대상체(20)의 실제 높이를 측정하는 높이 측정 센서(200); 상기 입력부(100)를 통한 마킹 목표 위치(x,y)별로, 상기 높이 측정 센서(200)에 의해 상기 마킹 대상체의 실제 높이를 인식하여, 상기 마킹 대상체를 마킹 목표 위치(x,y) 및 마킹 목표 높이(z)로 제어하고, 이후에 마킹 정보의 마킹을 제어하는 마킹 제어부(300); 상기 마킹 제어부(300)의 제어에 따라 상기 마킹 대상체(10)를 마킹 목표 위치(x,y) 및 마킹 목표 높이(z)로 조절하는 마킹 초점위치 조절부(400); 및 상기 마킹 제어부(300)의 제어에 따라 상기 마킹 초점위치 조절부에 의해 조절된 상기 마킹 대상체(20)에 상기 마킹 정보를 마킹하는 마킹 레이저(500)를 포함한다. 레이저, 마킹, 마킹 대상체, RF 모듈, EMC 패키지
Abstract:
본 발명은 빛의 투과를 차단할 수 있는 물질 위에 라벨을 마킹함으로써 라벨 마킹 시 자외선 또는 레이저에 의한 회로패턴의 손상을 방지하여 웨이퍼 레벨 패키지의 특성 및 신뢰성을 향상시킬 수 있는 웨이퍼 레벨 패키지 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 라벨 마킹, SAW, WLP, 에어 캐비티
Abstract:
본 발명은 사용자가 간편하게 입체적인 가상 공장을 생성할 수 있는 가상 공장 모델 생성 장치 및 방법에 관한 것으로, 공장 배치 정보를 입력받는 입력부; 사용자의 선택에 따라 상기 공장 배치 정보의 사전에 설정된 데이터 베이스를 제공하는 데이터 베이스부; 입력된 공장의 배치 정보에 따라 중립 파일을 생성하는 파일 생성부; 및 상기 파일 생성부의 중립 파일에 따라 공장 모델을 시뮬레이션하는 표시부를 포함하는 가상 공장 모델 생성 장치 및 방법을 제안한다.
Abstract:
The wafer level package and manufacturing method thereof are provided to prevent the damage of circuit pattern formed in the first substrate by blocking the ultraviolet ray or the laser penetration with the marking layer in the label marking process. The wafer level package comprises the first substrate(2), the second substrate(8), and the marking layer(14). The first substrate has the plurality of the circuit pattern(4) including the bonding pad. The second substrate has the connection pad(12) which faces with the bonding pad(4a). The second substrate is adhered on the first substrate and has the connection pad connected to the bonding pad with the conductive material in order to protect the circuit pattern from the external environment. The marking layer is comprised of the material in which the light is not transmitted and is laminated on the lower part of the first substrate or the upper part of the second substrate. The label is marked on the upper side or the lower surface of the marking layer by the ultraviolet ray or laser.
Abstract:
본 발명은 가상 공장 모델 자동 생성 시스템, 가상 공장 모델 자동 생성 방법, 가상 공장 모델 자동 시뮬레이션 시스템, 가상 공장 모델 자동 시뮬레이션 방법인쇄회로기판 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 가상 공장 모델 자동 생성 시스템은, 상의 공장 모델을 설계하기 위한 필요 정보를 입력하고, 사용자로 하여금 공장 모델 설계와 관련된 구성요소를 드로잉 베이스로 배치시킬 수 있게 한 입력부; 상기 입력부로부터 입력된 필요 정보 및 드로잉 베이스 정보를 해석하여 그 해석 결과인 해석 정보를 출력하는 제어부; 공장 모델 설계와 관련된 정보에 따라 항목별로 구분된 물리적 공간으로서의 중립스키마를 구성하고, 상기 해석 정보를 상기 중립스키마별로 분리 구성하여 가상 공장용 데이터로 변환 생성하는 데이터 변환부; 상기 데이터 변환부에서 변환 생성된 가상 공장용 데이터 및 공장에서의 인적, 물적 제원에 관한 정보가 저장된 데이터베이스로부터 추출된 데이터를 토대로, 가상의 공장 모델을 자동으로 생성하는 공장모델 생성부; 및 상기 공장모델 생성부, 상기 데이터 변환부 및 상기 제어부를 통하여 입력된 가상의 공장 모델을 디스플레이하는 디스플레이부;를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing a semiconductor package is provided to easily obtain marked information through a scanner by making information stored in an integrated production control system on the surface of a semiconductor package in a barcode type. CONSTITUTION: A printed circuit board is prepared(S110). Basic information for indentifying a semiconductor package is marked on a tag(S120). The basic information is stored in a storage medium(S130). The mounting process history of a semiconductor chip is stored in the storage medium(S140). The packaging process history of a semiconductor package is stored in the storage medium(S150). The information stored in the storage medium is marked on the semiconductor package in a barcode type(S160).
