저손상 플라즈마 처리 장치
    7.
    发明授权
    저손상 플라즈마 처리 장치 有权
    低损耗等离子体加工设备

    公开(公告)号:KR101547066B1

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:KR1020140134751

    申请日:2014-10-07

    Abstract: 본 발명은 플라즈마 처리시 대상물체에 발생할 수 있는 손상을 방지하는 저손상 플라즈마 처리 장치를 개시한다. 본 발명에 따른 플라즈마 처리 장치는 소스 전극과 스테이지 사이에 배치되며, 도전체로 형성되고, 플라즈마 처리 장치에 구비된 진공 챔버와 전기적으로 절연 상태인 제1 그리드를 포함하여 이루어짐으로써, 불순물 입자 또는 너무 높은 에너지를 가진 플라즈마 입자에 의해 대상물체에 발생할 수 있는 손상을 방지한다.

    Abstract translation: 公开了一种低损伤等离子体处理装置,其防止在等离子体工艺中对目标的损坏。 根据本发明的等离子体处理装置包括:第一栅极,其布置在源电极和台之间并且由导体制成并且与等离子体处理装置中的真空室电绝缘。 因此,防止了由于杂质颗粒或具有非常高能量的等离子体颗粒而导致的目标物的损伤。

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