公开(公告)号：WO0209176A3

公开(公告)日：2002-05-10

申请号：PCT/EP0107782

申请日：2001-07-06

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG ,  DIEWALD WOLFGANG ,  MUEMMLER KLAUS

Inventor： DIEWALD WOLFGANG ,  MUEMMLER KLAUS

IPC: H01L21/027 ,  H01L21/02 ,  H01L23/544

CPC classification number: H01L23/544 ,  H01L2223/54426 ,  H01L2223/54453 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/12044 ,  H01L2924/00

Abstract: The invention relates to a method for applying adjusting marks on a semiconductor disk. A small part structure (3, 4) consisting a non-metal (2) is produced in an extensive metal layer (6) and the semiconductor disk is subsequently planed in said region with the help of chemical and mechanical polishing. The structural sizes in the metal layer and the chemical-mechanical polishing process are adjusted to each other, in such a way that the small part non-metal structure protrudes above the extensive metal layer after polishing.

Abstract translation: 根据应用半导体晶片，非金属（2）中的一个上的对准标记，现有的小规模结构的本发明的方法（3，4）在一个大面积的金属层（6），然后平坦化，在用化学机械研磨的帮助这方面的半导体晶片， 其中所述结构变量在金属层和化学机械抛光工艺协调以彼此，使得抛光工艺之后进行的大面积的金属层的小规模结构的非金属起飞。

公开(公告)号：DE102019122614B4

公开(公告)日：2025-05-15

申请号：DE102019122614

申请日：2019-08-22

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： RIESKE RALF ,  BINTER ALEXANDER ,  DIEWALD WOLFGANG ,  GOLLER BERNHARD ,  GRAF HEIMO ,  LACKNER GERALD ,  RICHTER JAN ,  RUPP ROLAND ,  SCHAGERL GÜNTER ,  SWOBODA MARKO

IPC: H01L21/304

Abstract: Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung, wobei das Verfahren aufweist:Bereitstellen eines Ausgangssubstrats (100), das ein zentrales Gebiet (110) und ein Randgebiet (180) aufweist, wobei das Randgebiet (180) das zentrale Gebiet (110) umgibt;Ausbilden einer Ablöseschicht (150) im zentralen Gebiet (110), wobei sich die Ablöseschicht (150) parallel zu zwei horizontalen Hauptoberflächen (101, 102) des Ausgangssubstrats (100) erstreckt und wobei die Ablöseschicht (150) modifiziertes Substratmaterial aufweist; undAusbilden einer Vertiefung (190) im Randgebiet (180), wobei die Vertiefung (190) das zentrale Gebiet (110) lateral umschließt, wobei die Vertiefung (190) schräg zur Ablöseschicht (150) verläuft,wobei ein Ausbilden der Vertiefung (190) einen laserunterstützten Materialabtrag aufweist, wobei der laserunterstützte Materialabtrag ein Richten eines Laserstrahls (800) ganz oder teilweise auf eine laterale äußere Oberfläche (103) des Ausgangssubstrats (100) aufweist, wobei die laterale äußere Oberfläche (103) die beiden Hauptoberflächen (101, 102) verbindet und wobei ein Winkel zwischen einer Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls (800) und einer horizontalen Ebene zumindest 30 Grad beträgt.

公开(公告)号：DE102019122614A1

公开(公告)日：2021-02-25

申请号：DE102019122614

申请日：2019-08-22

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： RIESKE RALF ,  BINTER ALEXANDER ,  DIEWALD WOLFGANG ,  GOLLER BERNHARD ,  GRAF HEIMO ,  LACKNER GERALD ,  RICHTER JAN ,  RUPP ROLAND ,  SCHAGERL GÜNTER ,  SWOBODA MARKO

IPC: H01L21/304

Abstract: Bereitgestellt wird ein Ausgangssubstrat (100), das ein zentrales Gebiet (110) und ein Randgebiet (180) umfasst. Das Randgebiet (180) umgibt das zentrale Gebiet (110). Im zentralen Gebiet (110) ist eine Ablöseschicht (150) ausgebildet. Die Ablöseschicht (150) erstreckt sich parallel zu einer Hauptoberfläche (101, 102) des Ausgangssubstrats (100). Die Ablöseschicht (150) enthält modifiziertes Substratmaterial. Eine Vertiefung (190) ist im Randgebiet (180) ausgebildet. Die Vertiefung (190) umschließt lateral das zentrale Gebiet (110). Die Vertiefung (190) verläuft vertikal und/oder geneigt zur Ablöseschicht (150).

公开(公告)号：DE10037446A1

公开(公告)日：2002-02-14

申请号：DE10037446

申请日：2000-07-26

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： DIEWALD WOLFGANG ,  MUEMMLER KLAUS

IPC: H01L21/027 ,  H01L21/02 ,  H01L23/544 ,  H01L21/306 ,  G03F7/20

Abstract: The invention relates to a method for applying adjusting marks on a semiconductor disk. A small part structure consisting a non-metal is produced in an extensive metal layer and the semiconductor disk is subsequently planed in said region with the help of chemical and mechanical polishing. The structural sizes in the metal layer and the chemical-mechanical polishing process are adjusted to each other, in such a way that the small part non-metal structure protrudes above the extensive metal layer after polishing.