一种沟槽型半导体桥芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN118729871A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410956445.0

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 一种沟槽型半导体桥芯片及其制备方法,属于火工品技术领域。包括N型硅衬底、二氧化硅层、正面图形多晶硅层、正面图形金属电极层。二氧化硅层的厚度为2000埃~20000埃,正面图形多晶硅层的厚度为10000埃~50000埃,正面图形金属电极层的厚度为10000埃~50000埃。在桥区的两侧边制作尖角形边缘缺口,在桥区两侧边除尖角形边缘缺口外的区域制作成蜂窝沟槽结构,通电后尖角形边缘缺口处及蜂窝沟槽结构的电流密度大大提高,快速形成焦耳热,快速形成等离子体放电。解决了半导体桥火工品发火时间及发火能量很难进一步降低,难以提升半导体桥火工品系统精确性、迅速性的问题。广泛于SCB火工品半导体桥芯片技术领域。

    一种能够承载超大电流的IGBT模块
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118712189A

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202410858685.7

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本发明提供的一种能够承载超大电流的IGBT模块;包括陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板设有多块相互独立的铜板;桥臂,每个桥臂均包含一个上桥臂和一个下桥臂,每个上桥臂和下桥臂分别通过三颗IGBT芯片和三颗FRD芯片组成;外壳,外壳相对的两侧设有若干功率端子;金属底板,金属底板的边缘交错加工有若干安装孔和外壳安装孔;每个桥臂分别单独设在一个陶瓷覆铜板上,上桥臂和下桥臂分别设在陶瓷覆铜板的两端,三个陶瓷覆铜板竖向并排固定在金属底板中部,外壳固定在金属底板的边缘将三个陶瓷覆铜板包围。模块的三个桥臂均通过三组IGBT芯片和FRD芯片并联而成,使模块能够承载更大的电流,并且在模块内设置了压敏电阻,使模块具有过压保护功能。

    一种大尺寸芯片烧焊质量检验装置

    公开(公告)号:CN116952745A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310556141.0

    申请日:2023-05-17

    Abstract: 本发明提供的一种大尺寸芯片烧焊质量检验装置,包括底座、安装板、夹具、折弯组件;所述安装板固定在底座上,夹具固定在安装板上,折弯组件铰接在夹具上,所述夹具包括装夹块,装夹块内加工有装夹槽,装夹槽内安装有推板,推板与螺纹推杆垂直连接,螺纹推杆通过螺纹装配在装夹块上,所述折弯组件包括连杆,连杆的一端通过转轴铰接在装夹块上,转轴上安装有第二滚筒,连杆上相邻于第二滚筒处安装有第一滚筒。本发明通过两个滚筒对芯片进行完全,使芯片在完全过程中均匀受力,所以能够对大于10mm2的芯片进行测试;通过推板可以调节芯片的高度,可以调节覆铜板的弯曲度和弯曲起始点,使装置能够适应多种规格的芯片。

    一种IGBT高抗振性能的封装
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116666374A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310793564.4

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明提供的一种IGBT高抗振性能的封装,包括陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板上印刷有三个图案相同的焊接区;其特征在于:底板,底板贴合固定在陶瓷覆铜板下端;塑料框架,塑料框架固定在底板上从侧面将盖板包围;功率端子和信号端子,多个功率端子和多个信号端子设在塑料框架的边缘上。本发明通过使用集成封装的六单元全桥IGBT模块代替三个并排安装的半桥模块投入使用,降低由于模块公差或装配误差导致的散热不稳定性;每个功率端子背面都有底板完全支撑,背面螺钉均匀分布,外界引起的振动很快可以传导到底板上,而底板是刚性的金属材料,抗振性能极佳,提高模块的抗振性能和可靠性提高。

    一种IGBT芯片及其制备方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116469917A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310616319.6

    申请日:2023-05-29

    Abstract: 本发明提供的一种IGBT芯片及其制备方法,包括漂移区;漂移区的正面中部加工有元胞组,元胞组的端面通过正面电极覆盖,漂移区的边缘加工有P+ring区,P+ring区的端面通过依次堆叠有场氧化层、SIN钝化层、PI钝化层,所述漂移区的背面依次加工有场截止区、P+背集电区、背部电极。本发明芯片背面的高能质子H+会形成具有电活性的杂质,结合芯片正面的低掺杂的Pbase和多晶硅栅、边缘的P+ring区,在不影响芯片静态参数的情况下,能有效减少载流子寿命,降低反向关断时间,缩短拖尾电流时间,降低器件关断损耗,从而提高芯片的高频开关表现。

    一种IGBT模块MJ封装结构及其封装工艺

    公开(公告)号:CN117316944A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202310901971.2

    申请日:2023-07-21

    Abstract: 本发明提供的一种IGBT模块MJ封装结构及其封装工艺,包括陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板上设有电路;桥臂,多个桥臂纵向布置,每个桥臂包含上桥臂和下桥臂,上桥臂和下桥臂分别通过一颗IGBT芯片和FRD芯片组成;金属底板,金属底板边缘设有信号端子;所述桥臂焊接在陶瓷覆铜板上,所述陶瓷覆铜板固定在金属底板中部,桥臂通过键合导线与信号端子连接;本发明通过采用贴片电阻,贴片电阻能够直接焊接在覆铜板上,不但简化了工艺还提高了产品的可靠性;并且IGBT芯片上的键合点的为“Z”字型排布,减少该模块内部杂散电感,提高开关特性,降低模块的开关损耗,并使模块避免了由于受内部杂散电感影响而产生开通或者关断的损坏现象。

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