Abstract:
본 발명은 반도체 패키지 제조 방법에 관한 것으로, 인쇄회로기판을 마련하는 단계; 제조 대상인 반도체 패키지를 식별할 수 있는 기초 정보를 바코드화하여 태그에 마킹하는 단계; 상기 태그에 마킹된 바코드를 스캔하여 상기 기초 정보를 저장매체에 저장하는 단계; 상기 인쇄회로기판에 반도체 칩을 실장한 후, 상기 저장매체에 실장 공정 이력을 저장하는 단계; 상기 반도체 칩을 패키징하여 반도체 패키지를 형성한 후, 상기 저장매체에 패키징 공정 이력을 저장하는 단계; 및 상기 저장매체에 저장된 상기 기초 정보, 상기 실장 공정 이력 및 상기 패키징 공정 이력에 대한 정보를 바코드화하여 상기 반도체 패키지에 마킹하는 단계;를 포함함으로서, 스캐너를 이용하여 마킹된 정보를 쉽게 확인할 수 있고, 이로 인해 각각의 반도체 패키지에 대한 제조 이력의 추적관리가 가능하다. 마킹, 바코드, 생산이력 추적, 반도체 패키지
Abstract:
PURPOSE: A laser marking device is provided to improve marking visibility by automatically controlling a marking object so that the height of the marking object can be a marking target height. CONSTITUTION: A laser marking device is composed of an input part(100), a height measuring sensor(200), a marking control part(300), a marking position control part(400), and a marking laser(500). The input part inputs marking information and the start of making operation. The marking control part controls a marking object(20) to have a marking target position and a marking target height. The marking position control part controls the marking target position and the marking target height of the marking object depending on the marking control part.
Abstract:
A method for manufacturing a SAW(Surface Acoustic Wave) filter wafer level package is provided to improve reliability of products by securing bonding strength between the SAW filter and a substrate through external electrodes. A method for manufacturing a SAW filter wafer level package(100) includes the steps of: forming a plurality of via holes along a virtual cutting line on upper and lower substrates(110,120); patterning an IDT(Inter Digital Transducer) electrode on an outer surface of the upper substrate; forming a plurality of conductive via holes through the lower substrate; electrically connecting the IDT electrode and the conductive via holes by bump balls; bonding the upper and lower substrates by a sealing unit(140) to isolate the IDT electrode from the outside; forming a plurality of concave units on the outer surfaces of the bonded upper and lower substrates by cutting the upper and lower substrates along the virtual cutting line; forming conductive side electrodes(138) in the concave units; and forming a plurality of lower end electrodes(136) extending from ends of the conductive side electrodes to a lower end of the lower substrate to be electrically connected to the conductive via holes.
Abstract:
A package using a piezoelectric wafer and a fabrication method thereof are provided to increase the manufacturing yield of the package by discharging electricity through a grounding means, and to simplify the manufacturing process by using a via being used as a grounding means. A pattern is formed on a piezoelectric wafer(S110). The pattern is grounded(S120). A cap wafer is bonded with the piezoelectric wafer by covering the pattern(S130). The grounding process is performed before the bonding process. And the grounding state is kept during the bonding process, so as to discharge charges generated in the bonding process.