一种二极管芯片结构及制备方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113224175A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110619706.6

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种二极管芯片结构及制备方法,该二极管包括N+衬底以及在其顶部依次层叠生长的N缓冲层和N‑外延区;所述N‑外延区的顶部外端镶嵌P+ring区,N‑外延区顶部内的中心区域为P base区,P base区周期性镶嵌有源P+区,P base区顶部制作金属化阳极,P+ring区顶部制作氧化硅,氧化硅顶部钝化硼磷硅玻璃,硼磷硅玻璃被氮化硅覆盖,N+衬底背面为金属化阴极。本发明利用N‑外延区底部的N缓冲层能缓冲空间电荷区扩展,减缓载流子反向抽取速度,使恢复特性得到软化。通过P base区周期性镶嵌有源P+区,能显著降低阳极注入效率,减少反向存储电荷和降低反向恢复时间,结终端为浮空场限环结构,使二极管的耐压能力增强,并降低器件反向漏电流。

    一种IGBT高抗振性能的封装
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116666374A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310793564.4

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明提供的一种IGBT高抗振性能的封装,包括陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板上印刷有三个图案相同的焊接区;其特征在于:底板,底板贴合固定在陶瓷覆铜板下端;塑料框架,塑料框架固定在底板上从侧面将盖板包围;功率端子和信号端子,多个功率端子和多个信号端子设在塑料框架的边缘上。本发明通过使用集成封装的六单元全桥IGBT模块代替三个并排安装的半桥模块投入使用,降低由于模块公差或装配误差导致的散热不稳定性;每个功率端子背面都有底板完全支撑,背面螺钉均匀分布,外界引起的振动很快可以传导到底板上,而底板是刚性的金属材料,抗振性能极佳,提高模块的抗振性能和可靠性提高。

    一种改善CVD表面缺陷的方法

    公开(公告)号:CN113270312A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110523983.7

    申请日:2021-05-13

    Abstract: 本发明公开了一种改善CVD表面缺陷的方法,包括以下步骤:把陪片与硅片进行清洗后,将两者的背面贴上白膜并放入CVD反应炉中进行化学气相沉淀过程,此过程分为两个阶段,第一阶段是使硅烷和一氧化二氮充满整个工艺腔,开始沉积为硅片做衬底;第二阶段是通入硅烷进行沉积,完成化学气相沉淀过程将两者取出,最后去除两者背面的白膜。所述白膜为耐高温的高分子塑料白膜,其光滑的高分子化合物使得硅片表面粗糙度进一步降低,并且白膜的粘性不会对硅片背面的氧化层造成影响,从而在化学气相沉淀过程中有效的抵挡住各种杂质,显著的减少CVD多晶硅中的雾状区域和颗粒数量。

    一种二极管芯片封装结构

    公开(公告)号:CN218730890U

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202221010772.X

    申请日:2022-04-28

    Abstract: 本实用新型提供了一种二极管芯片封装结构,包括管座;所述管座上加工有两个安装槽,两个安装槽的底部均安装有底板,底板的底部连接有引线,引线伸出管座的下端面外,一个底板上固定有管芯,管芯的顶部侧面为圆弧形槽管芯上固定有一个电极,另一个底板上固定有一个电极,两个电极之间通过引线连接,所述管座的顶端边缘固接有焊片,焊片为框型,焊片的顶端通过盖板封闭,所述管座的顶端还填充有硅橡胶。本实用新型通过在管芯PN接触一次使用SIPOS层、SIO2层、钝化玻璃层形成钝化层,有效保护PN结免受可动离子的沾污和外界条件对器件性能的影响;在封装时弧形的钝化层能够阻挡溢出的焊膏流出管芯的上表面,减少了后续的CVD和PVD工艺。

    体内击穿玻钝二极管
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217606826U

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202120933431.9

    申请日:2021-04-30

    Abstract: 本实用新型提供了一种体内击穿玻钝二极管,包括管芯、电极引线,电极引线设于管芯的两端,管芯与电极引线的外周包覆有钝化玻璃,管芯两端的电极引线分别伸出钝化玻璃;管芯的正面中部为P+突变结,围绕P+突变结设有一圈P区缓变结,P+突变结的端面设有铝片,管芯的背面为N+区扩散。本实用新型在管芯P面的中心位置装上铝片,在装电极引线、管芯烧焊时,P面与铝片又合金形成P+突变结,P面周围的区域仍然是P区缓变结;N型硅片衬底的背面形成N+区,与电极引线形成良好的欧姆接触;在相同衬底N区电阻率下,P区的反向击穿电压高于P+的的反向击穿电压;从而实现了体内击穿,大大提高了二极管的成品率及使用可靠性。

    一种IGBT高抗振性能的封装

    公开(公告)号:CN220106538U

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202321697256.3

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本实用新型提供的一种IGBT高抗振性能的封装,包括陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板上印刷有三个图案相同的焊接区;其特征在于:底板,底板贴合固定在陶瓷覆铜板下端;塑料框架,塑料框架固定在底板上从侧面将盖板包围;功率端子和信号端子,多个功率端子和多个信号端子设在塑料框架的边缘上。本实用新型通过使用集成封装的六单元全桥IGBT模块代替三个并排安装的半桥模块投入使用,降低由于模块公差或装配误差导致的散热不稳定性;每个功率端子背面都有底板完全支撑,背面螺钉均匀分布,外界引起的振动很快可以传导到底板上,而底板是刚性的金属材料,抗振性能极佳,提高模块的抗振性能和可靠性提高。

    一种二极管芯片结构
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN214588868U

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202121232344.7

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本实用新型公开了一种二极管芯片结构,该二极管包括N+衬底以及在其顶部依次层叠生长的N缓冲层和N‑外延区;所述N‑外延区的顶部外端镶嵌P+ring区,N‑外延区顶部内的中心区域为P base区,P base区周期性镶嵌有源P+区,P base区顶部制作金属化阳极,P+ring区顶部制作氧化硅,氧化硅顶部钝化硼磷硅玻璃,硼磷硅玻璃被氮化硅覆盖,N+衬底背面为金属化阴极。本实用新型利用N‑外延区底部的N缓冲层能缓冲空间电荷区扩展,减缓载流子反向抽取速度,使恢复特性得到软化。通过P base区周期性镶嵌有源P+区,能显著降低阳极注入效率,减少反向存储电荷和降低反向恢复时间,结终端为浮空场限环结构,使二极管的耐压能力增强,并降低器件反向漏电流。

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