THROUGH-SILICON-VIA FABRICATION IN PLANAR QUANTUM DEVICES

    公开(公告)号:SG11202109843RA

    公开(公告)日:2021-10-28

    申请号:SG11202109843R

    申请日:2020-03-20

    Applicant: IBM

    Abstract: On a first superconducting layer deposited on a first surface of a substrate, a first component of a resonator is pattered. On a second superconducting layer deposited on a second surface of the substrate, a second component of the resonator is patterned. The first surface and the second surface are disposed relative to each other in a non-co-planar disposition. In the substrate, a recess is created, the recess extending from the first superconducting layer to the second superconducting layer. On an inner surface of the recess, a third superconducting layer is deposited, the third superconducting layer forming a superconducting path between the first superconducting layer and the second superconducting layer. Excess material of the third superconducting layer is removed from the first surface and the second surface, forming a completed through-silicon via (TSV).

    Fabricação de via através de silício em dispositivos quânticos planares

    公开(公告)号:BR112021021816A2

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:BR112021021816

    申请日:2020-03-20

    Applicant: IBM

    Abstract: fabricação de via através de silício em dispositivos quânticos planares. em uma primeira camada supercondutora (316) depositada em uma primeira superfície de um substrato (312), um primeiro componente de um ressonador é padronizado. em uma segunda camada supercondutora (326) depositada em uma segunda superfície do substrato (312), um segundo componente do ressonador é padronizado. a primeira superfície e a segunda superfície são dispostas em relação uma à outra em uma disposição não coplanar. no substrato, um recesso é criado, o recesso se estendendo da primeira camada supercondutora para a segunda camada supercondutora. em uma superfície interna do recesso, uma terceira camada supercondutora (322) é depositada, a terceira camada supercondutora formando um caminho supercondutor entre a primeira camada supercondutora e a segunda camada supercondutora. o excesso de material da terceira camada supercondutora é removido da primeira superfície e da segunda superfície, formando um uma via através de silício (tsv) completa(320).

    THROUGH-SILICON-VIA FABRICATION IN PLANAR QUANTUM DEVICES

    公开(公告)号:CA3137245A1

    公开(公告)日:2020-11-05

    申请号:CA3137245

    申请日:2020-03-20

    Applicant: IBM

    Abstract: On a first superconducting layer (316) deposited on a first surface of a substrate (312), a first component of a resonator is pattered. On a second superconducting layer (326) deposited on a second surface of the substrate (312), a second component of the resonator is patterned. The first surface and the second surface are disposed relative to each other in a non-co-planar disposition. In the substrate, a recess is created, the recess extending from the first superconducting layer to the second superconducting layer. On an inner surface of the recess, a third superconducting layer (322) is deposited, the third superconducting layer forming a superconducting path between the first superconducting layer and the second superconducting layer. Excess material of the third superconducting layer is removed from the first surface and the second surface, forming a completed through-silicon via TSV (320).

    Fabricação de via através de silício em dispositivos quânticos planares

    公开(公告)号:BR112021021816A8

    公开(公告)日:2022-01-18

    申请号:BR112021021816

    申请日:2020-03-20

    Applicant: IBM

    Abstract: fabricação de via através de silício em dispositivos quânticos planares. em uma primeira camada supercondutora (316) depositada em uma primeira superfície de um substrato (312), um primeiro componente de um ressonador é padronizado. em uma segunda camada supercondutora (326) depositada em uma segunda superfície do substrato (312), um segundo componente do ressonador é padronizado. a primeira superfície e a segunda superfície são dispostas em relação uma à outra em uma disposição não coplanar. no substrato, um recesso é criado, o recesso se estendendo da primeira camada supercondutora para a segunda camada supercondutora. em uma superfície interna do recesso, uma terceira camada supercondutora (322) é depositada, a terceira camada supercondutora formando um caminho supercondutor entre a primeira camada supercondutora e a segunda camada supercondutora. o excesso de material da terceira camada supercondutora é removido da primeira superfície e da segunda superfície, formando um uma via através de silício (tsv) completa(320).

    Through-silicon-via fabrication in planar quantum devices

    公开(公告)号:AU2020265711A1

    公开(公告)日:2021-09-30

    申请号:AU2020265711

    申请日:2020-03-20

    Applicant: IBM

    Abstract: On a first superconducting layer (316) deposited on a first surface of a substrate (312), a first component of a resonator is pattered. On a second superconducting layer (326) deposited on a second surface of the substrate (312), a second component of the resonator is patterned. The first surface and the second surface are disposed relative to each other in a non-co-planar disposition. In the substrate, a recess is created, the recess extending from the first superconducting layer to the second superconducting layer. On an inner surface of the recess, a third superconducting layer (322) is deposited, the third superconducting layer forming a superconducting path between the first superconducting layer and the second superconducting layer. Excess material of the third superconducting layer is removed from the first surface and the second surface, forming a completed through-silicon via TSV (320).

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