AUSGANGSSUBSTRAT, WAFER-VERBUND UND VERFAHREN ZUM HERSTELLEN VON KRISTALLINEN SUBSTRATEN UND HALBLEITERVORRICHTUNGEN

    公开(公告)号:DE102019122614B4

    公开(公告)日:2025-05-15

    申请号:DE102019122614

    申请日:2019-08-22

    Abstract: Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung, wobei das Verfahren aufweist:Bereitstellen eines Ausgangssubstrats (100), das ein zentrales Gebiet (110) und ein Randgebiet (180) aufweist, wobei das Randgebiet (180) das zentrale Gebiet (110) umgibt;Ausbilden einer Ablöseschicht (150) im zentralen Gebiet (110), wobei sich die Ablöseschicht (150) parallel zu zwei horizontalen Hauptoberflächen (101, 102) des Ausgangssubstrats (100) erstreckt und wobei die Ablöseschicht (150) modifiziertes Substratmaterial aufweist; undAusbilden einer Vertiefung (190) im Randgebiet (180), wobei die Vertiefung (190) das zentrale Gebiet (110) lateral umschließt, wobei die Vertiefung (190) schräg zur Ablöseschicht (150) verläuft,wobei ein Ausbilden der Vertiefung (190) einen laserunterstützten Materialabtrag aufweist, wobei der laserunterstützte Materialabtrag ein Richten eines Laserstrahls (800) ganz oder teilweise auf eine laterale äußere Oberfläche (103) des Ausgangssubstrats (100) aufweist, wobei die laterale äußere Oberfläche (103) die beiden Hauptoberflächen (101, 102) verbindet und wobei ein Winkel zwischen einer Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls (800) und einer horizontalen Ebene zumindest 30 Grad beträgt.

    Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung mindestens einer Modifikation in einem Festkörper

    公开(公告)号:DE102019205847A1

    公开(公告)日:2020-10-29

    申请号:DE102019205847

    申请日:2019-04-24

    Abstract: Es wird ein Verfahren zum Erzeugen von Modifikationen (1) im Inneren eines Festkörpers (2) angegeben. Das Verfahren umfasst ein Beaufschlagen eines Volumenanteils (8) des Festkörpers (2) mit Lichtwellen (10) unterschiedlicher Wellenlänge, wobei die Lichtwellen (10) teilweise an Oberflächen (4, 6) des Festkörpers (2) reflektiert werden. Mittels einer Sensoreinrichtung (12) werden zumindest teilweise Lichtparameter der reflektierten Lichtwellen (11) erfasst, wobei aus zumindest einem Teil der erfassten Lichtparameter Abstand-Informationen und/oder Intensität-Informationen ermittelt werden. Aus den Abstand-Informationen und/oder den Intensität-Informationen wird eine Dicke bzw. eine Transmission des Festkörpers in dem Volumenanteil (8) ermittelt. Das Verfahren umfasst ferner ein Einbringen von Laserstrahlung (14) in den Volumenanteil (8) zur Erzeugung von einer Modifikation (1) im Inneren des Festkörpers (2), wobei zumindest ein Laserparameter der Laserstrahlung (14) zumindest in Abhängigkeit der Dicke und/oder der Transmission des Volumenanteils (8) derart eingestellt wird, dass die Modifikation (1) einen vordefinierten Abstand zu einer Oberfläche (6) des Festkörpers aufweist.

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